本实用新型专利技术公开一种晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道以及设置在上述晶体轨道上的检测装置，所述晶体轨道上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽，所述晶体轨道下方通过落料槽连接有储料装置，该储料装置中部设置有将其分隔为左右两个相对称的晶体收纳室的储料隔板，所述落料槽中部设置有末端与上述储料隔板相接的落料隔板，该落料隔板的顶端与所述晶体通槽相对应，且落料隔板的顶端设置有旋转挡片。由于本实用新型专利技术采用上述结构，可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子器件检测装置领域，具体涉及一种晶振检测仪。
技术介绍
在电子
的产品生产过程中，经常要用到一种原材料一晶体振荡器，简称晶振，产品生产完成后，如果晶振不起振将会影响设计功能的实现，但是，在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大，因此人们设计有晶振检测仪。现有晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成，检测后的产品需由人工对合格品或不合格品进行分选，费时费力。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种晶振检测仪，它能够实现检测晶振后，自动对合格品或不合格品进行分选，省时省力，提高检测效率。本技术所采用的技术方案是:一种晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道以及设置在上述晶体轨道上的检测装置，所述晶体轨道上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽，所述晶体轨道下方通过落料槽连接有储料装置，该储料装置中部设置有将其分隔为左右两个相对称的晶体收纳室的储料隔板，所述落料槽中部设置有末端与上述储料隔板相接的落料隔板，该落料隔板的顶端与所述晶体通槽相对应，且落料隔板的顶端设置有旋转挡片，所述旋转挡片的中部与落料隔板铰接在一起。作为优选，所述落料槽呈上小下大的“八”字型。作为优选，所述落料隔板顶端至所述晶体通槽末端的距离大于晶体长度的两倍。作为优选，所述旋转挡片端部至其中部的距离小于所述落料隔板顶端至所述落料槽两侧边的距离。作为优选，所述旋转挡片朝向所述晶体通槽的表面设置有缓冲垫。本技术的有益效果在于:由于本技术采用上述结构，晶体在经过检测装置确定合格或不合格后，落在晶体通槽下方的旋转挡片上，控制系统再根据产品是否合格控制旋转挡片的旋转方向，使其进入左右两个不同晶体收纳室，实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。图中:1、晶体轨道；2、检测装置；3、晶体通槽；4、落料槽；5、储料装置；6、储料隔板；7、落料隔板；8、旋转挡片。【具体实施方式】下面将结合附图及具体实施例对本技术作进一步详细说明。如图1所示，一种晶振检测仪，包括振动送料盘(图中未示出)、与该振动送料盘相接的晶体轨道I以及设置在上述晶体轨道I上的检测装置2，所述晶体轨道I上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽3，所述晶体轨道I下方通过落料槽4连接有储料装置5，该储料装置5中部设置有将其分隔为左右两个相对称的晶体收纳室的储料隔板6，将合格品和不合格品分选后送入不同的晶体收纳室，所述落料槽4呈上小下大的“八”字型，其上部与晶体轨道I对应，其下部与储料装置5对应，且落料槽4中部设置有末端与上述储料隔板6相接的落料隔板7，该落料隔板7的顶端与所述晶体通槽3相对应，且落料隔板7的顶端设置有旋转挡片8，所述旋转挡片8的中部与落料隔板7铰接在一起。旋转挡片8平时呈水平状，检测仪启动后根据控制信号顺时针(或逆时针)旋转，当进行顺时针旋转时，其上承载的晶体则会由右侧落入至右侧的晶体收纳室；当进行逆时针旋转时，其上承载的晶体则会由左侧落入至左侧的晶体收纳室，从而实现对合格品和不合格品的分选收纳。落料隔板7顶端至所述晶体通槽3末端的距离大于晶体长度的两倍，便于晶体的顺畅通行，旋转挡片8端部至其中部的距离小于所述落料隔板7顶端至所述落料槽4两侧边的距离，便于旋转挡片8顺畅的进行圆周旋转。另外，旋转挡片8朝向所述晶体通槽3的表面设置有缓冲垫，对落下的晶体起到一定的缓冲作用，避免损坏。由于本技术采用上述结构，晶体在经过检测装置2确定合格或不合格后，落在晶体通槽3下方的旋转挡片8上，控制系统再根据产品是否合格控制旋转挡片8的旋转方向，使其进入左右两个不同晶体收纳室，实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。以上所述，仅为本技术较佳实施例而已，故不能以此限定本技术实施的范围，即依本技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术专利涵盖的范围内。【主权项】1.一种晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道(I)以及设置在上述晶体轨道(I)上的检测装置(2)，所述晶体轨道(I)上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽(3 )，其特征在于:所述晶体轨道(I)下方通过落料槽(4 )连接有储料装置(5 )，该储料装置(5)中部设置有将其分隔为左右两个相对称的晶体收纳室的储料隔板(6)，所述落料槽(4)中部设置有末端与上述储料隔板(6)相接的落料隔板(7)，该落料隔板(7)的顶端与所述晶体通槽(3)相对应，且落料隔板(7)的顶端设置有旋转挡片(8)，所述旋转挡片(8)的中部与落料隔板(7)铰接在一起。2.根据权利要求1所述的晶振检测仪，其特征在于:所述落料槽(4)呈上小下大的“八”字型。3.根据权利要求1所述的晶振检测仪，其特征在于:所述落料隔板(7)顶端至所述晶体通槽(3)末端的距离大于晶体长度的两倍。4.根据权利要求1所述的晶振检测仪，其特征在于:所述旋转挡片(8)端部至其中部的距离小于所述落料隔板(7)顶端至所述落料槽(4)两侧边的距离。5.根据权利要求1所述的晶振检测仪，其特征在于:所述旋转挡片(8)朝向所述晶体通槽(3)的表面设置有缓冲垫。【专利摘要】本技术公开一种晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道以及设置在上述晶体轨道上的检测装置，所述晶体轨道上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽，所述晶体轨道下方通过落料槽连接有储料装置，该储料装置中部设置有将其分隔为左右两个相对称的晶体收纳室的储料隔板，所述落料槽中部设置有末端与上述储料隔板相接的落料隔板，该落料隔板的顶端与所述晶体通槽相对应，且落料隔板的顶端设置有旋转挡片。由于本技术采用上述结构，可实现对合格品或不合格品的自动分选，无需人工操作，省时省力，大大提高检测效率。【IPC分类】B07C5-02, B07C5-00【公开号】CN204523586【申请号】CN201520253820【专利技术人】谢建辉, 林东国, 李天春 【申请人】福建省将乐县长兴电子有限公司【公开日】2015年8月5日【申请日】2015年4月24日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种晶振检测仪，包括振动送料盘、与该振动送料盘相接的晶体轨道（1）以及设置在上述晶体轨道（1）上的检测装置（2），所述晶体轨道（1）上设置有供单个晶体依次通行的晶体通槽（3），其特征在于：所述晶体轨道（1）下方通过落料槽（4）连接有储料装置（5），该储料装置（5）中部设置有将其分隔为左右两个相对称的晶体收纳室的储料隔板（6），所述落料槽（4）中部设置有末端与上述储料隔板（6）相接的落料隔板（7），该落料隔板（7）的顶端与所述晶体通槽（3）相对应，且落料隔板（7）的顶端设置有旋转挡片（8），所述旋转挡片（8）的中部与落料隔板（7）铰接在一起。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谢建辉，林东国，李天春，
申请(专利权)人：福建省将乐县长兴电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35
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