本发明专利技术提供通过确定轮胎的一或多个高速均匀性参数来改良轮胎均匀性的方法和系统。高速均匀性参数可以通过在使轮胎缓慢变化到高速和从高速缓慢变化时连续获得均匀性数据来确定。举例来说，可以在轮胎提高到高转速和从高转速降低时连续收集轮胎的均匀性测量数据。随后可以分析均匀性测量数据以确定轮胎的一或多个高速均匀性参数。举例来说，可以将均匀性测量数据针对非高速均匀性贡献对均匀性测量结果进行校正，所述非高速均匀性贡献如由在均匀性测试期间用于负载轮胎的行走轮的非均匀性产生的贡献、由轮胎的质量不平衡产生的贡献以及来自轮胎的低速均匀性参数的贡献。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及用于改良轮胎均匀性的系统和方法，并且更具体来说涉及用于 使用速度斜坡执行有效高速均匀性测量以确定轮胎的高速均匀性参数的系统和方法。
技术介绍
在轮胎的特定可计量特征中，轮胎非均匀性与相对于轮胎的旋转轴线的对称性 (或缺乏对称性）有关。常规的轮胎建造方法实际上具有许多在轮胎中产生非均匀性的机 会。在轮胎旋转期间，存在于轮胎结构中的非均匀性在车轮轴线处产生周期性变化的力。当 这些力变化作为明显的振动传送到车辆和车辆乘员时，轮胎非均匀性是重要的。这些力通 过车辆的悬架传送并且可以在车辆的座位和方向盘上感觉到，或者作为噪声在乘客室中传 送。传送到车辆乘员的振动的量已经被分类为轮胎的"乘坐舒适"或"舒适"。 轮胎均匀性特征或属性一般被分类为尺寸或几何变化（径向偏心（RRO)和横向偏 心（LRO))、质量变化，以及滚动力变化（径向力变化、横向力变化以及切向力变化，有时也 称为纵向或前后力变化）。均匀性测量机器通常通过在轮胎关于其轴线旋转时测量在轮胎 周围的多个点处的力来测量上述和其它均匀性特征。几何变化通常测量为与平均尺寸的偏 差。质量变化测量通常限于质量不平衡，其为质量变化的第一谐波组分。质量不平衡可以 在天平装置上或在不向轮胎施加负载下使轮胎关于穿过轮胎几何中心的轴线旋转的装置 上静态地测量。 通常进行轮胎均匀性测量以在制造轮胎后进行质量控制来确定非均匀性对车辆 的影响，即，由非均匀性所产生的振动。测量结果可以用于例如退回轮胎或根据将使用所述 轮胎的车辆进行分拣或分级。还可以执行校正程序以通过对制造过程进行调整来解释一些 非均匀性。可以执行另外的校正技术以解决固化轮胎的非均匀性，所述技术包括（但不限 于）向固化轮胎添加和/或移除材料和/或使固化轮胎变形。 轮胎的高速均匀性已经在汽车工业中越来越受关注。高速均匀性测试可以包括在 使轮胎在接近高速公路速度的速度下旋转时进行均匀性测量。通常在多个离散转速下执行 作为高速均匀性测试的一部分的均匀性测量。可能需要在各离散速度下多次旋转轮胎来获 得足以分析高速均匀性特征的数据。因此，其可能需要相当多的时间（例如多达30分钟） 来覆盖较大的速度范围。因此，通常仅少数和具有极宽间隔的离散速度用于轮胎的高速均 匀性测量。 因此，需要执行轮胎高速均匀性测量的改良的方法。
技术实现思路
本专利技术的方面和优点将部分在以下描述中进行阐述，或可以从所述描述中显而易 见，或可以通过实践本专利技术来习得。 本专利技术的一个示例性方面涉及一种确定轮胎的一或多个高速均匀性参数的方法。 方法包括根据速度斜坡曲线经由多个转速使轮胎旋转。速度斜坡曲线规定将轮胎的转速在 第一方向上提高到第一转速，如大于约600转/分钟，并且将轮胎的转速在第一方向上从第 一转速降低。方法进一步包括在根据速度斜坡曲线使轮胎旋转时连续获得轮胎的均匀性测 量数据，和分析均匀性测量数据以确定轮胎的一或多个高速均匀性参数。 在一个特定实施方案中，分析均匀性测量数据以确定轮胎的一或多个高速均匀性 参数可以包括针对一或多个非高速均匀性贡献对均匀性测量数据进行校正。一或多个非高 速均匀性贡献可以包括以下项中的一或多者：对均匀性测量数据的行走轮贡献、质量不平 衡贡献或低速均匀性贡献。一方面，针对一或多个非高速均匀性贡献校正可以包括将均匀 性测量数据建模为高速均匀性项和一或多个非高速均匀性项的总和，以及估算非高速均匀 性项的系数，例如回归分析。 本专利技术的另一个示例性方面涉及一种用于确定轮胎的一或多个高速均匀性参数 的系统。系统可以包括上面牢固地安装轮胎以在多个转速下旋转的轮胎轴毂以及经配置以 在轮胎由轮胎轴毂旋转时获得轮胎的均匀性数据的测量机器。系统可以进一步包括耦接到 测量机器和轮胎轴毂的计算机控制系统。计算机控制系统可以经配置以控制轮胎轴毂根据 速度斜坡曲线经由多个转速使轮胎旋转。计算机控制系统可以进一步经配置以控制测量机 器在轮胎根据速度曲线旋转时连续获得轮胎的均匀性测量数据。计算机控制系统可以进一 步经配置以分析均匀性测量数据来确定轮胎的一或多个高速均匀性参数。速度斜坡曲线可 以规定将轮胎的转速在第一方向上提高到第一转速，并且将轮胎的转速在第一方向上从第 一转速降低。在一个特定实施方案中，速度曲线可以进一步规定将轮胎的转速在第二方向 上提高到第二转速，并且将轮胎的转速在第二方向上从第二转速降低。 参考以下描述和所附权利要求书，本专利技术的这些和其它特征、方面以及优点将得 到更好的理解。并入在本说明书中并且构成本说明书的一部分的【附图说明】了本专利技术的实施 例，并且与所述描述一起用以阐释本专利技术的原理。【附图说明】 本专利技术的针对所属领域的一般技术人员的完整且能够实现的揭示内容（包括其 最佳模式）在说明书中得到阐述，所述揭示内容参考附图，在所述附图中： 图1描绘根据本专利技术的示例性实施例确定轮胎的一或多个高速均匀性参数的示 例性方法的流程图； 图2描绘根据本专利技术的示例性实施例的示例性速度斜坡曲线； 图3描绘径向力变化随示例性轮胎顺时针与逆时针旋转的速度变化的图形表示； 图4描绘切向力变化随示例性轮胎顺时针与逆时针旋转的速度变化的图形表示； 图5描绘对均匀性测量的高速均匀性和示例性非高速均匀性贡献； 图6描绘根据本专利技术的另一个示例性实施例的示例性速度斜坡曲线； 图7描绘根据本专利技术的另一个示例性实施例的示例性速度斜坡曲线；图8描绘鉴别对根据本专利技术的示例性实施例的均匀性测量的非高速均匀性贡献 的流程图； 图9在视觉上展现在高转速下具有质量不平衡的轮胎的示例性变形；并且 图10描绘根据本专利技术的示例性实施例的用于确定一或多个高速均匀性参数的示 例性系统的方框图。【具体实施方式】 所属领域的一般技术人员应了解，本论述仅是对示例性实施例的描述，且并不意 欲限制本专利技术的更广泛的方面。每个实例是为了阐释本专利技术而提供，而非限制本专利技术。实 际上，所属领域的技术人员将显而易见，在不脱离本专利技术的范围或精神的情况下可以在本 专利技术中进行各种修改和改变。举例来说，说明或描述为一个实施例的一部分的特征可以与 另一个实施例一起使用以形成再一个实施例。因此，希望本专利技术涵盖处于所附权利要求书 以及其等效物的范围内的此类修改以及变化。 一般来说，本专利技术涉及用于通过确定轮胎的一或多个高速均匀性参数来改良轮胎 均匀性的方法和系统。高速均匀性参数可以通过在使用速度斜坡使轮胎旋转到高速（例如 约600+转/分钟）时连续获得均匀性数据确定。可以分析在速度斜坡期间获得的均匀性 测量数据以确定轮胎的一或多个高速均匀性参数。 更具体地说，轮胎可以根据速度斜坡曲线旋转。速度斜坡曲线规定在将轮胎转速 提高和从高转速降低时轮胎的转速随时间改变。示例性速度斜坡曲线可以规定将转速从约 零转速（即在静置下）提高到高转速。随后，速度斜坡曲线可以规定将转速从高转速降低 到约零转速。速度斜坡曲线可以规定对于轮胎方向两个旋转方向（例如顺时针和逆时针方 向）改变转速。 均匀性测量数据可以在轮胎根据速度斜坡曲线经由改变转速旋转时连续获得。均 匀性测量数据可以包括滚动力变化测量（例如RFV、LFV和TFV测量）、RRO和LRO测量或其 它均匀性测量。均匀性测量数据可以根据本文所揭示的技术分析来本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种确定轮胎的一或多个高速均匀性参数的方法，所述方法包含：根据速度斜坡曲线经由多个转速使轮胎旋转，所述速度斜坡曲线规定将轮胎的转速在第一方向上提高到第一转速，并且将所述轮胎的转速在第一方向上从所述第一转速降低；在所述轮胎根据所述速度斜坡曲线旋转时连续获得所述轮胎的均匀性测量数据；以及分析所述均匀性测量数据以确定所述轮胎的一或多个高速均匀性参数。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：V·S·尼克尔森，J·M·特雷勒，
申请(专利权)人：米其林集团总公司，米其林研究和技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR
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