一种检测显示芯片漏电的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种检测显示芯片漏电的方法及装置，涉及电子领域，能够解决现有技术中因为检测设备的限制而存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。具体方案为：获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电。本发明专利技术用于检测显示芯片漏电。

【技术实现步骤摘要】
一种检测显示芯片漏电的方法及装置
本专利技术涉及电子领域，尤其涉及一种检测显示芯片漏电的方法及装置。
技术介绍
对于电脑、电视等包含显示屏的电子设备，其内部都包含有显示芯片，用于对图像信号进行处理，然后在显示屏上显示图像。现有技术中，显示芯片出厂时，会进行漏电检测，检测需要搭建基台，费用昂贵。因为检测设备费用昂贵，而且受检测设备自身的限制，有很大程度上会漏检，而且显示芯片批量生产时，只会对生产出的显示芯片做抽样检测，这样，因为存在漏检，使得显示芯片返修率较高。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种检测显示芯片漏电的方法及装置，能够解决现有技术中因为存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：第一方面，一种检测显示芯片漏电的方法，包括：获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值为；如果所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定所述显示芯片漏电。第一方面，一种检测显示芯片漏电的装置，包括：获取单元，用于获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；采样单元，用于对所述获取单元获取的所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；调节单元，用于通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值；判断单元，用于当所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值时，确定所述显示芯片漏电。本专利技术实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法及装置，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，如果所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值大于或等于第一阈值，则确定显示芯片漏电，解决了现有技术中因为检测设备的限制而存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。本专利技术实施例提供的检测显示芯片漏电的方法，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电，因为每个显示芯片都需要进行offset(移位)校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法流程示意图；图2为本专利技术另一实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法流程示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种信号采样示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种检测显示芯片漏电的装置结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种检测显示芯片漏电的方法，可选的，该显示芯片可以是电视机的显示芯片或者电脑的显示芯片，对此，本专利技术不做限制。参照图1所示，本实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法包括以下步骤：101、获取显示芯片输出的第一模拟信号。第一模拟信号设定的电平值是恒定的。优选的，第一模拟信号属于YUV信号(色差信号)，可选的，第一模拟信号设定的电平值为0电平。或者可选的，第一模拟信号属于RGB(红绿蓝)信号，第一模拟信号设定的电平值为0电平。102、对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值。第一采样值是数字信号的码值。因为第一模拟信号设定的电平值是恒定的，所以经过模数转换后得到的第一采样值也应该是恒定的，但是由于产品质量及误差等原因，第一采样值并不准确，可以进行多次采样求取平均值。例如：对第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数；计算N个采样值的平均值并将N个采样值的平均值作为第一采样值。103、通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值。其中，第一标准值为第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值。优选的，第一阈值可以为0，即通过对第一模拟信号进行移位调节，使得第一采样值等于第一标准值。104、如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电。如果显示芯片漏电，就会使得第一模拟信号的电平值大于第一模拟信号设定的电平值，调节移位寄存器，就是要降低第一模拟信号的电平值，使得第一模拟信号的电平值与其设定的电平值一致，如果芯片漏电过大，使得第一模拟信号的电平值超出设定的电平值过多，导致调节移位寄存器也不能将第一模拟信号的电平值降低至设定的电平值，则证明该显示芯片为不合格产品。因此，移位寄存器改变的值越大，证明显示芯片漏电越大，如果移位寄存器改变的值大于预设阈值，就可以认为显示芯片漏电，此处定义的显示芯片漏电指的是显示芯片漏电过大影响信号质量，为不合格产品，当然有些显示芯片漏电很小，不影响信号质量，是允许的误差，对这类显示芯片只需通过offset(移位)校正就可以保证正常工作，可以不视为漏电。结合步骤101，当第一模拟信号属于YUV(色差)信号，第一模拟信号设定的电平值为0电平时，可选的，在VESA(VideoElectronicsStandardsAssociation，视频电子标准协会)标准中，当第一模拟信号属于YUV信号中的Y信号时，第一标准值为64，当第一模拟信号属于YUV信号中的U信号或V信号时，第一标准值为512。值得说明的是，本专利技术中所说的预设阈值，需要根据具体情况进行设定，优选的，可以对多个样本芯片进行测试，测试出多个样本芯片移位寄存器改变的值，再求出其平均值作为预设阈值，对预设阈值的确定方法，本专利技术不做限制。通过上述方式，本实施例提供的检测显示芯片的方法，在对显示芯片进行offset(移位)校正的过程中，检测了显示芯片是否漏电，如果确定显示芯片漏电，则确认该显示芯片不合格。因为每个显示芯片都需要进行offset校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率。本专利技术实施例提供的检测显示芯片漏电的方法，获取显示芯片输出的第一模拟信号，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测显示芯片漏电的方法，其特征在于，包括：获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值；如果所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定所述显示芯片漏电。

【技术特征摘要】
1.一种检测显示芯片漏电的方法，其特征在于，包括：获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值；如果所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定所述显示芯片漏电。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取显示芯片输出的第一模拟信号之前，还包括：获取所述显示芯片输出的第二模拟信号，所述第二模拟信号包括一个高电平和一个低电平；对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值，所述第一幅度值为所述第二模拟信号的幅度值在所述第二模拟信号转换为数字信号后对应的数字信号的码值，所述第二模拟信号的幅度值为所述第二模拟信号包括的高电平与低电平的差值；如果所述第一幅度值与第二标准值差值的绝对值大于第二阈值，则对所述第二模拟信号进行幅度调节，使得调节后得到的所述第一幅度值与所述第二标准值差值的绝对值小于或等于所述第二阈值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值，包括：对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到M1个高电平值和M2个低电平值，M1和M2均为大于或等于2的整数；计算所述M1个高电平值的平均值与所述M2个低电平值的平均值之差得到所述第一幅度值。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二模拟信号属于色差YUV信号，或者，所述第二模拟信号属于红绿蓝RGB信号。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，包括：对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数；计算所述N个采样值的平均值并将所述N个采样值的平均值作为所述第一采样值。6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述第一模拟信号属于YUV信号，所述第一模拟信号为0电平；当所述第一模拟信号属于所述YUV信号中的Y信号时，所述第一标准值为64，当所述第一模拟信号属于所述YUV信号中的U信号或V信号时，所述第一标准值为512；或者，所述第一模拟信号属于RGB信号，所述第一模拟信号为0电平，所述第一标准值为0。7.一种检测显示芯片漏电的装置，其特征在于，包括：获取单元，用于获取显示芯片输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，
申请(专利权)人：青岛海信信芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37