触控方法及触控电子装置制造方法及图纸

技术编号:11412776 阅读:89 留言:0更新日期:2015-05-06 12:38
一种触控方法及触控电子装置。触控电子装置包括角度数据库、功能数据库、触控面板及中央处理器。触控面板感测触控点。中央处理器根据触控点计算触控角度,并将触控角度存入角度队列。中央处理器自角度数据库取出比对范本,并比较角度队列与比对范本以产生比对结果。中央处理器将比对结果依序存入比较队列。中央处理器自功能数据库取出结果队列,并判断比较队列与结果队列是否相符。当比较队列与结果队列相符,中央处理器执行与结果队列相对应的功能操作。本发明专利技术提供的触控电子装置能根据触控点所形成的多边形执行相对应的功能操作,进而大幅提高使用上的便利性。

【技术实现步骤摘要】
触控方法及触控电子装置
本专利技术是有关于一种电子装置,且特别是有关于一种触控方法及触控电子装置。
技术介绍
随着科技的进步,越来越多的电子装置舍弃传统的键盘鼠标装置而改以触控面板作为标准的输入和输出的界面。透过触控面板,电子装置提供使用者借由手指在触控面板上的触碰或滑动来执行触控操作。近年来,多点触控的装置越来越普及,采用多点触控的应用也越来越多。使用者面对动态触控应用的程序界面或画面,可借由多点的触控手势操作来执行画面移动、切换或缩放等效果。然而使用者面对静态触控应用的程序界面或画面,则仍须依赖画面所提供的视窗点击元件。一旦画面上未显示对应的视窗点击元件,触控操作的功能便难以发挥。
技术实现思路
本专利技术是有关于一种触控方法及触控电子装置,用于根据触控点所形成的多边形执行相对应的功能操作。根据本专利技术,提出一种触控方法。触控方法包括:感测触控点;根据触控点计算触控角度;将触控角度存入角度队列;比较角度队列与比对范本以产生比对结果,并将比对结果依序存入比较队列;判断比较队列与结果队列是否相符;以及当比较队列与结果队列相符,执行与结果队列相对应的功能操作。根据本专利技术,提出一种触控电子装置。触控电子装置包括角度数据库、功能数据库、触控面板及中央处理器。触控面板感测触控点。中央处理器根据触控点计算触控角度,并将触控角度存入角度队列。中央处理器自角度数据库取出比对范本,并比较角度队列与比对范本以产生比对结果。中央处理器将比对结果依序存入比较队列。中央处理器自功能数据库取出结果队列,并判断比较队列与结果队列是否相符。当比较队列与结果队列相符,中央处理器执行与结果队列相对应的功能操作。通过上述结构,即便触控电子装置未显示任何视窗点击元件,该触控电子装置亦能根据触控点所形成的多边形执行相对应的功能操作,进而大幅提高使用上的便利性。为了对本专利技术的上述及其他方面有更佳的了解,下文特举较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:附图说明图1绘示为依照第一实施例的一种触控电子装置的示意图。图2绘示为触控角度稍小于比对角度的示意图。图3绘示为触控角度近似于比对角度的示意图。图4绘示为触控角度稍大于比对角度的示意图。图5及图6为依照第一实施例的一种触控方法的流程图。图7及图8为依照第二实施例的一种触控方法的流程图。符号说明:1:触控电子装置11:角度数据库12:功能数据库13:触控面板14:中央处理器501~514、701~714:步骤ΔAq:角度比对误差A(x):比对角度Mj:比对范本Fj:功能操作具体实施方式第一实施例请参照图1,图1绘示为依照第一实施例的一种触控电子装置的示意图。触控电子装置1例如为平板电脑或一体成型(All-in-One,AIO)电脑。触控电子装置1包括角度数据库11、功能数据库12、触控面板13及中央处理器14,且角度数据库11及功能数据库12可由储存装置所实现。触控面板13感测触控点。中央处理器14根据触控点计算触控角度T(x),并将触控角度T(x)存入角度队列Q。角度队列Q={T(1),T(2),…,T(m)},且x=1~m。中央处理器14自角度数据库11取出比对范本Mj,并比较角度队列与比对范本Mj以产生比对结果R(x)。比对范本Mj记录比对角度A(x),且比对范本Mj={A(1),A(2),…,A(m)}。中央处理器14将比对结果R(x)依序存入比较队列R,比较队列R={R(1),R(2),…,R(m)}。中央处理器14自功能数据库12取出结果队列C,并判断比较队列R与结果队列C是否相符。当比较队列R与结果队列C相符,表示触控点所形成的多边形与一预设多边形为近似多边形,中央处理器14执行与结果队列C相对应的功能操作Fj。功能操作Fj例如为弹出暖开机选项、弹出工作管理选项或画面解锁。如此一来,即便触控电子装置1未显示任何视窗点击元件,触控电子装置1亦能根据触控点所形成的多边形执行相对应的功能操作Fj,进而大幅提高使用上的便利性。前述触控角度T(x)与比对角度A(x)的比较可以有三种不同比对方式。第一种比对方式为触控角度T(x)稍小于比对角度A(x)。第二种比对方式为触控角度T(x)近似于比对角度A(x)。第三种比对方式为触控角度T(x)稍大于比对角度A(x)。请同时参照图1及图2,图2绘示为触控角度稍小于比对角度的示意图,其中触控角度T(x)由该图的阴影部分表示。当触控角度T(x)<A(x)-2ΔAq,表示触控角度T(x)稍小于比对角度A(x),中央处理器14设定比对结果R(x)=a。其中,ΔAq为角度比对误差,a为第一比对结果值。请同时参照图1及图3,图3绘示为触控角度近似于比对角度的示意图,其中触控角度T(x)由该图的阴影部分表示。当|(T(x)-A(x))/2|≦ΔAq,表示触控角度T(x)近似于比对角度A(x),中央处理器14设定比对结果R(x)=s。其中,s为第二比对结果值。请同时参照图1及图4,图4绘示为触控角度稍大于比对角度的示意图,其中触控角度T(x)由该图的阴影部分表示。当触控角度T(x)>A(x)+2ΔAq,表示触控角度T(x)稍大于比对角度A(x),中央处理器14设定比对结果R(x)=b。其中,b为第三比对结果值。请同时参照图1、图5及图6,图5及图6为依照第一实施例的一种触控方法的流程图。首先如步骤501所示,触控面板13感测触控点。触控点的集合V记录触控点I(i),且i=1~n。触控点的集合V={I(1),I(2),…,I(n)},且中央处理器14对应触控点I(i)给定时间标记t(i)。举例来说,中央处理器14对应最先释放触控点I(1)给定时间标记t(1),且中央处理器14对应最后释放触控点I(n)给定时间标记t(n)。中央处理器14自原点O开始依序连接原点O及触控点I(1)~I(n)以形成候选多边形PG。候选多边形PG={O,I(1),I(2),…,I(n),O}。接着如步骤502所示,中央处理器14判断最先释放触控点I(1)与最后释放触控点I(n)的时差t(n)-t(1)是否小于容许时差Δtr。容许时差Δtr可依检测需求定义。当时差t(n)-t(1)小于容许时差Δtr,表示最先释放触控点I(1)与最后释放触控点I(n)几乎同时释放,结束触控方法。相反地,当时差t(n)-t(1)不小于容许时差Δtr,表示最先释放触控点I(1)与最后释放触控点I(n)非同时释放,接着执行步骤503。如步骤503所示,中央处理器14定义候选多边形PG的各点为有效点,并将原点O、触控点I(1)、触控点I(2)、…、触控点I(n)及原点O存入有效点队列P。有效点队列P记录有效点P(i),有效点队列P={P(0),P(1),P(2),…,P(n),P(n+1)}={O,I(1),I(2),…,I(n),O}。接着如步骤504所示,中央处理器14判断有效点队列P的有效点个数是否大于或等于3。当有效点队列P的有效点个数小于3,则结束触控方法。相反地,当有效点个数大于或等于3,则执行步骤505。如步骤505所示,中央处理器14自有效点队列P取出连续排列的有效点P(k)、有效点P(k+1)及有效点P(k+2),且k=0~n-1。接着如步骤506所示,中央处理器14分别定义有效点P(k)本文档来自技高网...
触控方法及触控电子装置

【技术保护点】
一种触控方法,其特征在于,所述方法包括:感测多个触控点;根据所述多个触控点计算多个触控角度;将所述多个触控角度存入一角度队列;比较该角度队列与一比对范本以产生多个比对结果,并将所述多个比对结果依序存入一比较队列;判断该比较队列与结果队列是否相符;以及当该比较队列与该结果队列相符,执行与该结果队列相对应的一功能操作。

【技术特征摘要】
2013.10.31 TW 1021396001.一种触控方法,其特征在于,所述方法包括:感测多个触控点;根据所述多个触控点计算多个触控角度;将所述多个触控角度存入一角度队列;比较该角度队列与一比对范本以产生多个比对结果,并将所述多个比对结果依序存入一比较队列;判断该比较队列与结果队列是否相符;以及当该比较队列与该结果队列相符,执行与该结果队列相对应的一功能操作。2.如权利要求1所述的触控方法,其特征在于,所述多个触控角度的计算步骤根据一原点及所述多个触控点计算所述多个触控角度。3.如权利要求2所述的触控方法,其特征在于,所述多个触控点包括一最先释放触控点与一最后释放触控点,所述多个触控角度的计算步骤还包括:判断该最先释放触控点与该最后释放触控点的时差是否大于或等于一容许时差;当该最先释放触控点与该最后释放触控点的时差大于或等于该容许时差,将一原点及所述多个触控点存入一有效点队列;判断该有效点队列的一元素个数是否大于或等于3;当该元素个数大于或等于3,自该有效点队列取出连续排列的一第一有效点、一第二有效点及一第三有效点;计算该第一有效点、该第二有效点及该第三有效点所形成的触控角度;判断该第一有效点、该第二有效点及该第三有效点所形成的触控角度是否近似一直线;以及当该第一有效点、该第二有效点及该第三有效点所形成的触控角度非近似该直线,将该第一有效点、该第二有效点及该第三有效点所形成的触控角度存入该角度队列作为所述多个触控角度其中之一。4.如权利要求3所述的触控方法,其特征在于,所述方法还包括:判断所述多个触控角度是否已计算完毕;其中,当所述多个触控角度已计算完毕,比较该角度队列与该比对范本。5.如权利要求4所述的触控方法,其特征在于,计算完毕的判断步骤判断该第二有效点是否为该原点,当该第二有效点为该原点,表示所述多个触控角度已计算完毕。6.如权利要求5所述的触控方法,其特征在于,当T(x)<A(x)-2ΔAq,设定R(x)=a,其中,T(x)为所述多个触控角度的第x个触控角度,A(x)为所述多个比对角度的第x个比对角度,ΔAq为角度比对误差,R(x)为所述多个比对结果的第x个比对结果,a为第一比对结果值。7.如权利要求5所述的触控方法,其特征在于,当|(T(x)-A(x))/2|≦ΔAq,设定R(x)=s,其中,T(x)为所述多个触控角度的第x个触控角度,A(x)为所述多个比对角度的第x个比对角度,ΔAq为角度比对误差,R(x)为所述多个比对结果的第x个比对结果,s为第二比对结果值。8.如权利要求5所述的触控方法,其特征在于,当T(x)>A(x)+2ΔAq,设定比对结果R(x)=b,其中,T(x)为所述多个触控角度的第x个触控角度,A(x)为所述多个比对角度的第x个比对角度,ΔAq为角度比对误差,R(x)为所述多个比对结果的第x个比对结果,b为第三比对结果值。9.如权利要求1所述的触控方法,其特征在于,所述方法还包括:自一角度数据库取出该比对范本;以及自一功能数据库取出该结果队列。10.一种触控电子装...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘韦宏
申请(专利权)人:纬创资通股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1