一种用于异型α、β探头的检定源盒制造技术

技术编号:11772340 阅读:59 留言:0更新日期:2015-07-26 14:09
本实用新型专利技术提供了一种用于异型α、β探头的检定源盒,用于电离辐射计量检定、校准众多形状各异的α、β探头。本实用新型专利技术含有弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口、底盘、屏蔽防尘盖。本实用新型专利技术中的弧形固定嵌卡曲面的嵌卡弧Ⅰ与旋转式嵌取窗口的嵌卡弧Ⅱ对应设置,弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口与待检仪器的探测探头对应设置,底盘的直径分别与弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口的直径相匹配。本实用新型专利技术在检定、校准异型α、β探头的过程中,用于异型α、β探头的检定源盒在距离控制、多功能性、安全性、操作过程简单便捷的基础上确保计量检定量值传递的准确可靠,具有简单、可靠、易实现的优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电离辐射计量检定、校准领域,具体涉及一种用于异型α、β探头的检定源盒,能够用于检定、校准异型α、β探头和存储α、β标准放射源。
技术介绍
在战略武器预研、试验及核设施退役过程中,需使用大量的异型α、β探头。随着对放射性场所表面污染监测的需要,各核仪器公司相继开发出形状各异的α、β表面污染测量仪,其探头探测窗口形状、大小不尽相同,有圆形、长方形、正方形,甚至在一个探头上设有多个探测窗口。按电离辐射计量检定规程JJG478-96规定,对α、β表面污染测量仪进行检定、校准时需有严格的实验操作平台。面对这些强检的α、β表面污染测量仪,对标准放射源表面与探测器之间的距离、几何中心位置,现有技术已不能满足对众多形状各异的α、β探头进行检定、校准工作,从而导致检定、校准结果的不确定度增大,降低了检定、校准数据的可靠性。
技术实现思路
为了克服已有技术中检定源盒难以满足对众多形状各异的α、β探头检定、校准的不足,本技术提供一种用于异型α、β探头的检定源盒。本技术采用的技术方案是:本技术的用于异型α、β探头的检定源盒,其特点是,所述的检定源盒包括弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口、底盘、屏蔽防尘盖,其中,所述的弧形固定嵌卡曲面含有螺旋条纹1、置取卡点1、嵌卡弧I,所述的旋转式嵌取窗口含有置取卡点I1、嵌卡弧I1、固定螺钮,所述的底盘设置有螺旋条纹II。其连接关系是,所述的弧形固定嵌卡曲面外侧设置有螺旋条纹I,内侧设置有嵌卡弧I,在嵌卡弧I两端点设有置取卡点1、置取卡点III。所述的旋转式嵌取窗口内侧设置有嵌卡弧II,在嵌卡弧II两端点设有置取卡点I1、置取卡点IV。旋转式嵌取窗口一端点设置有固定螺钮。所述的底盘设置有螺旋条纹II。所述的弧形固定嵌卡曲面固定在底盘上的一侧,旋转式嵌取窗口通过固定螺钮固定在底盘上的另一侧,旋转式嵌取窗口通过固定螺钮使置取卡点I与置取卡点II相嵌卡、置取卡点III与置取卡点IV相嵌卡。所述的弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口分别设置在同一轴心线两侧。屏蔽防尘盖设置有与螺旋条纹1、螺旋条纹II对应的内螺纹。弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口、底盘固定在屏蔽防尘盖内。所述的弧形固定嵌卡曲面的嵌卡弧I与旋转式嵌取窗口的嵌卡弧II对应设置。所述的弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口与待检仪器的探测探头对应设置。所述的底盘的直径分别与弧形固定嵌卡曲面、旋转式嵌取窗口的直径相匹配,由弧形固定嵌卡曲面I和旋转式嵌取窗口 2构成的圆周与底盘3匹配。所述的弧形固定嵌卡曲面通过低原子序数的聚四氟乙烯材料与底盘的固定连接。本技术中设置的置取卡点1、嵌卡弧1、置取卡点I1、嵌卡弧II以便于标准放射源的置入、取出、存储,同时固定控制标准放射源表面与异型α、β探头保护栅网之间的距离、几何中心位置,底盘、屏蔽防尘盖起到保护标准放射源不受污染损坏。按照电离辐射计量检定规程JJG478-96规定,在检定、校准α、β表面污染测量仪的异型α、β探头时,异型α、β探头保护栅网与标准放射源表面之间距离有着不同要求。其中,检定、校准α、β表面污染测量仪的异型α探头时,α标准放射源表面与异型α探头保护栅网之间距离为5mm。检定、校准α、β表面污染测量仪的异型β探头时,β标准放射源表面与异型β探头保护栅网之间距离为10mm。本技术的有益效果是,距离控制:有效固定控制标准放射源表面与异型α、β探头保护栅网之间的距离、几何中心位置,降低数据不确定度,从而提高检定、校准数据的准确度;多功能性:适合α、β探头形状大小各异、多探测窗口的α、β表面污染测量仪;安全性:解决标准放射源的损坏、污染;操作过程简单便捷:有效提高检定、校准异型α、β探头的工作效率。在检定、校准异型α、β探头的过程中,用于异型α、β探头的检定源盒在距离控制、多功能性、安全性、操作过程简单便捷的基础上确保计量检定量值传递的准确可靠,具有简单、可靠、易实现的优点。【附图说明】图1为本技术的用于异型α、β探头的检定源盒的解析图;图中,1.弧形固定嵌卡曲面 2.旋转式嵌取窗口 3.底盘 4.螺旋条纹I 5.置取卡点I6.嵌卡弧I7.固定螺钮 14.螺旋条纹II15.置取卡点II 16.嵌卡弧II。【具体实施方式】下面结合附图对本技术进行详细描述。实施例1图1为本技术的用于异型α、β探头的检定源盒的解析图在图1中,本技术的用于异型α、β探头的检定源盒,包括弧形固定嵌卡曲面1、旋转式嵌取窗口 2、底盘3、屏蔽防尘盖,其中,所述的弧形固定嵌卡曲面I含有螺旋条纹I 4、置取卡点I 5、嵌卡弧I 6,所述的旋转式嵌取窗口 2含有置取卡点II 15、嵌卡弧II 16、固定螺钮7,所述的底盘3设置有螺旋条纹II 14。其连接关系是,所述的弧形固定嵌卡曲面I外侧设置有螺旋条纹I 4,内侧设置有嵌卡弧I 6,在嵌卡弧I 6两端点设有置取卡点I 5、置取卡点III。所述的旋转式嵌取窗口 2内侧设置有嵌卡弧II 16,在嵌卡弧II 16两端点设有置取卡点II 15、置取卡点IV。旋转式嵌取窗口 2 —端点设置有固定螺钮7。所述的底盘3设置有螺旋条纹II 14。所述的弧形固定嵌卡曲面I固定在底盘3上的一侧,旋转式嵌取窗口 2通过固定螺钮7固定在底盘3上的另一侧。所述的弧形固定嵌卡曲面1、旋转式嵌取窗口 2分别设置在同一轴心线两侧。屏蔽防尘盖设置有与螺旋条纹I 4、螺旋条纹II 14对应的内螺纹。弧形固定嵌卡曲面1、旋转式嵌取窗口 2、底盘3固定在屏蔽防尘盖内。所述的弧形固定嵌卡曲面I的嵌卡弧I 6与旋转式嵌取窗口 2的嵌卡弧II 16对应设置。所述的弧形固定嵌卡曲面1、旋转式嵌取窗口 2与待检仪器的探测探头对应设置。所述的底盘3的直径分别与弧形固定嵌卡曲面1、旋转式嵌取窗口 2的直径相匹配,由弧形固定嵌卡曲面I和旋转式嵌取窗口 2构成的圆周与底盘3匹配。所述的弧形固定嵌卡曲面I通过低原子序数的聚四氟乙烯材料与底盘3的固定连接。本技术中的弧形固定嵌卡曲面I固定在底盘3上的一侧,旋转式嵌取窗口 2通过固定螺钮7固定在底盘3上的另一侧,旋转式嵌取窗口 2通过固定螺钮7使置取卡点I 5与置取卡点II 15相嵌卡、置取卡点III与置取卡点IV相嵌卡。置取卡点I 5、嵌卡弧I 6、置取卡点II 15、嵌卡弧II 16以便于标准放射源的置入、取出、存储,同时固定控制标准放射源表面与α、β探头保护栅网之间的距离、几何中心位置,底盘、屏蔽防尘盖起到保护标准放射源不受污染损坏。按照电离辐射计量检定规程JJG478-96规定,在检定、校准α、β表面污染测量仪的异型α、β探头时,异型α、β探头保护栅网与标准放射源表面之间距离有着不同要求。其中,检定、校准α、β表面污染测量仪的异型α探头时,α标准放射源表面与异型α探头保护栅网之间距离为5mm。检定、校准α、β表面污染测量仪的异型β探头时,β标准放射源表面与异型β探头保护栅网之间距离为10mm。本技术的用于异型α、β探头的检定源盒适合检定、校准众多形状各异的α、β探头,在检定、校准异型α、β探头时,把屏蔽防尘盖打开,把待检仪器的探测探头放在弧形固定嵌卡曲面1、旋转式嵌取窗口 2上完全贴合,即可开始检定、校准工作。【本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于异型α、β探头的检定源盒,其特征在于:所述的检定源盒包括弧形固定嵌卡曲面(1)、旋转式嵌取窗口(2)、底盘(3)、屏蔽防尘盖,其中,所述的弧形固定嵌卡曲面(1)含有螺旋条纹Ⅰ(4)、置取卡点Ⅰ(5)、嵌卡弧Ⅰ(6),所述的旋转式嵌取窗口(2)含有置取卡点Ⅱ(15)、嵌卡弧Ⅱ(16)、固定螺钮(7),所述的底盘(3)设置有螺旋条纹Ⅱ(14);其连接关系是,所述的弧形固定嵌卡曲面(1)外侧设置有螺旋条纹Ⅰ(4),内侧设置有嵌卡弧Ⅰ(6),在嵌卡弧Ⅰ(6)两端点设有置取卡点Ⅰ(5)、置取卡点Ⅲ;所述的旋转式嵌取窗口(2)内侧设置有嵌卡弧Ⅱ(16),在嵌卡弧Ⅱ(16)两端点设有置取卡点Ⅱ(15)、置取卡点Ⅳ;旋转式嵌取窗口(2)一端点设置有固定螺钮(7);所述的底盘(3)设置有螺旋条纹Ⅱ(14);所述的弧形固定嵌卡曲面(1)固定在底盘(3)上的一侧,旋转式嵌取窗口(2)通过固定螺钮(7)固定在底盘(3)上的另一侧,旋转式嵌取窗口(2)通过固定螺钮(7)使置取卡点Ⅰ(5)与置取卡点Ⅱ(15)相嵌卡、置取卡点Ⅲ与置取卡点Ⅳ相嵌卡;所述的弧形固定嵌卡曲面(1)、旋转式嵌取窗口(2)分别设置在同一轴心线两侧;屏蔽防尘盖设置有与螺旋条纹Ⅰ(4)、螺旋条纹Ⅱ(14)对应的内螺纹;弧形固定嵌卡曲面(1)、旋转式嵌取窗口(2)、底盘(3)固定在屏蔽防尘盖内。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郑慧杨小艳卓仁鸿文德智成晶丁大杰吕己禄涂俊毛本将
申请(专利权)人:中国工程物理研究院核物理与化学研究所
类型:新型
国别省市:四川;51

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