检测彩膜表面形貌的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测彩膜表面形貌的方法及装置，其中的装置包括相对设置的光源和光线探测器，还包括：第一导轨；可沿第一导轨移动的底座；固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。本发明专利技术可以实现单色亚像素的色度值和表面形貌信息的同时测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，具体涉及一种检测彩膜表面形貌的方法及装置。
技术介绍
现有技术中，分光光度计可以用于对单色亚像素的色度值检测。如图1所示，该分光光度计包括白色点光源、用于控制白色点光源的发光与移动的光源模块、探头以及与探头相连的光谱仪，其色度值检测原理如下所述：将分光光度计的白色点光源置于单色亚像素的一侧，并在另一侧以探头接收透过单色亚像素的光线，从而得到该单色亚像素的透射光谱，根据透射光谱中的数据经过计算即可得到与每一单色亚像素对应的色度值。然而，现有技术在测量色度值时通常对准单色亚像素的中心点，并没有包含每一单色亚像素表面形貌的信息。而为了获取每一单色亚像素表面形貌的信息，现有技术通常需要采用膜厚测量仪来进行实际测量。但这一测量方式不仅需要额外占用测试人员用大量时间和精力，同时还由于人工标定过程存在主观因素等问题导致测量结果存在很大的误差。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种检测彩膜表面形貌的方法及装置，可以实现单色亚像素的色度值和表面形貌信息的同时测量。第一方面，本专利技术提供了一种检测彩膜表面形貌的装置，包括相对设置的光源和光线探测器；该装置还包括：第一导轨；可沿第一导轨移动的底座；固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；r>所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。可选地，所述多个第二固定点包括用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素边缘处的位置点的第二固定点，以及用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中心处位置点的第二固定点。可选地，该装置还包括：检测单元，用于基于所述第一导轨、所述底座、所述第二导轨以及所述相对设置的光源和光线探测器对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检测；第一计算单元，用于根据来自所述检测单元的检测结果计算所述单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色度值；第二计算单元，用于根据预先设定的色度值-膜厚关系由所述第一计算单元得到的每一所述位置点处的色度值计算每一所述位置点处的彩膜膜厚；第三计算单元，用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位置点处的彩膜膜厚获取所述单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。可选地，所述第三计算单元进一步用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位置点处的彩膜膜厚计算所述彩膜的角段差。可选地，每一单色亚像素中的所述多个位置点均以相同方式设置；所述第四计算单元包括：第一计算模块，用于计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述位置点处的彩膜膜厚的平均值；第二计算模块，用于根据所述第一计算模块得到的彩膜膜厚的平均值计算所有所述颜色相同的单色亚像素的彩膜的角段差。可选地，该装置还包括：预检测单元，用于在第一计算单元计算色度值之前，基于所述第一导轨、所述底座、所述第二导轨以及所述相对设置的光源和光线探测器对彩膜基板中除彩膜图案之外的至少部分区域进行检测；所述第一计算单元进一步用于将来自所述预检测单元的所述至少部分区域的检测结果作为本底成分在来自所述检测单元的每一所述位置点的检测结果中去除，并根据去除后的检测结果计算彩膜在每一位置点处的色度值。第二方面，本专利技术还提供了一种检测彩膜表面形貌的方法，包括：基于分光光度法对彩膜基板上任一单色亚像素中的多个位置点进行检测；根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色度值；根据预先设定的色度值-膜厚关系由每一所述位置点处的色度值计算每一所述位置点处的彩膜膜厚；根据每一位置点处的彩膜膜厚获取该单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。可选地，所述根据每一位置点处的彩膜膜厚获取该单色亚像素的彩膜的表面形貌信息，包括：根据该单色亚像素中多个位置点处的彩膜膜厚计算角段差。可选地，每一单色亚像素中的所述多个位置点均以相同方式设置；所述根据该单色亚像素中多个位置点处的彩膜膜厚计算角段差，包括：计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述位置点处的彩膜膜厚的平均值；根据所述彩膜膜厚的平均值计算所有所述颜色相同的单色亚像素的彩膜的角段差。可选地，所述根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色度值之前，还包括：基于分光光度法对彩膜基板上除彩膜图案之外的至少部分区域进行检测；所述根据每一所述位置点的检测结果计算该单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色度值，包括：将所述至少部分区域的检测结果作为本底成分在每一所述位置点的检测结果中去除，并根据去除后的检测结果计算彩膜在每一所述位置点处的色度值。由上述技术方案可知，基于本专利技术提供的检测彩膜表面形貌的装置，可以通过底座在第一导轨上的移动可以实现第二导轨与每一单色亚像素的对准，而光线探测器在第二导轨上的移动可以实现光线探测器与单色亚像素中多个位置点的对准。从而，本专利技术即可利用该装置对同一单色亚像素中多个位置点的检测结果得到其色度值以及表面形貌信息。基于本专利技术提供的检测彩膜表面形貌的方法，可以通过对每一单色亚像素中多个位置点的检测得到与每一位置点对应的色度值和膜厚数据，因而基于这些数据可以更准确地计算得到每一单色亚像素的色度值和表面形貌信息。相比于现有技术而言，本专利技术不需要单独采用膜厚测量仪来进行彩膜表面形貌的实际测量，节省成本；同时由于本专利技术将人工测量转变为仪器测量，因而可以消除人工操作带来的测量误差。而且，这样的设置也使色度值可以根据多个位置点的检测结果综合得出，具有更高的准确性。当然，实施本专利技术的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是现有技术中一种利用分光光度计检测单色亚像素色度值的方法的示意图；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测彩膜表面形貌的装置，包括相对设置的光源和光线探测器，其特征在于，该装置还包括：第一导轨；可沿第一导轨移动的底座；固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。

【技术特征摘要】
1.一种检测彩膜表面形貌的装置，包括相对设置的光源和光线探
测器，其特征在于，该装置还包括：
第一导轨；
可沿第一导轨移动的底座；
固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；
所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸
方向移动；
所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上
的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；
所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一
单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多个第二固定
点包括用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素边缘处
的位置点的第二固定点，以及用于使所述光线探测器对准彩膜基板上
每一单色亚像素中心处位置点的第二固定点。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，该装置还包括：
检测单元，用于基于所述第一导轨、所述底座、所述第二导轨以
及所述相对设置的光源和光线探测器对彩膜基板上任一单色亚像素中
的多个位置点进行检测；
第一计算单元，用于根据来自所述检测单元的检测结果计算所述
单色亚像素的彩膜在每一所述位置点处的色度值；
第二计算单元，用于根据预先设定的色度值-膜厚关系由所述第一
计算单元得到的每一所述位置点处的色度值计算每一所述位置点处的
彩膜膜厚；
第三计算单元，用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位置
点处的彩膜膜厚获取所述单色亚像素的彩膜的表面形貌信息。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第三计算单元
进一步用于根据所述第二计算单元得到的每一所述位置点处的彩膜膜
厚计算所述彩膜的角段差。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，每一单色亚像素中
的所述多个位置点均以相同方式设置；
所述第四计算单元包括：
第一计算模块，用于计算所有颜色相同的单色亚像素中每一所述
位置点处的彩膜膜厚的平均值；
第二计算模块，用于根据所述第一计算模块得到的彩膜膜厚的平
均值计算所有所述颜色相同的单色亚像素的彩膜的角段差。
6.根据权利要求3至5中任意一...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭杨辰，袁剑峰，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11