【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】X射线照射源及X射线管
本专利技术涉及X射线照射源及X射线管。
技术介绍
一直以来,开发有以在具有X射线照射窗的筐体内组装入X射线管或高压产生模块等而构成的X射线照射源。例如在专利文献1所记载的工业用X射线产生装置中,升压电路的高压侧与X射线管的阴极相接近而配置。另外,例如在专利文献2所记载的软X射线产生装置中,在发射极(emitter)的表面设置有由规定的粒径的金刚石颗粒构成的薄膜。在该装置中,X射线管的筐体整体由铝形成,从而成为金属构件位于X射线管的阴极配置面的外侧的结构。在以上那样的X射线照射源中,从匹配与X射线管的供电端子的热膨胀系数的观点出发,考虑将例如碱石灰玻璃等的包含碱的玻璃使用于筐体的底板等。这样的玻璃的热膨胀系数接近于与配置于X射线管内的各种电极或密封材料的热膨胀系数,因此,可形成真空保持性能高的真空筐体。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2012-49123号公报专利文献2:日本特开2007-305565号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的问题然而,在将包含碱的玻璃使用于X射线管的筐体的情况下,若由被施加负的高电压的阴极等的高压部、与被施加低电压(或接地电位)的各种控制电路等的低压部夹持玻璃,则存在碱离子受高压部的电位牵引而自玻璃析出的情况。已知若产生这样的碱离子的析出,且碱离子附着于X射线管内的电极等,则由于各电极间的电位关系发生变化,因而会有产生无法保持所期望的X射线量等的不良状况的担忧。本专利技术是为了解决上述问题而完成的专利技术,其目的在于,提供通过抑制来自筐体的碱离子的析出,从而能够实现稳定的动作的X射线照射源及X射线管 ...
【技术保护点】
一种X射线照射源,其特征在于,包含:X射线管,其具有:阴极,其被施加负的高电压;靶,其通过来自所述阴极的电子的入射而产生X射线;及筐体,其收纳所述阴极与所述靶,并且具有使自所述靶产生的所述X射线向外部射出的输出窗;及电源部,其产生施加于所述阴极的所述负的高电压,所述筐体具有:窗用壁部,其设置有所述输出窗;及主体部,其与所述窗用壁部接合而形成收纳所述阴极及所述靶的收纳空间,所述主体部具有相对壁部,该相对壁部与所述窗用壁部相对地配置且由包含碱的玻璃形成,在所述相对壁部的外表面侧,配置有被施加与自所述电源部供给至所述阴极的所述负的高电压大致相同等的负的高电压的电场控制电极。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.01.29 JP 2013-0141741.一种X射线照射源,其特征在于,包含:X射线管,其具有:阴极,其被施加负的高电压;靶,其通过来自所述阴极的电子的入射而产生X射线;及筐体,其收纳所述阴极与所述靶,并且具有使自所述靶产生的所述X射线向外部射出的输出窗;及电源部,其产生施加于所述阴极的所述负的高电压,所述筐体具有:窗用壁部,其设置有所述输出窗;及主体部,其与所述窗用壁部接合而形成收纳所述阴极及所述靶的收纳空间,所述主体部具有相对壁部,该相对壁部与所述窗用壁部相对地配置且由包含碱的玻璃形成,在所述相对壁部的外表面侧,配置有被施加与自所述电源部供给至所述阴极的所述负的高电压相等的负的高电压的电场控制电极。2.如权利要求1所述的X射线照射源,其特征在于,所述阴极沿着所述相对壁部的内表面延伸,所述电场控制电极以与所述阴极相对的方式沿着所述相对壁部的外表面延伸。3.如权利要求1所述的X射线照射源,其特征在于,所述阴极的电子放出部从所述相对壁部分离,在所述电子放出部与所述相对壁部之间,被施加与自所述电源部供给至所述阴极的所述负的高电压相等的负的高电压的背面电极以与所述阴极相对的方式配置,所述电场控制电极以与所述背面电极相对的方式沿着所述相对壁部的外表面延伸。4.如权利要求2所述的X射线照射源,其特征在于,所述阴极的电子放出部从所述相对壁部分离,在所述电子放出部与所述相对壁部之间,被施加与自所述电源部供给至所述阴极的所述负的高电压相等的负的高电压的背面电极以与所述阴极相对的方式配置,所述电场控制电极以与所述背面电极相对的方式沿着所述相对壁部的外表面延伸。5.如权利要求1至4中任一项所述的X射线照射源,其特征在于,所述电场控制电极以覆盖所述相对壁部的外表面整体的方式配置。6.如权利要求1至4中任一项所述的X射线照射源,其特征在于,所述电场控制电极紧贴于所述相对壁部的外表面。7.如权利要求5所述的X射线照射源,其特征在于,所述电场控制电极紧贴于所述相对壁部的外表面。8.如权利要求1至4中任一项所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述筐体经由配置于所述电场控制电极与所述电路基板之间的绝缘性构件而载置于所述电路基板。9.如权利要求5所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述筐体经由配置于所述电场控制电极与所述电路基板之间的绝缘性构件而载置于所述电路基板。10.如权利要求6所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述筐体经由配置于所述电场控制电极与所述电路基板之间的绝缘性构件而载置于所述电路基板。11.如权利要求7所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述筐体经由配置于所述电场控制电极与所述电路基板之间的绝缘性构件而载置于所述电路基板。12.如权利要求1至4中的任一项所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述电场控制电极为形成于所述电路基板上的图案电极,所述筐体经由所述图案电极而载置于所述电路基板。13.如权利要求5所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述电场控制电极为形成于所述电路基板上的图案电极,所述筐体经由所述图案电极而载置于所述电路基板。14.如权利要求6所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述电场控制电极为形成于所述电路基板上的图案电极,所述筐体经由所述图案电极而载置于所述电路基板。15.如权利要求7所述的X射线照射源,其特征在于,还包含载置有所述电源部的电路基板,所述电场控制电极为形成于所述电...
【专利技术属性】
技术研发人员:仲村龙弥,小杉典正,奥村直树,佐藤义孝,松本晃,丸岛吉久,中村和仁,
申请(专利权)人:双叶电子工业株式会社,浜松光子学株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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