本实用新型专利技术公开了一种检测轴承外圈的探头装置，属于轴承套圈无损检测领域，包括用于检测轴承外圈的上端面、下端面、内圆锥面以及外圆柱面的上端面探头、下端面探头、内圆锥面探头以及外圆柱面探头，上端面探头和内圆锥面探头固定为一体，并在外力作用下可整体移动以能压紧上端面并同时对上端面和内圆锥面进行检测；外圆柱面探头固定在检测工位，能与外圆柱面相贴合以进行检测；下端面探头固定在检测工位，能与下端面贴合以进行下端面检测。本实用新型专利技术装置检测结果直观，使用范围广，处理过程简单，不受人为因素影响，可对轴承套圈进行全方位无盲点的高速自动化检测。
【技术实现步骤摘要】
一种检测轴承外圈的探头装置
本技术属于轴承套圈无损检测领域，更具体地，涉及一种检测圆锥滚子轴承的轴承外圈的探头装置。
技术介绍
轴承作为机械基础件，是装备制造业赖以生存和发展的基础，其性能直接决定着重大装备和主机产品的性能、质量以及可靠性。国家工信部规划司在机械基础件、基础制造工艺和基础材料产业“十二五”规划中将轴承作为发展重点之一。 在实际生产中，轴承失效将直接导致整个生产过程无法正常进行，甚至造成重大经济损失和人员伤亡。据统计，在旋转机械的现场故障中，由于轴承套圈损伤而引起的故障大约占30%。及时发现轴承的早期失效，并做出合适处理或报废，可有效预防轴承失效事故。 目前针对轴承外圈的检测主要有磁粉法、涡流法、超声检测法、机器视觉法、巴克豪森噪声分析法以及声发射法，以上各种方法均存在不足:磁粉法人为因素影响大；涡流法缺陷显示不直观；超声法探头扫描轨迹复杂；机器视觉法易出现漏报误报；巴克豪森噪声分析法使用范围有限；声发射法信号采集及处理困难。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本技术提供了一种用于检测圆锥滚子轴承的轴承外圈的探头装置，其目的在于对轴承外圈内外伤缺陷进行快速高效检测，弥补现有无损检测方法及装置中存在的或设备复杂、或者检测结果不直观、或者使用范围受限或者处理过程困难、或者人为因素影响大的各种缺陷。 为实现上述目的，本技术提供了一种检测轴承外圈的探头装置，其特征在于，包括分别用于检测轴承外圈的上端面、下端面、内圆锥面以及外圆柱面的上端面探头、下端面探头、内圆锥面探头以及外圆柱面探头，其中: 上端面探头和内圆锥面探头固定为一体，并可在外力作用下整体移动以能压紧所述上端面，并同时对所述上端面和内圆锥面进行检测； 外圆柱面探头固定在检测工位，能与所述外圆柱面相贴合以进行检测； 下端面探头固定在检测工位，能与所述下端面贴合以进行下端面检测。 进一步的，所述外圆柱面探头装置包括外圆柱面探头架，外圆柱面永磁铁、外圆柱面电路板、外圆柱面磁敏感元件、外圆柱面耐磨板、片弹簧以及片弹簧安装座；所述外圆柱面磁敏感元件和外圆柱面永磁铁分别固定在所述外圆柱面电路板的两侧面，所述外圆柱面电路板固定在所述外圆柱面探头架上，所述外圆柱面探头架通过片弹簧与所述片弹簧安装座相固定，所述片弹簧安装座固定在检测工位，所述外圆柱面耐磨板包覆所述外圆柱面磁敏感元件且与所述外圆柱面探头架相固定，用于直接贴合待检测的外圆柱面。 进一步的，上端面探头具有多套，每套所述上端面探头包括上端面探头架、上端面探头卡块、上端面永磁铁、上端面电路板、上端面磁敏感元件以及上端面探头耐磨板；所述上端面磁敏感元件与上端面电路板固定为整体，并该整体通过所述上端面电路板与上端面探头卡块固定，所述上端面探头卡块通过弹簧和螺柱与上端面探头架形成浮动连接，所述上端面探头耐磨板包覆所述上端面磁敏感元件并与待检测的上端面直接贴合。 进一步的，内圆锥面探头包括内圆锥面探头架、内圆锥面探头卡块、内圆锥面永磁铁、内圆锥面电路板、内圆锥面磁敏感元件以及内圆锥面探头耐磨板；所述内圆锥面磁敏感元件与内圆锥面电路板固定为整体，该整体通过所述内圆锥面永磁铁与内圆锥面探头卡块固定，所述内圆锥面探头卡块通过螺柱和弹簧与内圆锥面探头架形成浮动连接，所述内圆锥面探头耐磨板包覆所述内圆锥面磁敏感元件并与待检测的内圆锥面直接贴合。 进一步的，所述上端面探头具有二套，通过螺钉穿过所述上端面探头架和垫块以分别与内圆锥面探头架两侧固定； 所述内圆锥面探头架上还安装有活塞杆和容置活塞杆的气缸，在气缸和活塞杆的作用下所述内圆锥面探头架能移动以压紧所述轴承外圈的上端面。 轴承外圈和轴承内圈统称为轴承套圈。 总体而言，本技术构思的技术方案具有如下有益效果: 1、本技术探头是基于局部漏磁检测原理设计的，同时具有分别检测轴承外圈的上端面、下端面、内圆锥面、外圆柱面的上端面探头、下端面探头、内圆锥面探头、外圆柱面探头，可对轴承套圈进行全方位无盲点的检测。 2、本技术探头装置结构简单，基于局部漏磁检测原理的检测结果直观，使用范围广，不受人为因素影响，适用于轴承生产之后使用之前的检测以及在役轴承的日常抽检，处理过程简单，本技术探头装置可安装于自动化生产线上的相应待检工位上，可进行高速自动化检测检测，达到7秒检测I件轴承外圈的高效率，具有较大的实际应用价值。 3、在保证轴承外圈裂纹检测能力的基础上选用磁能积较小的永磁铁，可以使试件经局部磁化后剩磁较小，检测之后无需额外退磁，可节约检测成本。 【附图说明】 图1是圆锥滚子轴承的轴承外圈待检测面示意图； 图2(a)、(b)、(c)是本技术探头装置工作示意图，其中图2(c)是图2(b)沿A-A面的剖视图； 图3(a)、(b)、(C)是本技术上端面探头及内圆锥面探头固定为整体时结构示意图，其中图3(c)是图3(b)的左视图； 图4是本技术外圆柱面探头结构示意图； 图5是本技术下端面探头结构示意图。 在所有附图中，相同的附图标记用来表示相同的元件或结构，其中: 100-上端面探头101-上端面探头架 102-上端面探头卡块 103-上端面永磁铁 104-上端面电路板 105-上端面磁敏感元件 106-上端面探头耐磨板 200-内圆锥面探头 201-内圆锥面探头架 202-内圆锥面探头卡块 203-内圆锥面永磁铁 204-内圆锥面电路板 205-内圆锥面磁敏感元件 206-内圆锥面探头耐磨板 300-下端面探头301-下端面探头卡块302-下端面永磁铁 303-下端面电路板304-下端面磁敏感元件305-下端面探头耐磨板 400-外圆柱面探头401-外圆柱面探头架402-外圆柱面永磁铁 403-外圆柱面电路板404-外圆柱面磁敏感元件405-外圆柱面耐磨板 406-片弹簧407-片弹簧安装座 11-垫块12-活塞杆13-气缸 14-弹簧15-螺柱16-螺钉 a_上端面b_下端面C-内圆维面 d-外圆柱面e-轴承外圈 【具体实施方式】 为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。 在图1所示的轴承外圈待检测面示意图中，轴承外圈e需要检测的面包括上端面a、外圆柱面d、下端面b、内圆锥面C。 图2(a)、(b)、(c)是本技术探头装置工作示意图，其中图2 (c)是图2(b)沿A-A面的剖视图。结合该图对本技术中探头装置结构进行说明，其包括用于检测轴承外圈的上端面、下端面、内圆锥面以及外圆柱面的上端面探头100、内圆锥面探头200、下端面探头300以及外圆柱面探头400。上端面探头100和内圆锥面探头200通过螺钉16固定为一体，并在外力作用下可整体上下移动以能压紧所述上端面，并同时对所述上端面和内圆锥面进行检测。外圆柱面探头400固定在检测工位处，能与外圆柱面相贴合以本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测轴承外圈的探头装置，其特征在于，其包括分别用于检测轴承外圈的上端面、下端面、内圆锥面以及外圆柱面的上端面探头(100)、下端面探头(300)、内圆锥面探头(200)以及外圆柱面探头(400)，其中：上端面探头(100)和内圆锥面探头(200)固定为一体，并在外力作用下能整体移动以压紧所述上端面，并同时对所述上端面和内圆锥面进行检测；外圆柱面探头(400)固定在检测工位，能与所述外圆柱面相贴合以进行检测；下端面探头(300)固定在检测工位，能与所述下端面贴合以进行下端面检测。
【技术特征摘要】
1.一种检测轴承外圈的探头装置，其特征在于，其包括分别用于检测轴承外圈的上端面、下端面、内圆锥面以及外圆柱面的上端面探头(100)、下端面探头(300)、内圆锥面探头(200)以及外圆柱面探头(400)，其中: 上端面探头(100)和内圆锥面探头(200)固定为一体，并在外力作用下能整体移动以压紧所述上端面，并同时对所述上端面和内圆锥面进行检测； 外圆柱面探头(400)固定在检测工位，能与所述外圆柱面相贴合以进行检测； 下端面探头(300)固定在检测工位，能与所述下端面贴合以进行下端面检测。2.如权利要求1所述的一种检测轴承外圈的探头装置，其特征在于，所述外圆柱面探头(400)包括外圆柱面探头架(401)，外圆柱面永磁铁(402)、外圆柱面电路板(403)、外圆柱面磁敏感元件(404)、外圆柱面耐磨板(405)、片弹簧(406)以及片弹簧安装座(407);所述外圆柱面磁敏感元件(404)和所述外圆柱面永磁铁(402)分别固定在所述外圆柱面电路板(403)两侧面，所述外圆柱面电路板(403)固定在所述外圆柱面探头架(401)上，所述外圆柱面探头架通过片弹簧(406)与所述片弹簧安装座(407)固定，所述片弹簧安装座(407)固定在检测工位，所述外圆柱面耐磨板(405)包覆所述外圆柱面磁敏感元件(404)且与所述外圆柱面探头架(401)相固定，用于直接贴合待检测的外圆柱面。3.如权利要求1或2所述的一种检测轴承外圈的探头装置，其特征在于，所述上端面探头(100)具有多套，每套所述上端面探头包括上端面探头架(101)、上端面探头卡块(102)、上...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡沁宇，杨芸，刘俊，
申请(专利权)人：武汉华宇一目检测装备有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42
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