一种大理石机架制造技术

本发明专利技术提供了一种大理石机架，采用大理石材质制成，大理石材质使得机架硬度高、质量大，保障了待测物测试过程中机架的稳定性，防止了设备运行过程产生的振动，同时使得机架密度大、吸水性低，能够适应潮湿环境，且使得机架具有导热性及耐热性，能够均匀的分散热量，避免了机架受热膨胀或吸水膨胀产生形变而影响待测物的移动及检测装置的检测，保障了待测物测试的精度，使机架适用于电路板或半导体高精度测试作业；通过在基座上设置立柱及拱门，使得待测物夹具及待测物检测装置的移动更加平稳、连接更加稳定，提升了检测结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机床框架领域，更具体地说是指一种大理石机架。

技术介绍

1、电子测试领域中，机架作为支撑及连接机器设备的框架结构，其性能直接或间接影响测试结果。现有的电路板或半导体测试机床通常采用铸件搭建机架，而铸件稳定性差、耐热性差，易在测试中受热、受潮或受振而产生形变，影响待测物及检测装置的移动，进而影响测试结果，不适用于高精度的电路板或半导体测试作业。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种大理石机架，以解决现有的铸件机架稳定性差、耐热性差、易形变的技术问题。

2、为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：

3、一种大理石机架，其包括：基座、立柱及拱门；所述基座水平设置，所述立柱固定连接于所述基座顶部；所述拱门横跨所述立柱，且固定连接于所述基座顶部；所述立柱用于安装及引导待测物夹具移动至所述拱门下方或远离所述拱门，所述拱门用于安装待测物检测装置；所述基座、所述立柱及所述拱门均由大理石材质制成。

4、其中，所述基座的顶部及底部为平整设置；所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大理石机架，其特征在于，包括：基座、立柱及拱门；所述基座水平设置，所述立柱固定连接于所述基座顶部；所述拱门横跨所述立柱，且固定连接于所述基座顶部；所述立柱用于安装及引导待测物夹具移动至所述拱门下方或远离所述拱门，所述拱门用于安装待测物检测装置；所述基座、所述立柱及所述拱门均由大理石材质制成。

2.根据权利要求1所述的大理石机架，其特征在于，所述基座的顶部及底部为平整设置；所述立柱的底部及所述拱门的底部为平整设置；所述立柱与待测物夹具的连接面为平整设置；所述拱门与待测物检测装置的连接面为平整设置。

3.根据权利要求2所述的大理石机架，其特征在于，所述基座的顶...

【技术特征摘要】

1.一种大理石机架，其特征在于，包括：基座、立柱及拱门；所述基座水平设置，所述立柱固定连接于所述基座顶部；所述拱门横跨所述立柱，且固定连接于所述基座顶部；所述立柱用于安装及引导待测物夹具移动至所述拱门下方或远离所述拱门，所述拱门用于安装待测物检测装置；所述基座、所述立柱及所述拱门均由大理石材质制成。

2.根据权利要求1所述的大理石机架，其特征在于，所述基座的顶部及底部为平整设置；所述立柱的底部及所述拱门的底部为平整设置；所述立柱与待测物夹具的连接面为平整设置；所述拱门与待测物检测装置的连接面为平整设置。

3.根据权利要求2所述的大理石机架，其特征在于，所述基座的顶部及底部的平整度为0.01mm；所述立柱的底部及所述拱门的底部的平整度为0.01mm；所述立柱与所述待测物夹具的连接面的平整度为0.01mm；所述拱门与所述待测物检测装置的连接面的平整度为0.01mm。

4.根据权利要求2所述的大理石机架，其特征在于，所述立柱通过螺栓与所述基座相连，所述拱门通过螺栓与所述基座相连。

5.根据权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓良，李宗凡，关立雄，
申请(专利权)人：深圳市奥高德科技有限公司，
类型：发明
国别省市：