本实用新型专利技术公开一种长引线晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道以及设置在上述晶体轨道上的检测装置，所述晶体轨道上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽，所述晶体轨道上与所述检测装置相对应位置设置有与所述晶体通槽交叉连通的分叉通槽，该分叉通槽与所述晶体通槽相通的一端设置有用于将其开启或闭合的闸门，所述分叉通槽与所述检测装置分别位于所述晶体轨道的两侧，所述检测装置上设置有用于将晶体推入上述分叉通槽的推料机构。由于本实用新型专利技术采用上述结构，实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，而且晶体在检测后立即进行分选，无需等晶体继续输送至下一工序，提高了分选的及时性、准确性及完整性。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子器件检测装置领域，具体涉及一种长引线晶振检测仪。
技术介绍
在电子
的产品生产过程中，经常要用到一种原材料一晶体振荡器，简称晶振，产品生产完成后，如果晶振不起振将会影响设计功能的实现，但是，在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大，因此人们设计有晶振检测仪。现有晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成，检测后的产品需由人工对合格品或不合格品进行分选，费时费力，且其不能在检测完成后立即对晶体进行分选，易出现未及时分选而造成分选不准确、完整的问题。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种长引线晶振检测仪，它能够实现检测晶振后自动实时对合格品或不合格品进行分选，提高了分选准确性、完整性以及检测效率。本技术所采用的技术方案是:一种长引线晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道以及设置在上述晶体轨道上的检测装置，所述晶体轨道上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽，所述晶体轨道上与所述检测装置相对应位置设置有与所述晶体通槽交叉连通的分叉通槽，该分叉通槽与所述晶体通槽相通的一端设置有用于将其开启或闭合的闸门，所述分叉通槽与所述检测装置分别位于所述晶体轨道的两侧，所述检测装置上设置有用于将晶体推入上述分叉通槽的推料机构，所述晶体轨道远离所述检测装置的一侧设置有与上述分叉通槽的出口相对应的废品收集仓。作为优选，所述分叉通槽的宽度大于晶体的长度。作为优选，所述推料机构是由推料气缸以及由该推料气缸带动的推杆构成的。作为优选，所述废品收集仓下部设置有出料门。本技术的有益效果在于:由于本技术采用上述结构，晶体被检测装置确定合格或不合格后，会立即由推料机构将不合格的推入到分叉通槽，然后进入废品收集仓内，实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率，而且晶体在检测后立即进行分选，无需等晶体继续输送至下一工序，提高了分选的及时性、准确性及完整性。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。图中:1、晶体轨道；2、晶体通槽；3、检测装置；4、分叉通槽；5、闸门；6、废品收集仓。【具体实施方式】下面将结合附图及具体实施例对本技术作进一步详细说明。如图1所示，一种长引线晶振检测仪，包括振动送料盘(图中未示出)、与该振动送料盘相接的晶体轨道I以及设置在上述晶体轨道I上的检测装置3，所述晶体轨道I上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽2，所述晶体轨道I上与所述检测装置3相对应位置设置有与所述晶体通槽2交叉连通的分叉通槽4，该分叉通槽4与所述晶体通槽2相通的一端设置有用于将其开启或闭合的闸门5，分叉通槽4的宽度大于晶体的长度，为分叉通槽4设计更宽的宽度，以便于晶体的更顺畅的输送，所述分叉通槽4与所述检测装置3分别位于所述晶体轨道I的两侧，所述检测装置3上设置有用于将晶体推入上述分叉通槽4的推料机构，推料机构是由推料气缸以及由该推料气缸带动的推杆构成的，所述晶体轨道I远离所述检测装置3的一侧设置有与上述分叉通槽4的出口相对应的废品收集仓6，废品收集仓6下部设置有出料门。本技术的工作过程如下:正常情况下，闸门5处于常闭状态，当检测装置3检测到晶体合格时，晶体顺利由晶体通槽2进入下一环节，当检测到晶体不合格时，闸门5开启，然后推料机构将不合格晶体推入到分叉通槽4中，闸门5重新关闭，不合格晶体经分叉通槽4落入到废品收集仓6内。由于本技术采用上述结构，晶体被检测装置3确定合格或不合格后，会立即由推料机构将不合格的推入到分叉通槽4，然后进入废品收集仓6内，实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率，而且晶体在检测后立即进行分选，无需等晶体继续输送至下一工序，提高了分选的及时性、准确性及完整性。以上所述，仅为本技术较佳实施例而已，故不能以此限定本技术实施的范围，即依本技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术专利涵盖的范围内。【主权项】1.一种长引线晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道(I)以及设置在上述晶体轨道(I)上的检测装置(3)，所述晶体轨道(I)上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽(2)，其特征在于:所述晶体轨道(I)上与所述检测装置(3)相对应位置设置有与所述晶体通槽(2)交叉连通的分叉通槽(4)，该分叉通槽(4)与所述晶体通槽(2)相通的一端设置有用于将其开启或闭合的闸门(5)，所述分叉通槽(4)与所述检测装置(3)分别位于所述晶体轨道(I)的两侧，所述检测装置(3)上设置有用于将晶体推入上述分叉通槽(4)的推料机构，所述晶体轨道(I)远离所述检测装置(3)的一侧设置有与上述分叉通槽(4)的出口相对应的废品收集仓(6)。2.根据权利要求1所述的长引线晶振检测仪，其特征在于:所述分叉通槽(4)的宽度大于晶体的长度。3.根据权利要求1所述的长引线晶振检测仪，其特征在于:所述推料机构是由推料气缸以及由该推料气缸带动的推杆构成的。4.根据权利要求1所述的长引线晶振检测仪，其特征在于:所述废品收集仓(6)下部设置有出料门。【专利摘要】本技术公开一种长引线晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道以及设置在上述晶体轨道上的检测装置，所述晶体轨道上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽，所述晶体轨道上与所述检测装置相对应位置设置有与所述晶体通槽交叉连通的分叉通槽，该分叉通槽与所述晶体通槽相通的一端设置有用于将其开启或闭合的闸门，所述分叉通槽与所述检测装置分别位于所述晶体轨道的两侧，所述检测装置上设置有用于将晶体推入上述分叉通槽的推料机构。由于本技术采用上述结构，实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，而且晶体在检测后立即进行分选，无需等晶体继续输送至下一工序，提高了分选的及时性、准确性及完整性。【IPC分类】B07C5-00, B07C5-02【公开号】CN204523585【申请号】CN201520244688【专利技术人】杨启付, 李谦平 【申请人】福建省将乐县长兴电子有限公司【公开日】2015年8月5日【申请日】2015年4月22日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种长引线晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道（1）以及设置在上述晶体轨道（1）上的检测装置（3），所述晶体轨道（1）上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽（2），其特征在于：所述晶体轨道（1）上与所述检测装置（3）相对应位置设置有与所述晶体通槽（2）交叉连通的分叉通槽（4），该分叉通槽（4）与所述晶体通槽（2）相通的一端设置有用于将其开启或闭合的闸门（5），所述分叉通槽（4）与所述检测装置（3）分别位于所述晶体轨道（1）的两侧，所述检测装置（3）上设置有用于将晶体推入上述分叉通槽（4）的推料机构，所述晶体轨道（1）远离所述检测装置（3）的一侧设置有与上述分叉通槽（4）的出口相对应的废品收集仓（6）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨启付，李谦平，
申请(专利权)人：福建省将乐县长兴电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35
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