本发明专利技术实施例公开了一种拼接屏中相对位置的检查方法及系统，解决了目前通过工具进行精度检测而导致的工序复杂，耗时耗人力或的技术问题。本发明专利技术实施例检查方法包括：通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的图像；通过使用AOI技术对获取到的图像的拼接处尺寸进行量测；根据所述量测结果通过AOI技术判断拼接处尺寸与预置规格进行比对，若拼接处尺寸处于预置规格内，则拼接处合理。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术实施例公开了一种拼接屏中相对位置的检查方法及系统，解决了目前通过工具进行精度检测而导致的工序复杂，耗时耗人力或的技术问题。本专利技术实施例检查方法包括：通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的图像；通过使用AOI技术对获取到的图像的拼接处尺寸进行量测；根据所述量测结果通过AOI技术判断拼接处尺寸与预置规格进行比对，若拼接处尺寸处于预置规格内，则拼接处合理。【专利说明】一种拼接屏中相对位置的检查方法及系统
本专利技术涉及拼接屏
，尤其涉及一种拼接屏中相对位置的检查方法及系统。
技术介绍
对于拼接式的显示屏幕，通常是通过灯板的单元组装以及箱体的模块组装，两两单元或者模块间的拼缝将影响显示屏影像呈现时的连续性，以及外观的美感等，对于灯板板边的成型加工后所形成尺寸的正负公差，很难达到完整且均匀地无缝拼接，一般情况较易形成灯板和灯板间的缝隙过大，因此，如何平衡以及减小单元或模块间的拼缝的均匀性，已经成为了本领域技术人员亟待解决的问题，以及若通过人眼或照相来进行灯板间的拼接处的直观检测，往往因为对比度和解析上的困难性，而导致拼接屏中相对位置的检查准确度较低，同时，针对于小间距的拼接显示屏，例如LED拼接显示屏，由于LED的间距的逐渐减小，往往由于拼接处的精度不够，而导致亮、暗线的明显差异，并且通常会因拼缝和灯板间的对比度过低而难以识别出拼缝处的位置，使用一般打光方式也难以建立每一灯板模块间与背景上的差异对比度而不易判读识别，并且在校正暗房环境下作检查时则更加困难。 目前对于LED拼接的检查要求，一般是在制造单元灯板时对尺寸公差提出产品签收的要求标准，再于拼接完成后，透过目测缝隙的方式作为判断依据。对于拼接后的精度常是透过人工基于肉眼的判断较不准确，只能通过检测工具使用手动操作方式，以检查一般水平方向或是垂直方向上的精度，或者是在屏幕校正时，使用一般工业级灰阶检测器以判断LED灯板相邻之间的情形作间接判断，其工序复杂，耗时耗人力，同时，使用龙门机台做轨道式半自动的检测，也会面临平面上检测的平整度困难。 因此，对于上述提及的通过工具进行精度检测而导致的工序复杂，耗时耗人力的技术问题，已经成为了本领域技术人员亟待解决的难点。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种拼接屏中相对位置的检查方法及系统，解决了目前通过工具进行精度检测而导致的工序复杂，耗时耗人力或的技术问题。 本专利技术实施例中提供的一种拼接屏中相对位置的检查方法，包括: 通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的图像； 通过使用AOI (Automatic Optic Inspect1n，自动光学检测)技术对获取到的所述图像的拼接处尺寸进行量测； 根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处尺寸与预置规格进行比对，若所述拼接处尺寸处于所述预置规格内，则所述拼接处合理。 可选地，通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的图像具体包括: 通过所述图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的三维立体模型图像； 其中，所述三维立体模型包括正常平坦的所述拼接处侧的显示模块，所述显示模块的转折位置，所述拼接处的截断面。 可选地，通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的三维立体模型图像具体包括: 通过所述图像传感器获取所述三维立体模型图像，所述三维立体模型图像通过光源以聚焦方式经由分光棱镜聚焦照射在所述拼接处之后，聚焦反射回所述图像传感器进行获取，所述光源以同轴光源方式与所述图像传感器相对应置放； 或 通过所述图像传感器获取所述三维立体模型图像，所述三维立体模型图像通过光源以聚焦方式照射在所述拼接处之后，聚焦反射回所述图像传感器进行获取，所述光源以侧向光源方式与所述图像传感器相对应置放。 可选地，根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处尺寸与预置规格进行比对，若所述拼接处尺寸处于所述预置规格内，则所述拼接处合理具体包括: 根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处的宽度或直线度或平行度或平整度，与预置宽度规格或预置直线度规格或预置平行度规格或预置平整度规格进行比对，若所述宽度或所述直线度或所述平行度或所述平整度处于所述预置宽度规格或所述预置直线度规格或所述预置平行度规格或所述预置平整度规格内，则所述拼接处合理。 可选地，根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处尺寸与预置规格进行比对，若所述拼接处尺寸处于所述预置规格内，则所述拼接处合理之后还包括: 结合所述三维立体模型图像根据所述量测结果通过所述AOI技术对拼接屏的LED之间的中心位置，与预置中心位置规格进行比对，若所述LED之间的中心位置处于所述预置中心位置规格内，则所述LED与LED之间的位置合理； 或 结合所述三维立体模型图像根据所述量测结果通过所述AOI技术对拼接屏的所述LED与所述拼接处的相对位置，与预置拼接处的相对位置规格进行比对，若所述LED与所述拼接处的相对位置处于所述预置拼接处的相对位置规格内，则所述LED与LED之间的位置合理。 本专利技术实施例中提供的一种拼接屏中相对位置的检查系统，包括: 拼接屏中相对位置的检查装置和光源； 所述拼接屏中相对位置的检查装置包括: 图像传感器，获取单元，量测单元和比对单元； 所述获取单元，用于通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的图像； 所述量测单元，用于通过使用AOI技术对获取到的所述图像的拼接处尺寸进行量测； 所述比对单元，用于根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处尺寸与预置规格进行比对，若所述拼接处尺寸处于所述预置规格内，则所述拼接处合理。 可选地，获取单元，具体用于通过所述图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的三维立体模型图像； 其中，所述三维立体模型包括正常平坦的所述拼接处侧的显示模块，所述显示模块的转折位置，所述拼接处的截断面。 可选地，所述光源通过分光棱镜以同轴光源方式与所述图像传感器相对应置放，所述光源，所述分光棱镜和所述图像传感器两两之间均设置有透镜； 或 所述光源以侧向光源方式与所述图像传感器相对应置放。 可选地，比对单元具体包括: 第一比对子单元，用于根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处的宽度或直线度或平行度或平整度，与预置宽度规格或预置直线度规格或预置平行度规格或预置平整度规格进行比对，若所述宽度或所述直线度或所述平行度或所述平整度处于所述预置宽度规格或所述预置直线度规格或所述预置平行度规格或所述预置平整度规格内，则所述拼接处合理； 或 第二比对子单元，用于结合所述图像根据所述量测结果通过所述AOI技术对拼接屏的LED之间的中心位置，与预置中心位置规格进行比对，若所述LED之间的中心位置处于所述预置中心位置规格内，则所述LED与LED之间的位置合理； 或 第三比对子单元，用于结合所述图像根据所述量测结果通过所述AOI技术对拼接屏的所述LED与所述拼接处的相对位置，与预置拼接处的相对位置规格进行比对，若所述LED与所述拼接处的相对位置处于所述预置拼接处的相对位置规格内，则所述LED与LED之间的位置合理本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种拼接屏中相对位置的检查方法，其特征在于，包括：通过图像传感器获取光源照射在拼接处所反射和/或折射的图像；通过使用AOI(Automatic Optic Inspection，自动光学检测)技术对获取到的所述图像的拼接处尺寸进行量测；根据所述量测结果通过所述AOI技术判断所述拼接处尺寸与预置规格进行比对，若所述拼接处尺寸处于所述预置规格内，则所述拼接处合理。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：詹智翔，
申请(专利权)人：广东威创视讯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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