【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种低温真空微波辐射源温度均匀性测量与控制装置，其特征在于，包括非接触温度测量单元、二维扫描单元和外围数据采集控制单元和，所述的非接触温度测量单元包括测量单元安装外壳和光路系统，所述光路系统包括消杂光光阑、孔径光阑、平面反射镜、离轴抛物面镜、频率调制器、分光片、光束收集器、MTC探测器、光束收集器和中波红外InSb探测器，所述安装外壳下端固定有离轴抛物面镜，所述离轴抛物面镜上方固定有平面反光镜，所述平面反光镜右侧依次固定有消杂光光阑、孔径光阑，所述消杂光光阑、孔径光阑固定在所述安装外壳内，所述平面反光镜10的右侧上方固定有中波红外InSb探测器，所述中波红外InSb探测器上端设有光束收集器，所述光束收集器上端设有分光片，所述分光片右侧依次设有光束收集器、MTC探测器，所述的长波红外MCT探测器和中波红外InSb探测器都采用液氮制冷方式，所述的外围数据采集控制单元包含有探测器数据采集控制模块、二维扫描单位控制模块和温度反馈控制单元，所述外围数据采集控制单元的输入端与长波红外MCT探测器和中波红外InSb探测器相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐骏，傅立，刘刚，蓝天翔，谢建华，肖育，
申请(专利权)人：上海卫星装备研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。