一种Spee曲线深度测量装置，属于口腔正畸医疗器械领域，其特征在于其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在下颌牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右下颌牙列正上方的两块测量板，测量板的前或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面。本实用新型专利技术设计合理，结构简单，使用方便，可以精确测量Spee曲线深度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于口腔正畸医疗器械领域，具体涉及一种口腔下颁牙列Spee曲线深度测量装置。
技术介绍
从牙齿排列的垂直向位置关系特征可以看出，上下牙列的牙尖(下颁牙弓最低点)高度并不一致，牙列的形态也具有一定的曲度，曲线就是用以描述这一牙列形态特征的重要概念，矢状方向的曲线称为纵曲线，口腔中下颁牙列中，连接切牙的切嵴、尖牙牙尖、前磨尖牙及磨牙颊尖构成的一条连续的凹向上的纵曲线也称Spee曲线，正常牙列该曲线的切牙段较平直，从尖牙向后经前磨牙至第一磨牙的远中颊尖逐渐降低，然后第二、第三磨牙的颊尖又逐渐升高。Spee曲线是正畸诊断和治疗计划制定的重要参考指标，Spee曲线深度是指下颁Spee曲线最低点到下颁平面的垂直距离，下颁平面是由下颁中切牙中点及两侧下颁最后一个磨牙远中颊尖所构成的一个假想平面。Spee曲线深度是临床正畸治疗设计中计算下颁牙列拥挤度的重要参考因素，研宄表明整平Imm Spee曲线需要1.5mm的间隙，临床上测量Spee曲线的常规方法是:将直尺放置在下切牙切端与最后一个下磨牙的牙尖上，医生通过肉眼估测两侧Spee曲线最低点至直尺的距离，牙弓两侧各测量一次，取两侧平均值加0.5mm，即为排平牙弓或改正颁曲线所需的间隙。Spee曲线是否正确测量，将影响牙列拥挤度的测量，影响矫治方案的选择，影响错牙合畸形设计时是否需要拔牙来提供间隙。因此，Spee曲线的精确估计具有重要的临床意义。目前临床没有专门装置测量Spee曲线，临床常用直尺放置在下切牙切端与最后一个下磨牙的牙尖上，由于下颁牙弓呈弓形，而直尺呈长条直形，故直尺并不能盖过下颁所有牙尖，尤其是Spee曲线中其最低位“牙尖”(最低位“牙尖”可以代表Spee曲线最低点，以下均用最低位“牙尖”来表述)，因此用直尺法测量下颁牙列最低位“牙尖”到直尺的距离，势必会由于视线偏斜等，造成较大误差。而且，错牙合畸形牙列常较复杂，如牙列左右不对称，下颁中线偏斜，高位错牙合尖牙等等，都影响着下颁牙弓Spee曲线深度的测量。因此，设计一种适合各种复杂下颁牙列的Spee曲线深度测量装置具有重要的临床意义。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中提到的技术问题，本专利技术的目的在于提供一种Spee曲线深度测量装置。本专利技术采用的技术方案如下:一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于其由定位装置及用于测量下颁Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右牙列上方的两块测量板，测量板的前端或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面；所述测量装置包括设有刻度的测量尺和位于测量尺内且可上下滑动的测量笔。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述测量笔的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺，其伸出测量尺的长度等于测量板的的厚度。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述测量装置还包括平板，所述平板位于测量尺的最下端，且与测量尺垂直。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述测量装置包括设有刻度的测量尺，所述测量尺内设有可以上下滑动的测量笔，所述测量笔的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺，其伸出测量尺的长度等于测量板的的厚度。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述测量板为网板。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述测量板上的测量孔为圆孔。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述主定位杆为可伸缩杆。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述副定位杆的形状为T型。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述测量板的前端和后端均设有可以转动的副定位杆。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述平板的性状为矩形。所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于:所述平板位于测量尺的一侧。本专利技术设计合理，结构简单，使用方便，且具有如下有益效果:(1)可以根据对称牙弓情况，调整宽度、长度，从而可以精确测量Spee曲线深度；(2)对于不对称牙弓，可以调整测量板，使之与牙列弓形相称，从而可以精确测量Spee曲线深度；(3)对于带有复杂Spee曲线的牙弓，如尖牙高出牙合平面，用直尺或者平板由于尖牙的干扰无法确切估计Spee曲线深度，则用本装置可以调整测量板、副定位杆，使测量板整体向后调整，绕过高位尖牙的干扰，从而可以精确测量Spee曲线深度；(4)对于下颁中线偏斜的牙弓，可以调整主定位杆前端的方向，使本装置主定位杆定位在牙列中线上，从而可以精确测量Spee曲线深度；(5)对于双侧牙弓长度不对称的牙弓，通过调整本装置的主定位杆及副定位杆，可以使双侧副定位杆精确定位在两侧最远端磨牙的颊尖上，从而可以精确测量Spee曲线深度；(6)对于个别狭长的牙弓，本装置可以压缩主定位杆的长度，及调整副定位杆的角度，满足下切牙中点及后牙区的定位；(7)在测量Spee曲线深度时，本装置可为口腔下颁牙列提供一个由主、副定位杆及测量板构成的具体的下颁平面，将原先的假想平面变成可以定位测量的具体的平面，保证了每一次测量时，下颁平面的稳定性和确定性，便于医生精确测量；(8)在测量Spee曲线深度时，本装置可以完整定位下颁平面，且完整地盖过下颁“牙尖”正上方，由于假想平面变成具体可以测量的平面，可以避免运用普通直尺测量左右两侧Spee曲线深度时其两侧的参考平面不一致的问题，提升了医生测量的精度；(9)测量尺下端设置平板，在测量时测量尺下面与测量板贴合，即可保证测量到Spee曲线最低位“牙尖”到测量板的垂直距离，而非倾斜的长度。保证了测量的精确性；(10)在不确定最低位“牙尖”时，医生可以通过反复测量，比对多次测量后的数据，直到找到左右两侧的最低点，这也是在参考平面确定的前提下得以实现的；(11)本装置所设计的测量尺子带有高精度的测量刻度，可以精确测量，避免了医生运用直尺充当下颁平面然后肉眼粗略估计Spee曲线最低位“牙尖”到下颁平面的距离所造成的误差。【附图说明】图1、图2和图3分别是本专利技术定位装置的结构示意图；其中:图1测量板为网板；图2测量板上的测量孔为圆孔；图3的测量板前后两端均设置副定位杆；图4和图5是本专利技术测量装置的结构示意图；其中:图4为测量笔伸出测量板外进行测量时的结构示意图；图5为测量笔的上端对准测量板上起始刻度线时的正视结构示意图；图中:1-测量板；2_主定位杆；3_副定位杆；4-连杆；K1-测量尺；Κ2_测量笔；Κ3-刻度；Κ4-平板。【具体实施方式】下面结合当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在牙列中线的主定位杆（2），用于分别放置在左、右牙列上方的两块测量板（1），测量板（1）的前端或后端设有可以转动的副定位杆（3），测量板（1）上设有若干测量孔；所述测量板（1）通过连杆（4）与主定位杆（2）活动连接；所述测量板（1）、主定位杆（2）、副定位杆（3）位于同一平面；所述测量装置包括设有刻度（K3）的测量尺（K1）和位于测量尺（K1）内且可上下滑动的测量笔（K2）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：胡荣党，周昱，曹真胜，王海燕，秦化祥，
申请(专利权)人：温州医科大学附属口腔医院，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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