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本发明提供了一种低温真空条件下使用的微波辐射源温度测量与控制系统，包括非接触温度测量单元、二维扫描单元和外围数据采集控制单元和，所述的非接触温度测量单元包括测量单元安装外壳和光路系统，所述光路系统包括消杂光光阑、孔径光阑、平面反射镜、离轴抛...
该专利属于上海卫星装备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海卫星装备研究所授权不得商用。

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