本实用新型专利技术公开了一种基于光谱检测的反馈式光源控制装置，包括带功率调节的光源、光学平台、多个光谱强度测量传感器和控制机柜，其中光学平台的载物台平面被分割为4个区间，每个区间内设有一个测控点，载物平台的中心点处也设有一个测控点，每个测控点处均设有一个光谱强度测量传感器；多个光谱强度测量传感器采集测控点的光谱强度分布信号，控制机柜对各个光谱强度分布信号进行数据处理，并输出光源功率反馈调节信号给光源。本实用新型专利技术结构简单，制造成本低，可实现模块化；且使用简单，可实现光照强度和光谱强度的一致性、稳定性。
【技术实现步骤摘要】
本技术设及光源控制装置，尤其设及一种基于光谱检测的反馈式光源控制装 置。
技术介绍
目前，随着精密电子及光学工程技术的高速发展，对物方平面上光谱强度的一致 性和稳定性提出了越来越高的要求，因此，开发在物方平面上具有光谱强度一致性和稳定 性的光源控制装置就变的十分必要。传统的光源控制装置主要是基于物方平面上光照强度 的均匀性和稳定性，难W保证在整个物方平面上实现光谱分布的一致性和稳定性。
技术实现思路
为了弥补传统光源控制装置存在的不足，本技术提供了一种基于光谱强度测 量传感器的新型反馈式光源控制装置，该装置可W在物方平面上实现光谱强度的一致性和 稳定性，既有传统光源控制装置结构简单和成本低的优点，又具有可实现小型化、模块化、 高精度快速调节的优点。 本技术解决其技术问题所采用的技术方案是： 提供一种基于光谱检测的反馈式光源控制装置，包括带功率调节的光源、光学平 台、多个光谱强度测量传感器和控制机柜，其中光学平台的载物台平面被分割为4个区间， 每个区间内设有一个测控点，载物平台的中屯、点处也设有一个测控点，每个测控点处均设 有一个光谱强度测量传感器； 多个光谱强度测量传感器采集测控点的光谱强度分布信号，控制机柜对各个光谱 强度分布信号进行数据处理，并输出光源功率反馈调节信号给光源。 本技术所述的装置中，光学平台为专用气浮式+负压光学平台。 本技术所述的装置中，光谱强度测量传感器包括共轴的准直系统、小孔光阔、 透射光栅、会聚透镜和CCD相机。 本技术所述的装置中，光学平台的两端均设有带功率调节的光源。 本技术所述的装置中，带功率调节的光源为D65标准光源。 本技术产生的有益效果是：本技术通过多个光谱强度测量传感器采集载 物平台上多个测控点的光谱强度分布信号，再通过控制机柜输出光源功率反馈调节信号给 光源，对光源的功率进行调节。本技术结构简单，制造成本低，可实现模块化。且使用 简单，固定好各个结构后，该装置就可W完成对光源功率的调节，实现光照强度和光谱强度 的一致性、稳定性。【附图说明】 下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中： 图1是工作原理示意图； 图2是本技术实施例基于光谱强度测量传感器的结构示意图； 图3是光谱强度测量传感器的结构示意图。【具体实施方式】 为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，W下结合附图及实施 例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用W解释本 技术，并不用于限定本技术。 本技术基于光谱强度测量传感器的新型反馈式光源控制装置，可W在物方平 面上实现光谱强度的一致性和稳定性，既有传统光源控制装置结构简单和成本低的优点， 又具有可实现小型化、模块化、高精度快速调节的优点。 工作原理； 本技术将光谱强度分布的空间差分值作为依据，调整光源输出功率W及灯箱 的姿态，其工作原理示意图如图1所示。 在检测平台上布置有5个测控点（0、I、II、III、IV)，将载物台平面分割为4个区 间。光谱强度测量传感器采集5路测控点的光谱强度分布f(A1)，分别对4个区间的信号 与测控中屯、点0处的信号进行差分Af, (A1)，将差分值送积分器并按波长求和： W2。零'>=玄r娜理r[卿-細；皿谱 段0测控点的光谱强度规范化为100,设置AI的阔值判据AIt,当AI,〉AIt则调整相关 区间的光管输出功率。 阳〇2引 实施例： 本技术实施例基于光谱检测的反馈式光源控制装置如图2所示，包括带功率 调节的光源1、光学平台2、多个光谱强度测量传感器3和控制机柜4,其中光学平台2的载 物台平面被分割为4个区间每个区间内设有一个测控点，载物平台的中屯、点 0处也设有一个测控点，每个测控点处均设有一个光谱强度测量传感器3。 该控制机柜4包括工控机、光源检测抽屉和电源抽屉，其中电源抽屉为整个装置 供电。多个光谱强度测量传感器3采集测控点的光谱强度分布信号，光源检测抽屉对各个 光谱强度分布信号进行数据处理，并通过工控机输出光源功率反馈调节信号给光源1。 其中，光源1可选用D65标准光源，该光源可为物方平面提供在可见光谱段内近 CIE标准光源强度及光谱照明环境，在空间照度均匀性，能量、光谱分布特性、稳定性和重复 性等方面满足光源控制装置的要求且光源的功率可W调节。光学平台2可选用专用气浮式+负压光学平台。[002引光谱强度测量传感器3的结构如下图3所示，包括共轴的准直系统31、小孔光阔 32、透射光栅33、会聚透镜34和CCD相机35。光源1福射出的光线经过准直系统31照射 到多缝透射光栅上时，发生衍射效应，不同频率的光波会产生不同的衍射角，形成一组平行 的衍射条纹。经会聚透镜34会聚在线阵CCD相机35的祀面上，CCD相机35把光信号转化 为电荷信号，CCD相机35自带外部采样放大及模数转换电路，直接输出数字图像信号。 利用控制机柜中的工控机对CCD相机输出的数字图像信号进行数据处理和光源 功率反馈调节。 工作流程： 在光学平台上固定好仪器，启动光源15分钟，通过光谱强度测量传感器采集数 据，传输到工控机，通过判断Al,的值来调节灯管功率控制器。重复测量10次，当Al, >10 时，调节光源的输出功率，直到当AIj<l〇时，完成调节，装置停止工作。 实践证明，该技术装置具有W下优点： (1)该装置提高了传统光源控制装置精度。 (2)结构简单，制造成本低，可实现模块化。 (3)使用简单，固定好仪器，该装置可W完成对光源功率的调节，可W实现光照强 度和光谱强度的一致性、稳定性。 应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可W根据上述说明加W改进或变换， 而所有运些改进和变换都应属于本技术所附权利要求的保护范围。【主权项】1. 一种基于光谱检测的反馈式光源控制装置，其特征在于，包括带功率调节的光源 (1)、光学平台（2)、多个光谱强度测量传感器（3)和控制机柜（4); 其中，光学平台（2)的载物台平面被分割为4个区间，每个区间内设有一个测控点，载 物平台的中心点处也设有一个测控点，每个测控点处均设有一个光谱强度测量传感器（3); 多个光谱强度测量传感器（3)采集测控点的光谱强度分布信号； 控制机柜（4)对各个光谱强度分布信号进行数据处理，并输出光源功率反馈调节信号 给光源（1)。2. 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，光学平台（2)为专用气浮式+负压光学平 台。3. 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，光谱强度测量传感器（3)包括共轴的准直 系统、小孔光阑、透射光栅、会聚透镜和CXD相机。4. 根据权利要求1所述的装置，其特征在于，光学平台（2)的两端均设有带功率调节的 光源（1)。5. 根据权利要求4所述的装置，其特征在于，带功率调节的光源（1)为D65标准光源。【专利摘要】本技术公开了一种基于光谱检测的反馈式光源控制装置，包括带功率调节的光源、光学平台、多个光谱强度测量传感器和控制机柜，其中光学平台的载物台平面被分割为4个区间，每个区间内设有一个测控点，载物平台的中心点处也设有一个测控点，每个测控点处均设有一个光谱强度测量传感器；本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于光谱检测的反馈式光源控制装置，其特征在于，包括带功率调节的光源（1）、光学平台（2）、多个光谱强度测量传感器（3）和控制机柜（4）；其中，光学平台（2）的载物台平面被分割为4个区间，每个区间内设有一个测控点，载物平台的中心点处也设有一个测控点，每个测控点处均设有一个光谱强度测量传感器（3）；多个光谱强度测量传感器（3）采集测控点的光谱强度分布信号；控制机柜（4）对各个光谱强度分布信号进行数据处理，并输出光源功率反馈调节信号给光源（1）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈生奇，张文君，张智文，侯绿，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七一七研究所，
类型：新型
国别省市：湖北;42
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。