本公开是关于设备测试方法及装置，所述方法包括：获取设备中预设标志位的标志值；根据所述标志值确定所述设备的测试状态；若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。本公开由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。
【技术实现步骤摘要】
本公开涉及测试
，尤其涉及设备测试方法及装置。
技术介绍
为了保证设备的质量，往往会对设备进行各种测试。例如，设备在工厂生产完成后正式出厂前，为了保证设备的质量，需要进行一系列的出厂测试。设备中会内置出厂测试程序，在设备正常工作过程中，这些出厂测试程序不起作用，只有在设备的测试按键被触发时，设备会调用相应的出厂测试程序，进行测试。但是一些设备由于自身结构或外观原因无法设置测试按键，则加大了测试难度。
技术实现思路
本公开提供了设备测试方法及装置，以解决相关技术中测试困难的问题。根据本公开实施例的第一方面，提供一种设备测试方法，所述方法包括:获取设备中预设标志位的标志值；根据所述标志值确定所述设备的测试状态；若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。可选的，所述获取设备中预设标志位的标志值，包括:从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。可选的，所述获取设备中预设标志位的标志值，包括:检测所述设备是否从断电状态到通电状态；当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。可选的，所述根据所述标志值确定所述设备的测试状态，包括:判断所述标志值与预设的指定值是否一致；当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述测试状态为所述指定测试状态。可选的，所述调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试之后，还包括:判断所述测试是否完成；当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。可选的，所述调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试之后，还包括:判断所述测试是否通过；当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。可选的，所述方法还包括:当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过，和/或根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。根据本公开实施例的第二方面，提供一种设备测试装置，所述装置包括:获取单元，用于获取设备中预设标志位的标志值；确定单元，用于根据所述标志值确定所述设备的测试状态；测试单元，用于若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。可选的，所述获取单元包括:读取子单元，用于从非易失性存储器的指定地址对应的存储空间中读取预设标志位的标志值。可选的，所述获取单元包括:通电检测子单元，用于检测所述设备是否从断电状态到通电状态；触发获取子单元，用于当所述设备从断电状态到通电状态时，获取设备中预设标志位的标志值。可选的，所述确定单元包括:判断子单元，用于判断所述标志值与预设的指定值是否一致；当所述标志值与所述指定值一致时，确定所述测试状态为所述指定测试状态。可选的，所述装置还包括:第一判断单元，用于判断所述测试是否完成；第一修改单元，用于当所述测试完成时，对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。可选的，所述装置还包括:第二判断单元，用于判断所述测试是否通过；第二修改单元，用于当所述测试通过时，提示所述测试通过，和/或对所述标志值进行修改，以使修改后的标志值与所述指定值不一致。可选的，所述装置还包括以下一种单元:提示单元，用于当所述测试不通过时，暂停所述测试并提示所述测试不通过；修复单元，用于当测试不通过时，根据测试结果调用预先设置的修复程序对所述设备进行修复。根据本公开实施例的第三方面，提供一种设备测试装置，包括:处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为:获取设备中预设标志位的标志值；根据所述标志值确定所述设备的测试状态；若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据预设标志位的标志值判断设备的测试状态，在设备的测试状态为指定测试状态的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试。由于无需用户手动按压按键触发执行测试，而是根据标志位的标志值自动执行测试程序，提高了测试效率。特别是针对一些由于结构或外观原因无法设置测试按键的电子设备，降低了测试难度，提高了测试效率。本公开将标志位限定为非易失性存储器的指定地址对应的存储空间，既可以保证预设标志位的值不会因为系统重启或关机而丢失，还可以提高获取标志值的效率。本公开可以将获取设备中预设标志位的标志值的触发条件设置为设备刚上电状态，可以实现一上电即对指定测试状态的设备进行测试，并且避免了实时获取数据导致的资源浪费。本公开在设备中预先指定了预设标志位，可以根据标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态，仅在设备未测试过的情况下，调用预先设置的测试程序对设备进行测试，并且在测试完成时对标志值进行修改，以使测试过的设备后续不再进行测试，提高了测试效率，同时避免了资源浪费。本公开可以在设备中预先指定预设标志位，根据预设标志位的标志值与指定值是否一致判断设备的测试状态是否为未测试过状态或未测试通过状态，实现在设备未测试过和测试未通过的两种情况下，都可以调用预先设置的测试程序对设备进行测试，避免漏掉对测试不通过但后续修复好的这类设备的测试。并且可以在测试通过时对预设标志位的标志值进行修改，以使后续不再对测试通过的设备进行测试，自动实现测试的同时避免了资源浪费。本公开还可以对测试不通过的设备进行自动修复，也可以对测试不通过的设备进行提示。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。【附图说明】此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。图1是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试方法流程图。图2是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试方法流程图。图3是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试方法流程图。图4是本公开根据一示例性实施例示出的一种设备测试装置框图。图5是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。图6是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。图7是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。图8是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。图9是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。图10是本公开根据一示例性实施例示出的另一种设备测试装置框图。图11是本公开根据一示例性实施例示出的另一种用于设备测试装置的一结构示意图。【具体实施方式】这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致当前第1页1 2 3 4 5 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种设备测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取设备中预设标志位的标志值；根据所述标志值确定所述设备的测试状态；若所述测试状态为指定测试状态时，则调用预先设置的测试程序对所述设备进行测试。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙启民，侯恩星，苏本昌，
申请(专利权)人：小米科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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