本实用新型专利技术公开了一种微电阻测试装置，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口连接多个待测试电阻。通过所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻，从而实现多个待测试电阻并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，进而实现对多个待测试电阻的电阻测试。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电阻测试领域，尤其涉及一种微电阻测试装置。
技术介绍
众所周知，所有的电子电气设备或控制系统都要用到印刷线路板，为确保线路板不发生开路或短路，印刷线路板在出货前均需通过PCB测试机的测试，将不合格的线路板检出。随着电子技术的迅猛发展，印制线路板(PCB)的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小，客户对板的要求越来越严，尤其是PCB的安全性与稳定性，比如说关乎生命安全的汽车板，心系国防的航天控制系统电子板等。普通的两端子测试机，通常采用的是断线测试方法，是由已知的排线阻抗、电子控制阻抗及接触阻抗再加上被测PCB之阻抗植，所以无法测出被测PCB内真正的阻抗，以致孔内微小缺陷及线路微小缺口，更是无法被检测出来。当线路阻值小于20Ω时，已基本成为它的测试盲区。在实际生产中发现PCB的某些缺陷，如孔内无铜、空洞、铜薄、线幼、线路缺口等问题均会影响到线路阻值，当阻值小于20 Ω时测试结果显示PASS，但客户经过高温焊接后阻值发生变化，导致开路问题发生，最终导致客户投诉，严重的还需向客户赔款。现有的印刷线路板测试机电子卡主要有以下几种:双倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为70mil)，四倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为50mil)，六倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为39.3mil)。上述设备能满足一般印刷电路板的测试要求，但在实际测试过程中不能针对批量电路板的测试，且测试精度不高。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种有效提高测试精度的微电阻测试装置。为了解决上述技术问题，本技术提供了一种微电阻测试装置，其中，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口用以通过测试夹具的连线及其探针连接多个待测试电阻。其中，所述微电阻测试装置包括一组测试电路板，所述电压检测模块和所述电流输出模块集成于所述测试电路板上，所述测试电路板设置有并联所述电压检测模块和所述电流输出模块的测试接入端口，所述多个内接端口均电连接所述测试接入端口。其中，所述微电阻测试装置还包括转接电路板组件，所述转接点板组件包括第一转接板和第二转接板，所述第一转接板和所述第二转接板相对设置，所述第一转接板设置有并接电路，所述并接电路包括一个连接端和多个并行端，所述多个并行端连接于所述一个连接端，所述连接端设置于所述第一转接板背离所述第二转接板一侧，所述多个并行端设置于所述第一转接板靠近所述第二转接板一侧，所述第二转接板设置多个并列的插接件，所述多个插接件的一端分别对应连接所述多个并行端，所述多个插接件的另一端穿过所述第二转接板，并分别对应设置多个所述内接端口。其中，所述测试装置还包括多个开关电路板，所述多个开关模块分别对应集成于所述多个开关电路板上，所述多个开关电路板并列设置，所述多个开关电路板均包括一个开关接入端和一个开关接出端，所述多个开关电路板的开关接入端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个开关电路板的开关接出端分别对应设置多个所述外接端口。其中，所述微电阻测试装置还包括一个外接针盘，所述外接针盘包括相对设置第一侧和第二侧，所述第一侧设置多个引脚，每一引脚对应插接每一所述针管，所述第二侧设置多个弹簧针，每一弹簧针穿过所述外接针盘与每一所述引脚对应连接，多个所述弹簧针用于与多个待测试电阻连接。其中，所述微电阻测试装置还包括线路转接板，所述线路转接板相对所述外接针盘滑动设置，所述测试版包括相对设置的第一连接侧和第二连接侧，所述第一连接侧设置多个触点，多个所述触点与多个所述弹簧针相对应，所述第二连接侧对应所述多个触点连接有多根线缆，多根所述线缆远离所述线路转接板的另一端连接多个探针，多个所述探针用于连接所述待测试电阻。其中，所述微电阻测试装置还包括测试测试夹具，所述测试夹具用于固定待测试电路板，多个所述待测试电阻集成于所述待测试电路板上，多个所述探针设置于所述测试夹具上，用于接触多个所述待测试电阻。其中，所述电压检测模块包括一个电压测试电路，所述电压测试电路用于测试所述待测试电阻两端的电压，所述电流输出模块包括一个电流源，所述电流源用于向所述待测试电阻输出恒定电流。其中，所述微电阻测试装置包括控制模块，所述控制模块电连接所述多个开关模块，用以控制所述多个开关模块的通断，所述控制模块电连接所述电流输出模块，用以控制所述电流输出模块输出的电流值，所述控制模块电连接所述电压检测模块，用以控制所述电压检测模块的量程选择。本技术的微电阻测试装置，通过所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻，从而实现多个待测试电阻并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，进而实现对多个待测试电阻的电阻测试。【附图说明】为了更清楚地说明本技术的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术提供的微电阻测试装置的示意图；图2是本技术提供的微电阻测试装置的示意图。【具体实施方式】下面将结合本技术实施方式中的附图，对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。请参阅图1和图2，本技术提供一种微电阻测试装置100，所述微电阻测试装置100包括一个电压检测模块10、一个电流输出模块20、多个内接端口 30、多个开关模块40和多个外接端口 50。所述多个内接端口 30并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，所述多个开关模块40的一端分别对应连接所述多个内接端口 30。所述多个外接端口 50分别对应连接所述多个开关模块40的另一端，所述多个外接端口 50用以连接多个待测试电阻I (未图示)。通过所述多个内接端口 30并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，所述多个外接端口 50用以连接多个待测试电阻1，从而实现多个待测试电阻I并联于所述电压检测模块10和所述电流输出模块20之间，进而实现对多个待测试电阻I进行测试。可以理解的是，多个待测试电阻I可以集成于一个电路板上，通过一次连接多个待测试电阻的两端，实现对多个待测试电阻I的电阻测试。本实施方式中，所述电压检测模块10具有多个电压检测线，多个所述电压检测线的两端分别对应连接待测试电阻I的正极和负极。即所述电压检测模块10具有一个电压测试电路。该测试回路具有较高的阻抗值，根据所述测试电路所测试的电压可以计算出待测试电阻I的电阻值。在其他实施方式中，所述电压检测模块10还可以是具有高输入阻抗的电压表。具体的，所述电压检测模块10包括第一等效电阻11、一个电压测试电路12和第二等效电阻13。所述电压测试电路12的正负输入端分别连接第一等效电阻11和第二等效电阻12，即所述第一等效电阻11、电压测试电路12和第二等效电阻13形成串联的检测线路。所述第一等效电阻本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种微电阻测试装置，其特征在于，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口用以连接多个待测试电阻。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王哲，
申请(专利权)人：深圳市奥高德科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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