一种嵌入式系统的调试方法及调试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种嵌入式系统的调试方法及调试系统，该方法包括设置调试模式；根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。本发明专利技术所述的嵌入式系统的调试方法及调试系统提高了调试过程中待调试程序文件下载的速度，并提高了嵌入式系统的寿命。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种嵌入式系统的调试方法及调试系统，该方法包括设置调试模式；根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。本专利技术所述的嵌入式系统的调试方法及调试系统提高了调试过程中待调试程序文件下载的速度，并提高了嵌入式系统的寿命。【专利说明】一种嵌入式系统的调试方法及调试系统
本专利技术涉及嵌入式系统调试领域，尤其涉及一种嵌入式系统的调试方法及调试系统。
技术介绍
在嵌入式系统的软件开发和测试阶段，都会对编写的程序进行调试。在调试过程中，需要将待调试程序文件下载到嵌入式系统中。 现有技术中，待调试程序文件的下载地址空间为嵌入式系统的快闪记忆体(FLASH)映射的地址空间。此时，现有的调试方法会频繁地将编写、修改后的程序文件下载到所述FLASH中。由于擦写FLASH都比较费时，如果程序文件比较大，每次下载可能需要耗费数十秒。另外每次调试下载，都会擦写FLASH，而本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种嵌入式系统的调试方法，其特征在于，包括：设置调试模式；根据所述调试模式将待调试程序文件的下载地址空间由映射至快闪记忆体改为映射至随机存取存储器；接收所述待调试程序文件，并将所述待调试程序文件存储至所述随机存取存储器中；接收调试指令，并运行所述调试指令，对所述待调试程序文件进行调试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高海洋，王景华，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11