测试装置制造方法及图纸

一种测试装置，用以测试至少一电源模块。电源模块具有本体与从本体对向延伸的第一端子与第二端子。测试装置包括基座与探针组。基座具有第一接垫组与第二接垫组，电源模块配置于基座，且第一端子接触第一接垫组，第二端子接触第二接垫组。探针组具有多个探针。在测试电源模块时，探针用以电性连接第一接垫组与第二接垫组。第一接垫组具有至少两个第一电耦极接垫，第一端子具有至少两个第一电耦极端子，对应地接触第一电耦极接垫。第二接垫组具有至少两个第二电耦极接垫，第二端子具有至少两个第二电耦极端子，对应地接触第二电耦极接垫。

【技术实现步骤摘要】
测试装置
本专利技术是有关于一种测试装置，且特别是有关于一种用以测试电源模块的测试装置。
技术介绍
随着照明技术的发展，发光二极管（lightemittingdiode,LED）具有较高的发光效率、低辐射、低耗电、寿命长、低驱动电压、启动快速、环保、抗震抗压、灯具可小型化等传统光源无法与之比较的优点。再者，因应世界各国都鼓励节能减碳，因此近年来运用LED制成的灯具已广泛于室内、外照明上，并逐渐取代传统灯具而形成主流趋势。目前其中一种LED灯具的发展型态，是直接将LED发光组件制成灯泡或灯管型态，亦即将配置有多个LED的LED光源基板与用以驱动LED的电源模块一同组装于灯管中而用来取代传统钨丝灯泡、省电灯泡或日光灯管，其优点的是不必更换传统灯具，只要将LED发光组件替换传统灯泡或灯管即可。惟，因应各种型式的灯泡或灯管，配置在LED灯具内的电源模块亦产生多种不同外型，而在灯具的制作过程中，这些具有不同外型的电源模块均需在组装前进行相关电性测试。为此，生产线必需因应这些电源模块的外型而设计对应的各种测试装置，以利将不同外型的电源模块放置其上而进行测试。举例来说，不同型式的电源模块，其用以传输电力的接脚外型、尺寸、间距等亦会随的改变。换言之，在进行电性测试时，装置上的对位治具与测试探针的外型与尺寸亦需与其对应，因而在更换测试不同形式的电源模块之前，操作者必需先行更换或调整上述测试装置的治具或探针。如此，不但造成时间与生产成本的增加，更容易在测试的过程中产生错误。据此，如何设计可供共享的测试装置，以让不同外型的电源模块皆能适用，便成为制作LED灯具的相关人员所需思考及解决的课题。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试装置，其能适用于不同外型的电源模块而有效提高制程效率。本专利技术的测试治具，用以测试至少一电源模块。电源模块具有本体与从本体对向延伸的第一端子与第二端子。测试装置包括基座与探针组。基座具有第一接垫组与第二接垫组。电源模块配置于基座，且使第一端子接触第一接垫组，第二端子接触第二接垫组。探针组具有多个探针。在测试电源模块时，多个探针用以电性连接第一接垫组与第二接垫组。第一接垫组具有至少两个第一电耦极接垫，第一端子具有至少两个第一电耦极端子，分别用以对应地电性接触该至少两个第一电耦极接垫。第二接垫组具有至少两个第二电耦极接垫，第二端子具有至少两个第二电耦极端子，分别用以对应地电性接触该至少两个第二电耦极接垫。在本专利技术的一实施例中，在测试上述电源模块时，上述探针组的多个探针位于第一接垫组与第二接垫组的范围内。在本专利技术的一实施例中，上述的基座具有开口。第一接垫组与第二接垫组位在开口的相对两侧。在本专利技术的一实施例中，上述的基座还具有至少一第一挡墙，立设在第一接垫组的至少两个第一电耦极接垫之间以电性隔离该至少两个第一电耦极接垫。上述的基座还具有至少一第二挡墙，立设在第二接垫组的至少两个第二电耦极接垫之间以电性隔离该至少两个第二电耦极接垫。在本专利技术的一实施例中，上述的第一挡墙的宽度不同于第二挡墙的宽度。第一电耦极端子之间的距离不同于第二电耦极端子之间的距离。在本专利技术的一实施例中，上述的第一挡墙的宽度大于第二挡墙的宽度。第一电耦极端子之间的距离大于第二电耦极端子之间的距离。第一挡墙的宽度小于第一电耦极端子之间的距离但大于第二电耦极端子之间的距离。在本专利技术的一实施例中，还包括第一压条与第二压条。第一压条可拆卸地组装至基座以抵压第一端子。第二压条可拆卸地组装至基座以抵压第二端子。基座还具有至少一磁性组件，用以对应磁吸第一压条及/或第二压条。在本专利技术的一实施例中，上述的至少一磁性组件包含第一磁性组件、第二磁性组件、第三磁性组件与第四磁性组件。第一压条具有第一磁性组件，第二压条具有第二磁性组件。基座具有第三磁性组件与第四磁性组件。第三磁性组件用以磁吸第一磁性组件，第四磁性组件用以磁吸第二磁性组件，且第一磁性组件的磁极相反于第二磁性组件的磁极。在本专利技术的一实施例中，上述的第一压条与第二压条分别具有多个开孔。这些开孔在基座上的正投影座落于第一接垫组与第二接垫组的范围内。上述多个探针穿过开孔而接触第一接垫组与第二接垫组。在本专利技术的一实施例中，上述的第一压条还具有第一开槽，第二压条还具有第二开槽，且第一开槽的宽度符合第一挡墙的宽度，第二开槽的宽度符合第二挡墙的宽度。在本专利技术的一实施例中，基座包括一第一部件与两个第二部件，第一部件具有一开口，该两个第二部件分别配置在开口的相对两侧，第一接垫组配置于该两个第二部件的其中之一，该第二接垫组配置在该两个第二部件的其中之另一，各第二部件具有至少一扩孔，而测试装置还包括多个锁附件，该些锁附件穿过该些扩孔而锁入第一部件，以将该两个第二部件固定于第一部件上，且借由该些扩孔调整该两个第二部件之间的相对距离。在本专利技术的一实施例中，上述的第一端子的延伸方向与第二端子的延伸方向平行于同一轴向，而各扩孔的延伸方向平行于该轴向。在本专利技术的一实施例中，上述的第一压条与第二压条分别具有至少一第三开槽，而基座还具有多个定位柱。借由定位柱对应地卡置于第三开槽，而使第一压条与第二压条分别定位于基座上。相较于现有技术，在本专利技术的上述实施例中，借由配置在基座上的接垫组，用以让电源模块的端子对应地接触接垫组，且在进行测试时，亦让探针组的多个探针能对应的电性连接接垫组。据此，借由接垫组作为探针与端子之间的电性连接媒介，而让使用者在进行电源模块的电性测试时，无须另行更换对应的承载基座以让端子于探针进行对位，同时亦无需对电源模块的外型设计不同的基座以达到定位的效果。换句话说，此举有效地简化电源模块于进行电性测试时的相关流程，进而提高产线流程的效率与降低制造成本。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。【附图说明】图1是依据本专利技术一实施例的一种测试装置的示意图。图2是图1的测试装置于基座处的部分构件爆炸图。【具体实施方式】图1是依据本专利技术一实施例的一种测试装置的示意图。图2是图1的测试装置于基座处的部分构件组装示意图。请同时参考图1与图2。在本实施例中，测试装置100用以测试LED灯具（未绘示）内的电源模块200以确保其电气特性。电源模块200作为LED灯具内的电子驱动组件，其电性连接于LED灯具内的LED组件（未绘示）。电源模块200具有本体210与从本体210对向延伸的第一端子220与第二端子230，其中第一端子220用以电性连接至电源（未绘示），经由本体210的电子组件予以转换调整后，再经由第二端子230将电力传送至LED组件而使其发光。据此，当生产线完成电源模块200的制作后，需对其进行相关电性测试，以确保其能于之后组装成为LED灯具时顺利地进行电性连接的动作并达到上述的驱动效果。基于上述，本实施例的测试装置100包括基座110、探针组120、平台130与控制模块140，其中控制模块140电性连接平台130与探针组120，基座110可拆卸地配置在平台130上，且在一实施例中，平台130可以是移动平台，以承载基座110并驱使其沿平面移动或相对于平面升降。当电源模块200配置于基座110上时，控制模块140驱动平台130与探针组120相对运动，并由探针组120提供电源模块20本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试装置，用以测试至少一电源模块，该至少一电源模块具有一本体与从该本体对向延伸的一第一端子与一第二端子，其特征在于，该测试装置包括：一基座，具有一第一接垫组与一第二接垫组，该电源模块配置于该基座，且使该第一端子接触该第一接垫组，该第二端子接触该第二接垫组；一探针组，具有多个探针，在测试该电源模块时，该多个探针用以电性连接该第一接垫组与该第二接垫组；其中该第一接垫组具有至少两个第一电耦极接垫，该第一端子具有至少两个第一电耦极端子，分别用以对应地电性接触该至少两个第一电耦极接垫，该第二接垫组具有至少两个第二电耦极接垫，该第二端子具有至少两个第二电耦极端子，分别用以对应地电性接触该至少两个第二电耦极接垫。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，用以测试至少一电源模块，该至少一电源模块具有一本体与从该本体对向延伸的一第一端子与一第二端子，其特征在于，该测试装置包括：一基座，具有一第一接垫组与一第二接垫组，该电源模块配置于该基座，且使该第一端子接触该第一接垫组，该第二端子接触该第二接垫组；一探针组，具有多个探针，在测试该电源模块时，该多个探针用以电性连接该第一接垫组与该第二接垫组；其中该第一接垫组具有至少两个第一电耦极接垫，该第一端子具有至少两个第一电耦极端子，分别用以对应地电性接触该至少两个第一电耦极接垫，该第二接垫组具有至少两个第二电耦极接垫，该第二端子具有至少两个第二电耦极端子，分别用以对应地电性接触该至少两个第二电耦极接垫；该基座还具有至少一第一挡墙，立设在该第一接垫组的该至少两个第一电耦极接垫之间以电性隔离该至少两个第一电耦极接垫，该基座还具有至少一第二挡墙，立设在该第二接垫组的该至少两个第二电耦极接垫之间以电性隔离该至少两个第二电耦极接垫。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，在测试该电源模块时，该探针组的多个探针位于该第一接垫组与该第二接垫组的范围内。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该基座具有一开口，该第一接垫组与该第二接垫组位在该开口的相对两侧。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第一挡墙的宽度不同于该第二挡墙的宽度，且该至少两个第一电耦极端子之间的距离不同于该至少两个第二电耦极端子之间的距离。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，该第一挡墙的宽度大于该第二挡墙的宽度，该至少两个第一电耦极端子之间的距离大于该至少两个第二电耦极端子之间的距离，且该第一挡墙的宽度小于该至少两个第一电耦极端子之间的距离但大于该至少两个第二电耦极端子之间的距离。6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该测试装置还包括：一第一压条，可拆卸地组装至该基座以抵压该第一端子；一第二压条，可拆卸地组装至...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊大嵩，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，神基科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32