一种涂层测厚仪探头制造技术

本发明专利技术提供了一种涂层测厚仪探头，涂层测厚仪探头包括活动臂和与之相对应的壳体固定装置，活动臂两端分别设置有电磁测量端和电涡流测量端，活动臂和壳体固定装置轴连接；电磁测量端和电涡流测量端分别设置有压力传感器和电路板连接。活动臂和壳体固定装置之间设置有反弹自锁装置，包括设置在活动臂上的凸起和壳体固定装置上的凹槽，凹槽可将凸起锁住以固定活动臂。探头可以满足电磁测量需要和电涡流测量需要，第一感应线圈和第二感应线圈分别处于活动臂的两端互不干涉，从而使测量结果更为准确。测量过程中可根据压力传感器测的数值调节探头与测量材料间压力使之稳定保证测量结果准确性。在活动臂的两端还设置有弹性保护套对探头起到保护作用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及厚度测量仪器探头结构
，尤其涉及一种涂层测厚仪探头。
技术介绍
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，而涂层测厚仪探头则是其最为重要的部件，影响到测量效率及测量精度。根据测量原理，涂层测厚仪探头一般分为磁性测厚探头、涡流测厚探头、超声测厚探头。而应用最为广泛的则是磁性测厚探头和涡流测厚探头。电磁测厚探头是利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种涂层测厚仪探头，其特征在于：所述涂层测厚仪探头包括活动臂(1)和与之对称的壳体固定装置(14)，所述活动臂(1)和壳体固定装置(14)活动连接，所述活动臂(1)两端分别固定有电磁测量端(2)和电涡流测量端(8)，所述电磁测量端(2)和所述电涡流测量端(8)分别设置有第一压力传感器(19)和第二压力传感器(20)；所述活动臂(1)中设有电路板(6)，所述电路板(6)设置在所述活动臂(1)中间部分。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：居晓丽，朱小龙，苏亚东，
申请(专利权)人：海安迪斯凯瑞探测仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32