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一种实验室抛光用试样支架的使用方法技术

技术编号:12403489 阅读:78 留言:0更新日期:2015-11-28 17:46
一种实验室抛光用试样支架的使用方法,以解决现有实验室或工厂检测室一般都是采用人工抛光,需人一直拿着试样在抛光机上抛光,费时费力的问题。所述支架包括桌边夹具、第一支杆、第二支杆和试样夹头;首先,将桌边夹头固定在桌子的边缘,将第一支杆的一端固定在桌边夹具上,第一支杆的另一端与第二支杆的一端相铰接,第二支杆的另一端还与试样夹头相铰接;将试样固定在试样夹头上,调整第二支杆和试样夹头,使试样的待抛光面贴紧在抛光机的研磨布上;启动抛光机对试样进行抛光;抛光结束后,将试样从试样夹头上取下即可。本发明专利技术用于抛光技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种抛光试样支架的使用方法,属于实验室抛光领域。
技术介绍
对金属材料的性能分析,主要包括对金属材料的力学性能以及其内部显微组织的分析两方面。而无论是实验室还是企业,显微组织分析离不开金相显微镜和扫描电镜,制作这两种电镜的观察试样就必须用到抛光机,但现有实验室或工厂检测室一般都是采用人工抛光,需人一直拿着试样在抛光机上抛光,费时费力。
技术实现思路
本专利技术的目的在于:提供,以解决现有实验室或工厂检测室一般都是米用人工抛光,需人一直拿着试样在抛光机上抛光,费时费力的问题。本专利技术的方案如下:,所述支架包括桌边夹具、第一支杆、第二支杆和试样夹头; 首先,将桌边夹头固定在桌子的边缘,将第一支杆的一端固定在桌边夹具上,第一支杆的另一端与第二支杆的一端相铰接,第二支杆的另一端还与试样夹头相铰接; 将试样固定在试样夹头上,调整第二支杆和试样夹头,使试样的待抛光面贴紧在抛光机的研磨布上; 启动抛光机对试样进行抛光; 抛光结束后,将试样从试样夹头上取下即可。第一支杆通过第一万向铰固定于桌边夹具上。第一支杆与第二支杆之间通过第二万向铰相连。试样夹头与第二支架之间通过第三万向铰相连。所述桌边夹具为桌边夹。本专利技术与现有技术相比,主要优点是通过调节抛光试样支架,选择适当角度使试样在抛光机上进行抛光,代替人力抛光,节约的大量人力,且所述抛光试样支架结构简单,成本低,适宜大规模使用。【附图说明】图1是本专利技术中的试样支架安装在研磨机桌子上的结构示意图。【具体实施方式】为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述, 结合图1,本专利技术实施例提供,所述支架包括桌边夹具1、第一支杆2、第二支杆3和试样夹头4 ; 首先,将桌边夹头I固定在桌子10的边缘,将第一支杆2的一端固定在桌边夹具I上,第一支杆2的另一端与第二支杆3的一端相铰接,第二支杆3的另一端还与试样夹头4相钦接; 将试样11固定在试样夹头4上,调整第二支杆3和试样夹头4,使试样11的待抛光面贴紧在抛光机12的研磨布上; 启动抛光机12对试样11进行抛光; 抛光结束后,将试样11从试样夹头4上取下即可。优选地,第一支杆2通过第一万向铰5固定于桌边夹具I上。优选地,第一支杆2与第二支杆3之间通过第二万向铰6相连。优选地,试样夹头4与第二支架3之间通过第三万向铰7相连,试样11固定在试样夹头4的下端,便于调节支架使试样11的抛光面贴紧在研磨机12的研磨布上。桌边夹具I优选为桌边夹,用于将支架整体固定在桌子10上。【主权项】1.,所述支架包括桌边夹具(I)、第一支杆(2 )、第二支杆(3 )和试样夹头(4 ),其特征在于: 首先,将桌边夹头(I)固定在桌子(10)的边缘,将第一支杆(2)的一端固定在桌边夹具(I)上,第一支杆(2)的另一端与第二支杆(3)的一端相铰接,第二支杆(3)的另一端还与试样夹头(4)相铰接; 将试样(11)固定在试样夹头(4)上,调整第二支杆(3)和试样夹头(4),使试样(11)的待抛光面贴紧在抛光机(12)的研磨布上; 启动抛光机(12)对试样(11)进行抛光; 抛光结束后,将试样(11)从试样夹头(4)上取下即可。2.根据权利要求1所述,其特征在于:第一支杆(2)通过第一万向铰(5)固定于桌边夹具(I)上。3.根据权利要求1所述,其特征在于:第一支杆(2)与第二支杆(3)之间通过第二万向铰(6)相连。4.根据权利要求1所述,其特征在于:试样夹头(4)与第二支架(3)之间通过第三万向铰(7)相连。5.根据权利要求1所述,其特征在于:所述桌边夹具(I)为桌边夹。【专利摘要】,以解决现有实验室或工厂检测室一般都是采用人工抛光,需人一直拿着试样在抛光机上抛光,费时费力的问题。所述支架包括桌边夹具、第一支杆、第二支杆和试样夹头;首先,将桌边夹头固定在桌子的边缘,将第一支杆的一端固定在桌边夹具上,第一支杆的另一端与第二支杆的一端相铰接,第二支杆的另一端还与试样夹头相铰接;将试样固定在试样夹头上,调整第二支杆和试样夹头,使试样的待抛光面贴紧在抛光机的研磨布上;启动抛光机对试样进行抛光;抛光结束后,将试样从试样夹头上取下即可。本专利技术用于抛光
【IPC分类】B24B41/06【公开号】CN105081968【申请号】CN201410203833【专利技术人】钱虎 【申请人】钱虎【公开日】2015年11月25日【申请日】2014年5月15日本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种实验室抛光用试样支架的使用方法,所述支架包括桌边夹具(1)、第一支杆(2)、第二支杆(3)和试样夹头(4),其特征在于:首先,将桌边夹头(1)固定在桌子(10)的边缘,将第一支杆(2)的一端固定在桌边夹具(1)上,第一支杆(2)的另一端与第二支杆(3)的一端相铰接,第二支杆(3)的另一端还与试样夹头(4)相铰接;将试样(11)固定在试样夹头(4)上,调整第二支杆(3)和试样夹头(4),使试样(11)的待抛光面贴紧在抛光机(12)的研磨布上;启动抛光机(12)对试样(11)进行抛光;抛光结束后,将试样(11)从试样夹头(4)上取下即可。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:钱虎
申请(专利权)人:钱虎
类型:发明
国别省市:贵州;52

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