一种测试二阶系统试验装置制造方法及图纸

一种测试二阶系统试验装置，包括测试二阶系统试验装置阻尼杆（1），测试二阶系统试验装置壳体结构（2），测试二阶系统试验装置固定结构（3），测试二阶系统试验装置阻尼杆（1）与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构（3）与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构（2），为直筒形结构，两端光滑；所述的测试二阶系统试验装置固定结构（3）为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用螺纹连接。本发明专利技术的优点：本发明专利技术所述的测试二阶系统试验装置能够重复使用，节约资源，避免浪费，降低成本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试二阶系统试验装置，其特征在于：所述的测试二阶系统试验装置包括测试二阶系统试验装置阻尼杆（1），测试二阶系统试验装置壳体结构（2），测试二阶系统试验装置固定结构（3），测试二阶系统试验装置阻尼杆（1）与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构（3）与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构（2），为直筒形结构，一端或两端带有螺纹。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨光，
申请(专利权)人：杨光，
类型：发明
国别省市：辽宁;21