本发明专利技术公开了一种用于砂轮表面形貌的检测方法与系统，系统包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本发明专利技术将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及应用于光学表面形貌测量领域。
技术介绍
砂轮的表面形貌不同于一般工程材料:一般工程材料的表面通常由某一种材质构成、且具有典型的统计特征或统计规律，而砂轮则是由树脂或金属结合剂将高硬度磨粒附着在其表面形成的开放式多孔结构，这些磨粒通常为具有一定透明度的不规则多面体，形状、大小不一，在砂轮表面的分布规律不确定，磨削过程中又会出现磨粒磨损、破碎、脱落等现象，再加上磨粒和结合剂在材质、形态、颜色等方面存在极大的差异性等问题，导致砂轮的表面形貌非常复杂，是测量领域的典型测量难题之一。目前尚无专门针对砂轮表面形貌的测量仪器，已有测量方法在较好地获取砂轮表面的高度信息或二维横向信息，但是难以很好地表征砂轮表面的三维信息；同时，现有测量方法在进行三维形貌测量时，受限于电机和工作台的纵向扫描速度，导致测量速度无法进一步提高。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于砂轮表面形貌的检测方法与系统，其可很好地表征砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案:用于砂轮表面形貌的检测系统，包括沿光源发出光线的光路上依次设置的准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。所述微透镜阵列是一个由直径几百微米、焦距十几至几十微米的小透镜构成的阵列。用于砂轮表面形貌的检测方法，将光源发出的光束经过准直透镜后照射在反射镜表面，被反射后经过分光镜照射在微透镜阵列表面，被微透镜阵列色散、聚焦后形成色散光点阵列，并照射在待测砂轮表面；待测砂轮在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动，从而使色散光点阵列对整个待测砂轮表面进行扫描，在光轴方向上不做纵向扫描的前提下，获得待测砂轮表面的三维几何量信息。采用上述方案后，与已有技术相比，本专利技术有益效果体现在:将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。【附图说明】图1为本专利技术的结构示意图。【具体实施方式】本专利技术用于砂轮表面形貌的检测系统，如图1所示，包括沿光源I发出光线的光路上依次设置的准直透镜2、反射镜3、分光镜4和微透镜阵列5。待测砂轮6对应于微透镜阵列5的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴X上做一维横向往复移动，以及绕着此固定轴X做正反旋转运动。作为一种优选，此固定轴X可为待测砂轮6的中心轴。分光镜4分出的光路上依次设置有光阑7和CCD摄像机8，光阑7起着阻挡杂散光的作用，CCD摄像机8用于收集来自于待测砂轮6表面的反射光，并转化为电信号进行后续处理。本专利技术用于砂轮表面形貌的检测方法，通过如下方案实现:光源I发出的光束经过准直透镜2后形成平行光，此平行光照射在反射镜3的表面，被反射镜3反射后经过分光镜4照射在微透镜阵列5的表面，被微透镜阵列5色散、聚焦后形成色散光点阵列51，并照射在待测砂轮6表面；待测砂轮6在垂直于光轴的方向的一固定轴X上做一维横向往复移动，以及绕着此固定轴X做正反旋转运动，从而使色散光点阵列51对整个待测砂轮6的表面进行扫描，在光轴方向上不做纵向扫描的前提下，获得待测砂轮6表面的三维几何量信息。微透镜阵列5采用公知的微透镜阵列，其是一个由直径几百微米、焦距十几至几十微米的小透镜构成的阵列，这些小透镜可对光束进行沿光轴方向上的色散及聚焦；所述色散是光束通过透镜后，不同波长的光被聚焦在沿光轴方向的不同高度上。【主权项】1.用于砂轮表面形貌的检测系统，其特征在于:包括沿光源发出光线的光路上依次设置的准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。2.根据权利要求1所述的用于砂轮表面形貌的检测系统，其特征在于:所述微透镜阵列是一个由直径几百微米、焦距十几至几十微米的小透镜构成的阵列。3.用于砂轮表面形貌的检测方法，其特征在于:将光源发出的光束经过准直透镜后照射在反射镜表面，被反射后经过分光镜照射在微透镜阵列表面，被微透镜阵列色散、聚焦后形成色散光点阵列，并照射在待测砂轮表面；待测砂轮在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动，从而使色散光点阵列对整个待测砂轮表面进行扫描，在光轴方向上不做纵向扫描的前提下，获得待测砂轮表面的三维几何量信息。【专利摘要】本专利技术公开了一种用于砂轮表面形貌的检测方法与系统，系统包括沿光源发出光线的光路上依次设置准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。本专利技术将微透镜阵列作为并行光色散器件，所产生的色散光点阵列可同时对待测砂轮表面上的多点进行垂直于光轴方向的横向扫描，结合待测砂轮绕固定轴的旋转运动，在无需沿光轴方向做纵向扫描的前提下获得整个待测砂轮表面的三维几何量信息。从而可很好地表征待测砂轮表面的三维信息，并极大地提高了针对砂轮表面形貌的测量效率。【IPC分类】G01B11/24【公开号】CN105091785【申请号】CN201510500177【专利技术人】余卿, 崔长彩, 易定容, 章明, 孔令华, 叶瑞芳, 范伟, 王寅, 李煌, 张勇贞 【申请人】华侨大学【公开日】2015年11月25日【申请日】2015年8月14日本文档来自技高网...
【技术保护点】
用于砂轮表面形貌的检测系统，其特征在于：包括沿光源发出光线的光路上依次设置的准直透镜、反射镜、分光镜和微透镜阵列；待测砂轮对应于微透镜阵列的出射侧设置，并在垂直于光轴的方向的一固定轴上做一维横向移动，以及绕着此固定轴做旋转运动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：余卿，崔长彩，易定容，章明，孔令华，叶瑞芳，范伟，王寅，李煌，张勇贞，
申请(专利权)人：华侨大学，
类型：发明
国别省市：福建;35
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