【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于轴承保持架精密检测领域,具体涉及一种基于误差分离技术的轴承保 持架运动轨迹测量方法。 技术背景 保持架作为轴承的重要组成部分,其运行状况的良好与否会直接影响主轴承的回 转误差,从而影响主轴的加工精度,因此对于高精度机床主轴承的研究需要多方面的考虑 保持架的运行情况。在机床高速主轴等高精度工况要求条件下,轴承的正常回转要求保持 架有很高的稳定性,对于高速精密机床加工精度的影响中,主轴承保持架作为回转零件的 重要部分,其轴心轨迹直接影响整个主轴的回转误差,进而对机械零件的加工精度导致严 重误差。保持架的轴心轨迹是基于保持架作为回转机械零件,对判断机器在线运转情况,分 析机械零件加工精度,预测高温、高速、高精度主轴承运行情况提供重要依据。 误差分离技术是精密检测领域的一种先进技术,该技术能够将被测工件的误差与 测量仪器自身的误差相分离,运用这种方法测量时被测工件既是被测对象又是测量基准, 以此消除测量仪器自身的运动精度对被测对象的影响,从而提高零件的测量精度。 目前对保持架运动轨迹的研究已经取得了很多进步,有些研究者通过特殊的测量 方案对保持架 ...
【技术保护点】
一种基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,包括如下步骤:1)测量保持架径向平面内保持架轴心沿X和Y方向上的平移分量dX、dY;2)根据保持架半径R及平移分量dX、dY,计算保持架在X、Y方向上的平移自由度x、y;3)设置位移传感器,并记录位移传感器在X‑Y坐标系中的位置(xAm,yAm)、传感器测量值dAm,采用误差分离技术分离出保持架端面形貌误差δ(θm),其中,m表示传感器的编号,θm为从轴心到传感器测量点方向与X轴方向的夹角;4)根据步骤3)中的位移传感器位置(xAm,yAm)、传感器测量值dAm及保持架端面形貌误差δ(θm),计算出保持架饶X和Y ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李济顺,马喜强,赵振旗,薛玉君,杨芳,隋新,余永健,刘春阳,司东宏,马伟,李占立,陈振强,周元坤,司卓一,
申请(专利权)人:河南科技大学,
类型:发明
国别省市:河南;41
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