一种基于残周期解调的差分式激光测冲击方法及装置制造方法及图纸

技术编号:11453330 阅读:64 留言:0更新日期:2015-05-14 02:35
本发明专利技术涉及一种基于残周期解调的差分式激光测冲击方法及装置,属于光电测量技术领域。该发明专利技术的思想是使用小于一个载波周期的模型段进行正弦参数的最优估计,然后将估计结果用于差分式激光测冲击数据处理,从而完成激光多普勒信号的瞬时频率解调,进而获得冲击速度波形和冲击加速度波形。本发明专利技术所述装置由激光器1、分束棱镜2、聚焦透镜3、测量表面(光栅)4、冲击台5、反射镜6、反射镜7、聚焦透镜8、光电转换器9和数据采集系统10组成。应用本发明专利技术方法所述方法及装置进行冲击测量,其时间分辨力高、算法绝对收敛、对于非平稳激光多普勒时域信号具有较强的适应性和鲁棒性,可以方便进行溯源校准。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于残周期解调的差分式激光测冲击装置,其特征在于:包括激光器1、分束棱镜2、聚焦透镜3、光栅测量表面4、冲击台5、反射镜6、反射镜7、聚焦透镜8、光电转换器9和数据采集系统10;激光器1发出的激光经分束棱镜2一分为二后,经聚焦透镜3聚焦后分别到达光栅测量表面4的衍射光栅上,经衍射光栅反射后合束为一束,经反射镜6、反射镜7反射,到达聚焦透镜8产生干涉,最终干涉信号被光电转换器9接收转换成电信号,该电信号经数据采集系统10进行波形采集,获得信号的采集序列。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁志国朱振宇李新良张大鹏
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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