折射率匹配膜、折射率匹配膜的制作方法及触摸屏技术

技术编号:11255015 阅读:475 留言:0更新日期:2015-04-02 03:38
本发明专利技术公开了一种折射率匹配膜、折射率匹配膜的制作方法及触摸屏。其中,该折射率匹配膜包括:基材;硬化层,形成于基材的一侧侧面上;防粘连硬化层,形成于基材的另一侧侧面上;第一折射率匹配层,形成于防粘连硬化层上,第一折射率匹配层为分布有粒径为10~50nm的金属氧化物的涂层。本发明专利技术通过在防粘连硬化层上形成分布有粒径为10~50nm的金属氧化物的第一折射率匹配层,从而有效降低了折射率匹配膜的雾度,并提高了折射率匹配膜和ITO层的接着性,且该折射率匹配膜具有较好的透光性、硬度和耐磨性。该折射率匹配膜能够使溅镀过程少镀膜一层,从而有效提高生产效率,且该折射率匹配膜的制作成本低且有很好的加工性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及硬化膜
,具体而言,涉及一种折射率匹配膜、折射率匹配膜的制作方法及触摸屏
技术介绍
目前,市场上用于触摸屏的基材主要有双面硬化膜和折射率匹配膜(IM膜)。其中,双面硬化膜和折射率匹配膜均能满足现有触摸屏的基本需求。然而,当采用双面硬化膜作为触摸屏的基材时,下游镀膜厂家需在其中的一面镀三层膜(高折射率层、低折射率层和导电膜层),且镀膜时无法提速,生产效率极低。同时,终端客户只能采用油墨网印工艺对双面硬化膜进行蚀刻,从而限制了客户所采用的制成工艺。现有IM膜主要包括IM膜(1+1结构)和IM膜(1+3结构)。其中,IM膜(1+1结构)的雾度达到1.2%以上,作为ITO膜用时需在高折HC面溅镀三层材料(高折层,低折层及ITO层),且溅镀时无法提速、生产效率低、成本高且IM膜的挺性一般,影响终端客户蚀刻效率。IM膜(1+3结构)作为ITO膜用时需在高折HC面溅镀二层材料(低折层及ITO层),溅镀时虽可以提速,使其生产效率较高;但其制造成本高、雾度高、良率低,严重影响本文档来自技高网...
折射率匹配膜、折射率匹配膜的制作方法及触摸屏

【技术保护点】
一种折射率匹配膜,其特征在于,所述折射率匹配膜包括:基材(10);硬化层(20),形成于所述基材(10)的一侧侧面上;防粘连硬化层(30),形成于所述基材(10)的另一侧侧面上;第一折射率匹配层(40),形成于所述防粘连硬化层(30)上,所述第一折射率匹配层(40)为分布有粒径为10~50nm的金属氧化物的涂层。

【技术特征摘要】
1.一种折射率匹配膜,其特征在于,所述折射率匹配膜包括:
基材(10);
硬化层(20),形成于所述基材(10)的一侧侧面上;
防粘连硬化层(30),形成于所述基材(10)的另一侧侧面上;
第一折射率匹配层(40),形成于所述防粘连硬化层(30)上,所述第一折射率匹配
层(40)为分布有粒径为10~50nm的金属氧化物的涂层。
2.根据权利要求1所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述金属氧化物的粒径为20~40nm。
3.根据权利要求1或2所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述金属氧化物选自二氧化锆、
三氧化二铝、氧化锌和氧化锑中的任一种或多种。
4.根据权利要求1所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述第一折射率匹配层(40)的折
射率为1.6~1.75,所述第一折射率匹配层的厚度为70~100nm。
5.根据权利要求1所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述防粘连硬化层(30)为包含粒
径为60~90nm的二氧化硅的涂层。
6.根据权利要求5所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述二氧化硅的粒径为70~80nm。
7.根据权利要求5所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述防粘连硬化层(30)的折射率
为1.5~1.52,所述防粘连硬化层(30)的厚度为2~2.5μm。
8.根据权利要求1所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述基材(10)包括聚酯膜层(11)
以及形成于所述聚酯膜层(11)的两侧侧面的预涂层(12)。
9.根据权利要求8所述的折射率匹配膜,其特征在于,所述聚酯膜层(11)的厚度为50~125
μm,位于所述聚酯膜层(11)的一侧侧面上的所述预涂层(12)的厚度为60~120nm,
所述硬化层(20)的厚度为4~4.5μm。
10.根据权利要求8所述的折射率匹配膜...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐金龙陈庆松宋明雄
申请(专利权)人:张家港康得新光电材料有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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