半导体装置以及使用该半导体装置的电流检测电路制造方法及图纸

技术编号:11480569 阅读:76 留言:0更新日期:2015-05-20 13:48
本发明专利技术公开了一种半导体装置以及使用该半导体装置的电流检测电路。本发明专利技术能够防止与过电流有关的误检测,并且无需不感测时间而对主元件的电流是否为过电流进行判断。在使主元件100导通时,向感测元件200的栅极施加指示比主元件100早导通的栅极信号,通过在主元件200中流过电流之前产生由感测元件100的栅极输入部的微分电路引起的过冲,防止与过电流有关的误检测,并且能够无需不感测时间而对主元件100的电流是否为过电流进行判断。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种半导体装置,其特征在于,在同一半导体基板上具有主元件和用于检测流过所述主元件的电流的感测元件,所述主元件的集电极端子和所述感测元件的集电极端子相互连接,当使所述主元件导通时,向所述感测元件的栅极施加指示比所述主元件提前导通的栅极信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:关川贵善
申请(专利权)人:富士电机株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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