本实用新型专利技术公开一种便携式电容检测仪电路，包括芯片IC1、芯片IC2、二极管D1、电阻R1和电位器RP1，所述电阻R1的一端连接电阻R3~R9、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8、芯片IC2的引脚4和芯片IC2的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7，电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6。本实用新型专利技术便携式电容检测仪电路结构简单、元器件少，因此极大的降低了制作成本，同时设置了5个测量档位，测量范围达到0-2μF，并且通过表头进行指示，因此具有体积小、方便好用，测量精准的优点。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电容检测仪，具体是一种便携式电容检测仪电路。
技术介绍
电容器是电子设备中大量使用的电子元件之一，广泛应用于电路中的隔直通交，耦合，旁路，滤波，调谐回路，能量转换，控制等方面，尤其是近些年随着电子信息技术的日新月异，数码电子产品的更新换代速度越来越快，以平板电视、笔记本电脑、数码相机等产品为主的消费类电子产品产销量持续增长，更加带动了电容器产业增长，电容最重要的参数就是容值，因此准确的判断电容的容值是电子产业必不可少的技术，传统的电容值测量大多采用万能表进行，操作复杂，精度低，而专业的电容测量仪价格高昂，普及率低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种结构简单、测量精准的便携式电容检测仪电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案:一种便携式电容检测仪电路，包括芯片ICl、芯片IC2、二极管D1、电阻Rl和电位器RP1，所述电阻Rl的一端连接电阻R3~R9、电源VCC、芯片ICl的引脚4、芯片ICl的引脚8、芯片IC2的引脚4和芯片IC2的引脚8，电阻Rl的另一端连接电阻R2和芯片ICl的引脚7，电阻R2的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接电容C2、电容C4、芯片ICl的引脚I和芯片IC2的引脚I并接地，芯片ICl的引脚5连接电容C2的另一端，芯片ICl的引脚3连接电容C3，电容C3的另一端连接电阻R3的另一端和芯片IC2的引脚2，芯片IC2的引脚5连接电容C4的另一端，芯片IC2的引脚6连接芯片IC2的引脚7、待测电容C5和单刀多掷开关K的动端1，电阻R5的另一端连接单刀多掷开关K的动端2，电阻R6的另一端连接单刀多掷开关K的不动端3，电阻R7的另一端连接单刀多掷开关K的不动端4，电阻R8的另一端连接单刀多掷开关K的不动端5，电阻R9的另一端连接单刀多掷开关K的不动端6，待测电容C5的另一端接地，芯片IC2的引脚3连接电位器RPl的固定端和电位器RPl的滑动端，电位器RPl的另一个固定端连接表头A，表头A的另一端连接电阻R4的另一端、电位器RP2的固定端和电位器RP2的滑动端，电位器RP2的另一个固定端接地。作为本技术的优选方案:所述芯片ICl和芯片IC2的型号均为NE555。作为本技术的优选方案:所述电源VCC为9V直流电。作为本技术的优选方案:所述电阻R5的阻值为10ΜΩ，电阻R6的阻值为IM Ω，电阻R7的阻值为100K Ω，电阻R8的阻值为1K Ω，电阻R9的阻值为IK Ω。与现有技术相比，本技术的有益效果是:本技术便携式电容检测仪电路结构简单、元器件少，因此极大的降低了制作成本，同时设置了 5个测量档位，测量范围达到0-2 μ F，并且通过表头进行指示，因此具有体积小、方便好用，测量精准的优点。【附图说明】图1为便携式电容检测仪电路的电路图。【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1，一种便携式电容检测仪电路，包括芯片IC1、芯片IC2、二极管D1、电阻Rl和电位器RPl，所述电阻Rl的一端连接电阻R3~R9、电源VCC、芯片ICl的引脚4、芯片ICl的引脚8、芯片IC2的引脚4和芯片IC2的引脚8，电阻Rl的另一端连接电阻R2和芯片ICl的引脚7，电阻R2的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接电容C2、电容C4、芯片ICl的引脚I和芯片IC2的引脚I并接地，芯片ICl的引脚5连接电容C2的另一端，芯片ICl的引脚3连接电容C3，电容C3的另一端连接电阻R3的另一端和芯片IC2的引脚2，芯片IC2的引脚5连接电容C4的另一端，芯片IC2的引脚6连接芯片IC2的引脚7、待测电容C5和单刀多掷开关K的动端1，电阻R5的另一端连接单刀多掷开关K的动端2，电阻R6的另一端连接单刀多掷开关K的不动端3，电阻R7的另一端连接单刀多掷开关K的不动端4，电阻R8的另一端连接单刀多掷开关K的不动端5，电阻R9的另一端连接单刀多掷开关K的不动端6，待测电容C5的另一端接地，芯片IC2的引脚3连接电位器RPl的固定端和电位器RPl的滑动端，电位器RPl的另一个固定端连接表头A，表头A的另一端连接电阻R4的另一端、电位器RP2的固定端和电位器RP2的滑动端，电位器RP2的另一个固定端接地。芯片ICl和芯片IC2的型号均为NE555。电源VCC为9V直流电。电阻R5的阻值为1M Ω，电阻R6的阻值为IM Ω，电阻R7的阻值为100K Ω，电阻R8的阻值为1K Ω，电阻R9的阻值为IK Ω。本技术的工作原理是:电路中的芯片ICl、电阻R1、电阻R2和电容Cl组成无稳态多谐振荡器，其振荡频率为f=l.44/(Rl+2R2)*Cl，用芯片ICl输出的固定周期去触发芯片IC2，由于电阻R3平时为高电平，芯片IC2常处于复位状态，一旦低电平的微分脉冲到来来，芯片IC2置位，芯片IC2单稳态输出的宽度与待测电容C5的容量大小成正比，因此C5的值越大，则输出的平均电流值越大，反之，则小，用表头A指针的偏转大小表示待测电容C5容值的大小，电位器RPl和电位器RP2用于调节满偏和调零，单刀双掷开关K和电阻R5-R9用于进行量程的切换，量程由200pF-2yF之间进行切换改变。电路结构简单、元器件少，因此极大的降低了制作成本，同时设置了 5个测量档位，测量范围达到0-2 μ F，并且通过表头进行指示，因此具有体积小、方便好用，测量精准的优点。【主权项】1.一种便携式电容检测仪电路，包括芯片IC1、芯片IC2、二极管D1、电阻Rl和电位器RPl ;其特征在于，所述电阻Rl的一端连接电阻R3~R9、电源VCC、芯片ICl的引脚4、芯片ICl的引脚8、芯片IC2的引脚4和芯片IC2的引脚8，电阻Rl的另一端连接电阻R2和芯片ICl的引脚7，电阻R2的另一端连接电容Cl、芯片ICl的引脚2和芯片ICl的引脚6，电容Cl的另一端连接电容C2、电容C4、芯片ICl的引脚I和芯片IC2的引脚I并接地，芯片ICl的引脚5连接电容C2的另一端，芯片ICl的引脚3连接电容C3，电容C3的另一端连接电阻R3的另一端和芯片IC2的引脚2，芯片IC2的引脚5连接电容C4的另一端，芯片IC2的引脚6连接芯片IC2的引脚7、待测电容C5和单刀多掷开关K的动端1，电阻R5的另一端连接单刀多掷开关K的动端2，电阻R6的另一端连接单刀多掷开关K的不动端3，电阻R7的另一端连接单刀多掷开关K的不动端4，电阻R8的另一端连接单刀多掷开关K的不动端5，电阻R9的另一端连接单刀多掷开关K的不动端6，待测电容C5的另一端接地，芯片IC2的引脚3连接电位器RPl的固定端和电位器RPl的滑动端，电位器RPl的另一个固定端连接表头A，表头A的另一端连接电阻R4的另一端、电位器RP2的固定端和电位器RP2的滑动端，电位器RP2本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种便携式电容检测仪电路，包括芯片IC1、芯片IC2、二极管D1、电阻R1和电位器RP1；其特征在于，所述电阻R1的一端连接电阻R3~R9、电源VCC、芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8、芯片IC2的引脚4和芯片IC2的引脚8，电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7，电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6，电容C1的另一端连接电容C2、电容C4、芯片IC1的引脚1和芯片IC2的引脚1并接地，芯片IC1的引脚5连接电容C2的另一端，芯片IC1的引脚3连接电容C3，电容C3的另一端连接电阻R3的另一端和芯片IC2的引脚2，芯片IC2的引脚5连接电容C4的另一端，芯片IC2的引脚6连接芯片IC2的引脚7、待测电容C5和单刀多掷开关K的动端1，电阻R5的另一端连接单刀多掷开关K的动端2，电阻R6的另一端连接单刀多掷开关K的不动端3，电阻R7的另一端连接单刀多掷开关K的不动端4，电阻R8的另一端连接单刀多掷开关K的不动端5，电阻R9的另一端连接单刀多掷开关K的不动端6，待测电容C5的另一端接地，芯片IC2的引脚3连接电位器RP1的固定端和电位器RP1的滑动端，电位器RP1的另一个固定端连接表头A，表头A的另一端连接电阻R4的另一端、电位器RP2的固定端和电位器RP2的滑动端，电位器RP2的另一个固定端接地。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林紫晴，
申请(专利权)人：林紫晴，
类型：新型
国别省市：福建;35
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