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本发明提供了一种真空低温下无转角限制转台角位置精度测量装置及方法。所述精度测量装置包括真空低温环境模拟设备、光学测试窗口、无转角限制转台、36面棱体、光电自准直仪、隔振台；所述的无转角限制转台是角位置测量的待测试设备；所述36面棱体的中心线...
该专利属于上海卫星装备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海卫星装备研究所授权不得商用。

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