真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置及方法。所述精度测量装置包括真空低温环境模拟设备、光学测试窗口、无转角限制转台、36面棱体、光电自准直仪、隔振台；所述的无转角限制转台是角位置测量的待测试设备；所述36面棱体的中心线与所述无转角限制转台的转轴同轴布置；测试时，光电自准直仪所发出的光线与真空低温环境模拟设备上的光学测试窗口同心；且光电自准直仪所发出的光线与36面棱体所具有的一个棱面法线重合。本发明专利技术解决了无转角限制转台在真空低温环境中难以评估角位置精度的问题，定量给出了无转角限制转台在空间遥感探测载荷定标测试中的误差量，提升了空间遥感探测载荷定量化应用水平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及无转角限制转台角位置精度测量领域，特别涉及一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置及方法。

技术介绍

1、随着我国空间遥感探测载荷发展及需要，空间遥感探测载荷朝着高精度、大口径、大视场方向发展，其在入轨前需要进行定量化测试，考虑高效低成本因素，在航天器测试行业经常借用无转角限制转台进行定量化测试来弥补空间遥感探测载荷大视场测试需求，然而在低温下，无转角限制转台存在变形，运动误差不可避免，角位置精度误差对于高精度的空间遥感探测载荷定量化应用不可忽略，亟需测量真空低温下无转角限制转台角位置精度误差，评估其对空间遥感探测载荷定量化影响，提高定量化应用水平，发挥更大军事经济效益。

2、目前，国内对转台主要性能测试主要依据gjb1801-93《惯性技术测试设备主要性能试验方法》，使用23面棱体、24面棱体及光电自准直仪等在环境温度：20±2℃下进行测试，在大气环境条件下转台温度场是均匀的，无温度场热应力耦合带来测量误差。

3、具体的，在现有的常规方法中：采用24面棱体或360齿盘和平面镜。转台在大气环境下正转或反转，被测轴本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，包括真空低温环境模拟设备(1)、光学测试窗口(2)、无转角限制转台(3)、36面棱体(4)、光电自准直仪(5)、隔振台(6)；

2.根据权利要求1所述的真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，所述36面棱体(4)具有低热膨胀系数的特点；工作面反射率优于95％@632.8nm，且36个棱面角度偏差值Zi为已知，其中i＝0,1,…35。

3.根据权利要求1所述的真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，光电自准直仪(5)分辨率优于0.1″，测量范围±300″，量程工作距离不小...

【技术特征摘要】

1.一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，包括真空低温环境模拟设备(1)、光学测试窗口(2)、无转角限制转台(3)、36面棱体(4)、光电自准直仪(5)、隔振台(6)；

2.根据权利要求1所述的真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，所述36面棱体(4)具有低热膨胀系数的特点；工作面反射率优于95％@632.8nm，且36个棱面角度偏差值zi为已知，其中i＝0,1,…35。

3.根据权利要求1所述的真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，光电自准直仪(5)分辨率优于0.1″，测量范围±300″，量程工作距离不小于6m，筒径不大于60mm，测量误差δ小于0.03″。

4.根据权利要求1所述的真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，所述的真空低温环境模拟设备(1)的真空度优于1.3×10-3pa，温度：<100k。

5.根据权利要求1所述的真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置，其特征在于，所述光学测试窗口(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈刚义，彭光东，邹晓君，陶晶亮，赵森，沈超，郭晓天，
申请(专利权)人：上海卫星装备研究所，
类型：发明
国别省市：