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μ介子断层扫描检查中的初级和次级扫描制造技术
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文档序号:12339984
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用于使用宇宙射线产生的μ介子检查对象的技术和系统,其基于所有对象的初步扫描以及由初步扫描确定为潜在包括一个或多个可疑区域的对象的额外扫描。在一个实施方式中,系统可以包括用于执行初步或初级扫描的初级扫描器,以及用于额外或次级扫描的较小的次级扫...
该专利属于决策科学国际公司所有,仅供学习研究参考,未经过决策科学国际公司授权不得商用。
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