μ介子断层扫描检查中的初级和次级扫描制造技术

用于使用宇宙射线产生的μ介子检查对象的技术和系统，其基于所有对象的初步扫描以及由初步扫描确定为潜在包括一个或多个可疑区域的对象的额外扫描。在一个实施方式中，系统可以包括用于执行初步或初级扫描的初级扫描器，以及用于额外或次级扫描的较小的次级扫描器，用于提供有效的和准确的对象的检查，同时维持检查的希望吞吐量。在另一实施方式中，可以使用单个扫描器执行初步扫描和额外扫描两者，同时维持受检查对象的线路的足够吞吐量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利说明】μ介子断层扫描检查中的初级和次级扫描相关申请的交叉引用本专利文件要求于2012年8月21日提交的题为“PRIMARY AND SECONDARYSCANNING IN MUON TOMOGRAPHY INSPECT10N( μ介子断层扫描检查中的初级和次级扫描)”的美国临时专利申请号61/691,642的优先权。通过引用并入上述专利申请的整个内容作为本申请的公开的一部分。
本专利文件涉及包括基于宇宙μ介子射线的μ介子断层扫描的粒子探测(detect1n)，以及在用于包括安全和入口监控的各种用途的对象、货物、车辆、集装箱和其他的检查(inspect1n)中的应用。
技术介绍
可以通过各种方法探测具有高原子量的材料(诸如核材料)。一种值得注意的技术是μ介子断层扫描，其利用高穿透性宇宙射线产生的μ介子的散射以执行材料的无损检查，而无需使用人工辐射。地球被来自外太空的能量稳定粒子(主要为质子)连续轰击。这些粒子与上层大气中的原子相互作用，以产生粒子的倾泻(shower)，该粒子包括衰变产生更长寿命的μ介子的短寿命介子。μ介子主要通过库伦力与物质相互作用，而没有核相互作用。μ介本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于基于使用宇宙射线产生的μ介子的μ介子断层扫描检查对象的方法，包括：在第一成像持续时间，操作包括位置敏感带电粒子探测器的第一μ介子断层扫描扫描器执行受检查对象的成像扫描，以获得整个对象的第一μ介子断层扫描图像；处理所述整个对象的第一μ介子断层扫描图像，以获得对象内部的信息；当所述第一μ介子断层扫描图像的处理显示对象内部没有可疑区域时，生成通过信号，以设置所述第一μ介子断层扫描扫描器准备接收下一个用于检查的对象；当所述第一μ介子断层扫描图像的处理显示对象内部的一个或多个可疑区域时，从所述第一μ介子断层扫描扫描器移除对象以将对象放置在第二、分离的μ介子断层扫描扫描器中，在比所述第一成像持续时...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：MJ索桑，S麦肯尼，R惠伦，G布兰皮德，A莱霍维克，P库尔纳迪，
申请(专利权)人：决策科学国际公司，
类型：发明
国别省市：美国;US