切换式负载时域反射计去嵌入式探测器制造技术

本发明专利技术涉及切换式负载时域反射计去嵌入式探测器。一种去嵌入式探测器包括：被配置为连接到受测设备的两个输入、存储器、被配置为输出信号的信号生成器、多个负载组件、多个开关、以及控制器。每个负载组件被配置为提供不同的负载。多个开关中的第一开关与信号生成器相关联，并且多个开关中的其他开关每个与一个负载组件相关联。控制器被配置为控制多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自多个负载组件的负载的组合。

【技术实现步骤摘要】
相关申请的交叉引用本申请要求于2013年9月25日提交的、标题为“Switched Load Time-Domain Reflectometer de-embed probe”的美国临时专利申请第61/882,292号的权益，所述申请通过引用特此并入本文中。
所公开的技术大体上涉及信号采集系统，并且更具体地，涉及具有切换式负载和内部信号生成器的用于减小由于受测设备的探测器尖端加载而造成的测量误差的去嵌入式探测器。
技术介绍
传统上，需要具有采样示波器的矢量网络分析器或时域反射计（TDR）系统来获得用于表征受测设备（DUT）的散射参数（S-参数）测量结果。一旦测量了固定件的S-参数并且测量了受测设备的S-参数，那么就能够执行完全去嵌入操作以仅获得受测设备的特性。如标题为“SIGNAL ANALYSIS SYSTEM AND CALIBRATION METHOD”的美国专利第7,460,983号、标题为“SIGNAL ANALYSIS SYSTEM AND CALIBRATION METHOD FOR MULTIPLE SIGNAL PROBES”的美国专利第7,414,411号、标题为“SIGNAL ANALYSIS SYSTEM AND CALIBRATION METHOD FOR PROCESSING ACQUIRES SIGNAL SAMPLES WITH AN ARBITRARY LOAD”的美国专利第7,408,363号、以及标题为“SIGNAL ANALYSIS SYSTEM AND CALIBRATION METHOD FOR MEASURING THE IMPEDANCE OF A DEVICE UNDER TEST”的美国专利第7,405,575号（其每个都通过引用使其全部内容被并入本文中）所描述的去嵌入式探测器使用跨探测器尖端的探测器内部的切换式负载来取得测量结果。去嵌入式探测器的S-参数在制造时被测量并且存储在探测器内部的S-参数存储器中。用户然后将探测器连接到受测设备并且按下校准按钮。示波器（scope）取两个或三个平均采集结果，其中每个具有跨探测器尖端而切换的不同的去嵌入负载。在采集之后，示波器能够计算作为频率的函数的受测设备的阻抗，并且还提供好像探测器和示波器从未连接的受测设备处的波形的完全去嵌入视图。这也能够通过将上面讨论的方法并入使用具有信号源和设置的两个去嵌入式检验固定件的矢量网络分析器以操作为使用两个去嵌入式探测器的矢量网络分析器来完成，这如通过引用并入本文中的于2013年9月25日提交的、标题为“TWO PORT VECTOR NETWORK ANALYZER USING DE-EMBED PROBES”的、并且于2014年5月1日作为常规专利技术申请美国序列号14/267,697而提交的美国临时申请第61/882,283号中所讨论的那样。于2013年9月25日提交的、标题为“ALTERNATIVE METHOD OF PROVIDING DE-EMBED PROBE FUNCTIONALITY”的美国临时申请第61/882,298号（其全部内容通过引用并入本文中）公开了TDR去嵌入式探测器。该探测器不包括切换式负载，但包含总是跨TDR去嵌入式探测器尖端而附接的内部TDR 生成器。该生成器的S参数在制造时被测量并存储在探测器中。当TDR去嵌入式探测器连接到有源或无源受测设备时，触发方案用来使受测设备波形与TDR脉冲器去同步，以使受测设备信号平均为零，因而能够测量结果。根据所测量的结果，能够计算去嵌入波形。所需要的是能够用来测量具有或不具有受测设备信号源的有源和无源受测设备这二者的去嵌入式探测器。
技术实现思路
所公开的技术的某些实施例包括去嵌入式探测器，其包括被配置为连接到受测设备的两个输入、存储器、被配置为输出信号的信号生成器、多个负载组件、多个开关、以及控制器。每个负载元件被配置为提供不同负载。多个开关中的第一开关与信号生成器相关联，并且多个开关中的其他开关每个与一个负载组件相关联。控制器被配置为控制多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自多个负载组件的负载的组合。所公开的技术的某些其他实施例包括去嵌入式探测器，包括被配置为连接到受测设备的两个输入、存储器、被配置为输出信号的信号生成器、具有多个不同负载的负载集成电路、多个开关（多个开关中的第一开关与信号生成器相关联并且多个开关中的其他开关每个与负载集成电路的某一负载相关联）、以及控制器（其被配置为控制多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自负载集成电路的负载的组合）。某些其他实施例包括测试与测量系统，其包括如下面所描述的所公开技术的受测设备、测试与测量仪器、以及去嵌入式探测器。附图说明图1图示了所公开技术的去嵌入式探测器的框图。图2图示了使用图1的去嵌入式探测器的测试与测量系统。图3图示了根据所公开技术的另一实施例的去嵌入式探测器的框图。具体实施方式在未必按比例绘制的附图中，所公开的系统和方法的相似或对应的元素通过相同的附图标记来表示。所公开的技术包括去嵌入式探测器，其包括信号生成器和切换式负载这二者，这如图1所示。图1描绘了根据所公开的技术的一些实施例的去嵌入式探测器100。去嵌入式探测器100能够是具有标准探测器尖端的标准探测器。去嵌入式探测器100还能够被实现为插入模块。优选地，去嵌入式探测器100将被实现为具有超小型版本A（SMA）连接器输入的探测器补偿盒。如下面更详细地讨论的，去嵌入式探测器100的配置将为信号生成器102和其他电路酌留空间。去嵌入式探测器100包括放大器104以及还包括如上面所讨论的专利公布中所讨论的、通常在去嵌入式探测器中找到的典型电路。图1中未示出该典型电路。去嵌入式探测器100还包括一组开关106。开关106中的一些可以是集成电路内的模拟开关。此外，开关106中的一些可以是微机电系统（MEMs）。还可以包含其他类型的开关106，诸如继电器触点。如下面将更详细地讨论的，开关106由控制器108控制。去嵌入式探测器100还包括存储器组件110。存储器110将所测量的探测器的S参数存储在探测器的操作期间所使用的可能的开关106位置中的每个中。这些S参数被用来依赖于用于探测器采集的开关的位置而提供波形的去嵌入视图。例如，如果仅信号生成器102被切换以连接到探测器输入112和114，则存储器将存储用于探测器的S参数。并且当开关106处于所有其他的位置时，存储器110存储用于探测器的S参数。存储器组件110还可以存储探测器已经包含的典型函数。此外，存储器组件110可以由多个存储器组件构成。去嵌入式探测器100还包括能够跨探测器输入112和114切换的多个负载116。负载116可以由负载集成电路或分立的负载组件来提供。最少有三个负载116必须跨探测器输入进行切换。然而，第一负载被视为当没有负载跨探测器输入而连接时。期望和优选为具有许多其他负载，以使得用户能够在下面所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种去嵌入式探测器，包括：两个输入，其被配置为连接到受测设备；存储器；信号生成器，其被配置为输出信号；多个负载组件，每个负载组件被配置为提供不同的负载；多个开关，多个开关中的第一开关与信号生成器相关联，并且多个开关中的其他开关每个与一个负载组件相关联；以及控制器，其被配置为控制多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自多个负载组件的负载的组合。

【技术特征摘要】
2013.09.25 US 61/882292;2014.04.25 US 14/2618341.一种去嵌入式探测器，包括：
两个输入，其被配置为连接到受测设备；
存储器；
信号生成器，其被配置为输出信号；
多个负载组件，每个负载组件被配置为提供不同的负载；
多个开关，多个开关中的第一开关与信号生成器相关联，并且多个开关中的其他开关每个与一个负载组件相关联；以及
控制器，其被配置为控制多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自多个负载组件的负载的组合。
2.如权利要求1所述的去嵌入式探测器，其中所述存储器被配置为将所测量的去嵌入式探测器的S参数存储在多个开关的每个开关位置中。
3.如权利要求1所述的去嵌入式探测器，其中所述信号生成器是时域反射计脉冲信号生成器。
4.如权利要求1所述的去嵌入式探测器，其中所述信号生成器是正弦波生成器。
5.一种测试与测量系统，包括：
受测设备；
测试与测量仪器；以及
权利要求1的去嵌入式探测器。
6.如权利要求5所述的测试与测量系统，其中所述去嵌入式探测器还包括连接到所述测试与测量仪器的输出，所述输出被配置为提供来自两个输入的测量结果。
7.如权利要求5所述的测试与测量系统，其中所述去嵌入式探测器还包括连接到两个输入之一的第一输出和连接到两个输入中的另一个的第二输出，所述输出中的每个均被配置为输出来自两个输入中的相应一个的输入波形。
8....

【专利技术属性】
技术研发人员：JJ皮克德，K谭，
申请(专利权)人：特克特朗尼克公司，
类型：发明
国别省市：美国;US