本实用新型专利技术涉及一种挠曲线测量实验装置，包括基座，所述基座内腔设置有用以将悬臂式试件一端螺接的螺丝螺母组件，所述基座的上端部沿着悬臂式试件的长度方向布置有至少一个用以测量悬臂式试件扰度的探针测量组件，所述基座的内腔底部可拆设置有可使悬臂式试件水平的调零垫块，所述悬臂式试件另一端可拆悬挂有用以对悬臂式试件施加载荷的配重体。本实用新型专利技术采用机械测量，不需外部供电，不受信号干扰影响，对实验场合没有特殊要求，应用范围广；本实用新型专利技术为便捷式可拆卸结构，运输、安装、调试方便；本实用新型专利技术挠度测量装置具有调零功能，校准方便，且能适应多种规格悬臂式试件；实验过程学生与系统的干预性好，实验教学效果佳。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种挠曲线测量实验装置。
技术介绍
目前市场上针对挠曲线测量实验过程的实验台较少，主要采用电子测量方式，实验过程主要由控制芯片自动完成，导致学生对实验过程的干预性差，对实验原理的认知性差，实验教学效果不佳，且实验结果依赖于电子芯片及传感器的精度及可靠性，实验装置校准、调试过程复杂，对实验环境要求高。
技术实现思路
鉴于现有技术的不足，本技术所要解决的技术问题是提供一种结构设计合理、使用方便快捷的挠曲线测量实验装置。为了解决上述技术问题，本技术的技术方案是:一种挠曲线测量实验装置，包括基座，所述基座内腔设置有用以将悬臂式试件一端螺接的螺丝螺母组件，所述基座的上端部沿着悬臂式试件的长度方向布置有至少一个用以测量悬臂式试件扰度的探针测量组件，所述基座的内腔底部可拆设置有可使悬臂式试件水平的调零垫块，所述悬臂式试件另一端可拆悬挂有用以对悬臂式试件施加载荷的配重体。进一步的，所述探针测量组件包含固定架以及设置在固定架旁侧的套环，所述套环内穿设有与其螺纹连接并可相对应其上下移动的探针，所述基座在套环的下方设置有用以探针穿过后与悬臂式试件上表面碰触的第一通孔。进一步的，所述探针上套设有防松螺母。进一步的，所述探针、套环上均设置有刻度。进一步的，所述配重体包含吊钩以及设置在吊钩底部的配重块，所述基座内腔底部沿着悬臂式试件的长度方向开设有用以吊钩穿过的第二通孔。进一步的，所述第一通孔、第二通孔均为条形通孔。进一步的，所述基座内腔底部设置有用以定位调零垫块的固定块。与现有技术相比，本技术具有以下有益效果:本技术采用机械测量，不需外部供电，不受信号干扰影响，对实验场合没有特殊要求，应用范围广；本技术为便捷式可拆卸结构，运输、安装、调试方便；本技术挠度测量装置具有调零功能，校准方便，且能适应多种规格悬臂式试件；实验过程学生与系统的干预性好，实验教学效果佳。下面结合附图和【具体实施方式】对本技术做进一步详细的说明。【附图说明】图1为本技术实施例的构造示意图。图2为本技术实施例使用状态的第一示意图。图3为本技术实施例图2的局部示意图。图4为本技术实施例使用状态的第二示意图。图中:1-基座，11-第一通孔，12-第二通孔，2-螺丝螺母组件，3-探针测量组件，31-固定架，32-套环，33-探针，34-防松螺母，4-调零垫块，5-配重体，51-吊钩，52-配重块，6-固定块，7-悬臂式试件。【具体实施方式】为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下。如图1~4所示，一种挠曲线测量实验装置，包括基座1，所述基座I内腔设置有用以将悬臂式试件7 —端螺接的螺丝螺母组件2，所述基座I的上端部沿着悬臂式试件7的长度方向布置有至少一个用以测量悬臂式试件7扰度的探针测量组件3，探针测量组件3的数量可根据实验需要增加或减少，但优选地，一般不少于五个；所述基座I的内腔底部可拆设置有可使悬臂式试件7水平的调零垫块4，所述悬臂式试件7另一端可拆悬挂有用以对悬臂式试件7施加载荷的配重体5。在本技术实施例中，所述探针测量组件3包含固定架31以及设置在固定架31旁侧的套环32，所述套环32内穿设有与其螺纹连接并可相对应其上下移动的探针33，所述基座I在套环32的下方设置有用以探针33穿过后与悬臂式试件7上表面碰触的第一通孔Ilo在本技术实施例中，所述探针33上套设有防松螺母34 ;调整探针33的螺纹旋合长度，可调整探针33的悬伸长度，从而实现调零；调零完成后，锁紧防松螺母34可固定探针33的悬伸长度，保证零点位置准确可靠。在本技术实施例中，所述探针33、套环32上均设置有刻度。在本技术实施例中，所述配重体5包含吊钩51以及设置在吊钩51底部的配重块52，所述基座I内腔底部沿着悬臂式试件7的长度方向开设有用以吊钩51穿过的第二通孔12。在本技术实施例中，所述第一通孔11、第二通孔12均为条形通孔；所述探针33测量组件3可以沿着第一通孔11的长度方向左右移动，从而微调各探针测量组件3间距值能够调整采样间距；所述配重体5可以沿着第二通孔12的长度方向左右移动，从而适用于不同长度的悬臂式试件7。在本技术实施例中，所述基座I内腔底部设置有用以定位调零垫块4的固定块6。在本技术具体使用过程如下:首先将悬臂式试件7 —端锁紧于基座I后，将调零垫块4垫于悬臂式试下面，可使悬臂式试保持水平，即悬臂式试上各点挠度为0，此时调节探针测量组件3上的探针33悬伸长度使探针33头部顶于悬臂式试件7上表面，同时探针33、套环32上示数为0，则完成本技术的调零操作；调零操作完成后，移除调零垫块4，将配重体5挂在悬臂式试件7悬伸端，则悬臂式试件7在加载装置的受力下产生变形，此时使各探针测量组件3的探针33头部接触试件上表面，则各挠度测量装置的示数即为改采样点的挠度值；多次测量后，将各采样点的挠度值取平均进行拟合即可得该实验条件下试件的挠曲线。通过改变加载装置重物重量、试件的材料、厚度、长度等实验参数即可得不同实验条件下试件的挠曲线。本技术不局限于上述最佳实施方式，任何人在本技术的启示下都可以得出其他各种形式的挠曲线测量实验装置。凡依本技术申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本技术的涵盖范围。【主权项】1.一种挠曲线测量实验装置，其特征在于:包括基座，所述基座内腔设置有用以将悬臂式试件一端螺接的螺丝螺母组件，所述基座的上端部沿着悬臂式试件的长度方向布置有至少一个用以测量悬臂式试件扰度的探针测量组件，所述基座的内腔底部可拆设置有可使悬臂式试件水平的调零垫块，所述悬臂式试件另一端可拆悬挂有用以对悬臂式试件施加载荷的配重体。2.根据权利要求1所述的挠曲线测量实验装置，其特征在于:所述探针测量组件包含固定架以及设置在固定架旁侧的套环，所述套环内穿设有与其螺纹连接并可相对应其上下移动的探针，所述基座在套环的下方设置有用以探针穿过后与悬臂式试件上表面碰触的第一通孔。3.根据权利要求2所述的挠曲线测量实验装置，其特征在于:所述探针上套设有防松螺母。4.根据权利要求2或3所述的挠曲线测量实验装置，其特征在于:所述探针、套环上均设置有刻度。5.根据权利要求4所述的挠曲线测量实验装置，其特征在于:所述配重体包含吊钩以及设置在吊钩底部的配重块，所述基座内腔底部沿着悬臂式试件的长度方向开设有用以吊钩穿过的第二通孔。6.根据权利要求5所述的挠曲线测量实验装置，其特征在于:所述第一通孔、第二通孔均为条形通孔。7.根据权利要求6所述的挠曲线测量实验装置，其特征在于:所述基座内腔底部设置有用以定位调零垫块的固定块。【专利摘要】本技术涉及一种挠曲线测量实验装置，包括基座，所述基座内腔设置有用以将悬臂式试件一端螺接的螺丝螺母组件，所述基座的上端部沿着悬臂式试件的长度方向布置有至少一个用以测量悬臂式试件扰度的探针测量组件，所述基座的内腔底部可拆设置有可使悬臂式试件水平的调零垫块，所述悬臂式试件另一端可拆悬挂有用以对悬臂式试件施加载荷的配重体。本技术采用机械测量，不需外部供电，不受信号干扰影响，对实验场合没有特殊要求，应用范围广；本技术为便捷式本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种挠曲线测量实验装置，其特征在于：包括基座，所述基座内腔设置有用以将悬臂式试件一端螺接的螺丝螺母组件，所述基座的上端部沿着悬臂式试件的长度方向布置有至少一个用以测量悬臂式试件扰度的探针测量组件，所述基座的内腔底部可拆设置有可使悬臂式试件水平的调零垫块，所述悬臂式试件另一端可拆悬挂有用以对悬臂式试件施加载荷的配重体。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：沈振辉，蒋国平，
申请(专利权)人：福建江夏学院，
类型：新型
国别省市：福建;35
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。