本实用新型专利技术涉及一种CPS主接触器短路测试装置，包括测试架、短路线圈、铁芯、止位杆、导杆、接触桥和静触头，短路线圈置于测试架的上方，测试架的一端设置有输入电端，输入电端与短路线圈连接，铁芯置于短路线圈内，止位杆的置于短路线圈的下方，且铁芯向下伸出短路线圈并抵触止位杆，导杆可竖直移动的置于止位杆的一端，且导杆与止位杆联动，接触桥固定连接在导杆的下端，静触头置于导杆的一侧，静触头与短路线圈连接，且静触头处于接触桥的上方，测试架靠近输入电端的一端设置有输出电端，输出电端与静触头连接，接触桥和静触头之间相接处的一面均设置有银点。相对现有技术，本实用新型专利技术银点不易受损、开关不易升温、提高开关使用性能。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试
，特别涉及一种CPS主接触器短路测试装置。
技术介绍
现有技术中，由于接触桥与静触头分开瞬间产生强大的电弧使得银点损伤严重，导致开关在使用过程中主接触器部分温升过高甚至发生开关烧毁现象。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种银点不易受损、开关不易升温、提高开关使用性能的CPS主接触器短路测试装置。本技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种CPS主接触器短路测试装置，包括测试架、短路线圈、铁芯、止位杆、导杆、接触桥和静触头，所述短路线圈置于所述测试架的上方，所述测试架的一端设置有输入电端，所述输入电端与所述短路线圈连接，所述铁芯置于所述短路线圈内，所述止位杆的置于所述短路线圈的下方，且所述铁芯向下伸出所述短路线圈并抵触所述止位杆，所述导杆可竖直移动的置于所述止位杆的一端，且所述导杆与所述止位杆联动，所述接触桥固定连接在所述导杆的下端，所述静触头置于所述导杆的一侧，所述静触头与所述短路线圈连接，且所述静触头处于所述接触桥6的上方，所述测试架靠近所述输入电端的一端设置有输出电端，所述输出电端与所述静触头连接，所述接触桥和静触头之间相接处的一面均设置有银点。进一步，所述静触头设置有两个，两个所述静触头分别置于所述导杆的两侧，且两个所述静触头均处于所述接触桥的上方。本技术的有益效果是:电流从输入电端输入，电流依次经过短路线圈和静触头，再经输出电端输出，电流在经过短路线圈过程中产生磁场，磁场控制电芯向下移动，电芯控制止位杆下压，止位杆通过导杆控制接触桥与静触头断开；实现测试过程中电流不经流银点，避免接触桥与静触头断开瞬间产生强大的电弧使得银点损伤严重，极大提高了开关使用性能。【附图说明】图1为本技术一种CPS主接触器短路测试装置的结构示意图；图2为导杆螺孔、接触桥、静触头和银点的结构示意图。附图中，各标号所代表的部件列表如下:1、测试架，2、短路线圈，3、铁芯，4、止位杆，5、导杆，6、接触桥，7、静触头，8、输入电?而，9、输出电?而，1、银点。【具体实施方式】以下结合附图对本技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本技术，并非用于限定本技术的范围。如图1和图2所示，一种CPS主接触器短路测试装置，包括测试架1、短路线圈2、铁芯3、止位杆4、导杆5、接触桥6和静触头7，所述短路线圈2置于所述测试架I的上方，所述测试架I的一端设置有输入电端8，所述输入电端8与所述短路线圈2连接，所述铁芯3置于所述短路线圈2内，所述止位杆4的置于所述短路线圈2的下方，且所述铁芯3向下伸出所述短路线圈2并抵触所述止位杆4，所述导杆5可竖直移动的置于所述止位杆4的一端，且所述导杆5与所述止位杆4联动，所述接触桥6固定连接在所述导杆5的下端，所述静触头7置于所述导杆5的一侧，所述静触头7与所述短路线圈2连接，且所述静触头7处于所述接触桥6的上方，所述测试架I靠近所述输入电端8的一端设置有输出电端9，所述输出电端8与所述静触头7连接，所述接触桥6和静触头7之间相接处的一面均设置有银点10。所述静触头7设置有两个，两个所述静触头7分别置于所述导杆5的两侧，且两个所述静触头7均处于所述接触桥6的上方。所述接触桥6和静触头7之间相对的一面均设置有银点10。本装置的运作原理:电流从输入电端8输入，电流依次经过短路线圈2和静触头7，再经输出电端9输出；电流在经过短路线圈2过程中产生磁场，磁场控制电芯3向下移动，电芯3控制止位杆4下压，止位杆4通过导杆5控制接触桥6与静触头7断开；实现测试过程中电流不经流银点10，避免接触桥6与静触头7断开瞬间产生强大的电弧使得银点损伤严重，极大提高了开关使用性能。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种CPS主接触器短路测试装置，其特征在于:包括测试架(I)、短路线圈(2)、铁芯(3)、止位杆(4)、导杆(5)、接触桥(6)和静触头(7)，所述短路线圈⑵置于所述测试架(1)的上方，所述测试架(I)的一端设置有输入电端(8)，所述输入电端(8)与所述短路线圈(2)连接，所述铁芯(3)置于所述短路线圈(2)内，所述止位杆(4)的置于所述短路线圈(2)的下方，且所述铁芯(3)向下伸出所述短路线圈(2)并抵触所述止位杆(4)，所述导杆(5)可竖直移动的置于所述止位杆(4)的一端，且所述导杆(5)与所述止位杆(4)联动，所述接触桥(6)固定连接在所述导杆(5)的下端，所述静触头(7)置于所述导杆(5)的一侧，所述静触头(7)与所述短路线圈(2)连接，且所述静触头(7)处于所述接触桥(6)的上方，所述测试架(I)靠近所述输入电端(8)的一端设置有输出电端(9)，所述输出电端(8)与所述静触头(7)连接，所述接触桥(6)和静触头(7)之间相接处的一面均设置有银点(10)。2.根据权利要求1所述一种CPS主接触器短路测试装置，其特征在于:所述静触头(7)设置有两个，两个所述静触头(7)分别置于所述导杆(5)的两侧，且两个所述静触头(7)均处于所述接触桥出)的上方。【专利摘要】本技术涉及一种CPS主接触器短路测试装置，包括测试架、短路线圈、铁芯、止位杆、导杆、接触桥和静触头，短路线圈置于测试架的上方，测试架的一端设置有输入电端，输入电端与短路线圈连接，铁芯置于短路线圈内，止位杆的置于短路线圈的下方，且铁芯向下伸出短路线圈并抵触止位杆，导杆可竖直移动的置于止位杆的一端，且导杆与止位杆联动，接触桥固定连接在导杆的下端，静触头置于导杆的一侧，静触头与短路线圈连接，且静触头处于接触桥的上方，测试架靠近输入电端的一端设置有输出电端，输出电端与静触头连接，接触桥和静触头之间相接处的一面均设置有银点。相对现有技术，本技术银点不易受损、开关不易升温、提高开关使用性能。【IPC分类】G01R31/02【公开号】CN204731357【申请号】CN201520445872【专利技术人】张钧, 喻运平, 尚仁玲 【申请人】扬州新菱电器有限公司【公开日】2015年10月28日【申请日】2015年6月25日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种CPS主接触器短路测试装置，其特征在于：包括测试架(1)、短路线圈(2)、铁芯(3)、止位杆(4)、导杆(5)、接触桥(6)和静触头(7)，所述短路线圈(2)置于所述测试架(1)的上方，所述测试架(1)的一端设置有输入电端(8)，所述输入电端(8)与所述短路线圈(2)连接，所述铁芯(3)置于所述短路线圈(2)内，所述止位杆(4)的置于所述短路线圈(2)的下方，且所述铁芯(3)向下伸出所述短路线圈(2)并抵触所述止位杆(4)，所述导杆(5)可竖直移动的置于所述止位杆(4)的一端，且所述导杆(5)与所述止位杆(4)联动，所述接触桥(6)固定连接在所述导杆(5)的下端，所述静触头(7)置于所述导杆(5)的一侧，所述静触头(7)与所述短路线圈(2)连接，且所述静触头(7)处于所述接触桥(6)的上方，所述测试架(1)靠近所述输入电端(8)的一端设置有输出电端(9)，所述输出电端(8)与所述静触头(7)连接，所述接触桥(6)和静触头(7)之间相接处的一面均设置有银点(10)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张钧，喻运平，尚仁玲，
申请(专利权)人：扬州新菱电器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。