一种测试夹具制造技术

本发明专利技术涉及射频微波测量领域，公开了一种测试夹具，以解决现有技术中测试夹具要么容易导致被测件被损坏、要么测试带宽较窄的技术问题，该测试夹具包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路，其中第一测试电路包含第一90°混合电桥和第二90°混合电桥，第二测试电路包含第三90°混合电桥和第四90°混合电桥，其中四个90°混合电桥既能够起到射频开路的作用，从而防止阻抗失配，同时四个90°混合电桥与两个斯坦变换渐变微带线又能够起到扩展射频带宽的作用，进而达到了在保证被测件的安全的同时，提高射频测试带宽的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种测试夹具
本专利技术涉及射频微波测量领域，尤其涉及一种测试夹具。
技术介绍
测试夹具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。现有技术中，可以通过50Ω测试夹具对微波功率管进行测试，然而该测试夹具没有设计阻抗变换功能，进而其PA(PowerAmplifier：功率放大器)存在着阻抗严重失配问题，导致低频振荡，这种情况下，被测件很容易烧毁。为了解决上述问题，现有技术中又生产了一种通过偏置电路进行供电的测试夹具，可以应用于Loadpull(负载牵引)系统中测试封装好的功放管。此种夹具偏置电路采用1/4波长微带线进行射频开路，随着频率的升高，固定板材下的1/4波长微带线发生变化，不能起到射频开路作用，把夹具带宽限制的比较窄，大大降低了夹具的适用范围，导致测试一只功放管需使用多个夹具相结合才能完成，增加了校准复杂性，另外测试成本将会成倍增加。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试夹具，以解决现有技术中测试夹具要么容易导致被测件被损坏、要么测试带宽较窄的技术问题。本专利技术实施例提供一种测试夹具，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路；所述第一测试电路包括：射频输入端；第一90°混合电桥，所述第一90°混合电桥的输入端连接于所述射频输入端；第二90°混合电桥，所述第二90°混合电桥的-90°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的0°相位输出端，所述第二90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的-90°相位输出端，所述第二90°混合电桥的输入端连接于所述第一斯坦变换渐变微带线的第一端；第一电源，所述第一电源的第一端连接于所述第一90°混合电桥的隔离端，所述第一电源的第二端接地；第一电阻，所述第一电阻的第一端连接于所述第二90°混合电桥的隔离端，所述第一电阻的第二端接地；所述第一斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐变小；所述第二斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐增加；所述第二测试电路包括：第三90°混合电桥，所述第三90°混合电桥的输入端连接于所述第二斯坦变换渐变微带线的第二端；第四90°混合电桥，所述第四90°混合电桥的-90°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的0°相位输出端，所述第四90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的-90°相位输出端；第二电源，所述第二电源的第一端连接于所述第四90°混合电桥的隔离端，所述第二电源的第二端接地；第二电阻，所述第二电阻的第一端连接于所述第三90°混合电桥的隔离端，所述第二电阻的第二端接地；射频输出端，连接于所述第四90°混合电桥的输入端。可选的，所述第一斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由50欧姆变换至4.2欧姆。可选的，所述第二斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由4.2欧姆变换至50欧姆。可选的，所述测试夹具还包括：至少一个第一电容，至少一个第一电容的每个第一电容的正极连接于所述第一90°混合电桥的隔离端和所述第一电源之间，每个第一电容的负极接地。可选的，所述测试夹具还包括：至少一个第二电容，至少一个第二电容的每个第二电容的正极连接于所述第四90°混合电桥的隔离端和所述第二电源之间，每个第二电容的负极接地。可选的，在对被测件进行测试时，所述被测件的第一端连接于所述第一斯坦变换渐变微带线的预设阻抗大小位置；所述被测件的第二端连接于所述第二斯坦变换渐变微带线的所述预设阻抗大小位置。可选的，所述测试夹具还包括：支撑件，设置于所述第一测试电路、所述第一斯坦变换渐变微带线、所述第二斯坦变换渐变微带线及所述第二测试电路底部。本专利技术有益效果如下：由于在本专利技术实施例中，提供了一种测试夹具，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路，其中第一测试电路包含第一90°混合电桥和第二90°混合电桥，第二测试电路包含第三90°混合电桥和第四90°混合电桥，其中四个90°混合电桥既能够起到偏振电路的作用，从而防止阻抗失配，同时四个90°混合电桥与两个斯坦变换渐变微带线的组合又能够起到扩展射频带宽的作用，进而达到了在保证测试被测件的安全的同时，提高测试带宽的技术效果；并且，该测试夹具的适用范围更加广，用同一个测试夹具频率就可以涵盖P波段(1GHz以下)、L波段(1GHz～2GHz)、S波段(2GHz-4GHz)，故而降低了测试成本；另外此测试夹具能够很好抑制功放管低频振荡，准确测量出被测件的特性，从而为以后PA的设计提供可靠的依据。附图说明图1为本专利技术实施例中测试夹具的结构图；图2为本专利技术实施例测试夹具中第一测试电路的结构图；图3为本专利技术实施例测试夹具中第二测试电路的结构图；图4为本专利技术实施例测试夹具中支撑件的结构图；图5为本专利技术实施例中的测试夹具与不具有偏振电路的现有技术中的测试夹具的双端口网络插入损耗的对比图；图6为本专利技术实施例中的测试夹具与具有偏振电路的现有技术中的测试夹具的双端口网络插入损耗的对比图。具体实施方式本专利技术提供一种测试夹具，以解决现有技术中测试夹具要么容易导致被测件被损坏、要么测试带宽较窄的技术问题。本申请实施例中的技术方案为解决上述的技术问题，总体思路如下：提供了一种测试夹具，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路，其中第一测试电路包含第一90°混合电桥和第二90°混合电桥，第二测试电路包含第三90°混合电桥和第四90°混合电桥，其中四个90°混合电桥既能够起到偏振电路的作用，从而防止阻抗失配，同时四个90°混合电桥与两个斯坦变换渐变微带线的组合又能够起到扩展射频带宽的作用，进而达到了在保证被测件的安全的同时，提高测试带宽的技术效果；并且，该测试夹具的适用范围更加广，用同一个测试夹具频率就可以涵盖P波段(1GHz以下)、L波段(1GHz～2GHz)、S波段(2GHz-4GHz)，故而降低了测试成本；另外此测试夹具能够很好抑制功放管低频振荡，准确测量出被测件的特性，从而为以后PA的设计提供可靠的依据。为了更好的理解上述技术方案，下面通过附图以及具体实施例对本专利技术技术方案做详细的说明，应当理解本专利技术实施例以及实施例中的具体特征是对本专利技术技术方案的详细的说明，而不是对本专利技术技术方案的限定，在不冲突的情况下，本专利技术实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。本专利技术实施例提供了一种测试夹具，请参考图1，包括：第一测试电路1、第一斯坦变换渐变微带线2、第二斯坦变换渐变微带线3及第二测试电路4，下面将对以上四个部件部分进行介绍。1)请继续参考图1并参考图2，第一测试电路1包括：射频输入端10，射频输入端10用于接收信号源供给的射频信号；第一90°混合电桥11，第一90°混合电桥11的输入端11a连接于射频输入端10；第二90°混合电桥12，第二90°混合电桥12的-90°相位输出端12d连接于第一90°混合电桥11的0°相位输出端11c，第二90°混合电桥12的0°相位输出端12c连接于第一90°混合电桥11的-90°相位输出端11d，第二90°混合电桥12的输入端12a连接于第一斯坦变换渐变微带线2的第一端，其中第二90°混合电桥12相当于将第一90°混合电桥11顺本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试夹具，其特征在于，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路；所述第一测试电路包括：射频输入端；第一90°混合电桥，所述第一90°混合电桥的输入端连接于所述射频输入端；第二90°混合电桥，所述第二90°混合电桥的‑90°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的0°相位输出端，所述第二90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的‑90°相位输出端，所述第二90°混合电桥的输入端连接于所述第一斯坦变换渐变微带线的第一端；第一电源，所述第一电源的第一端连接于所述第一90°混合电桥的隔离端，所述第一电源的第二端接地；第一电阻，所述第一电阻的第一端连接于所述第二90°混合电桥的隔离端，所述第一电阻的第二端接地；所述第一斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐变小；所述第二斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐增加；所述第二测试电路包括：第三90°混合电桥，所述第三90°混合电桥的输入端连接于所述第二斯坦变换渐变微带线的第二端；第四90°混合电桥，所述第四90°混合电桥的‑90°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的0°相位输出端，所述第四90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的‑90°相位输出端；第二电源，所述第二电源的第一端连接于所述第四90°混合电桥的隔离端，所述第二电源的第二端接地；第二电阻，所述第二电阻的第一端连接于所述第三90°混合电桥的隔离端，所述第二电阻的第二端接地；射频输出端，连接于所述第四90°混合电桥的输入端。...

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具，其特征在于，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路；所述第一测试电路包括：射频输入端；第一90°混合电桥，所述第一90°混合电桥的输入端连接于所述射频输入端；第二90°混合电桥，所述第二90°混合电桥的-90°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的0°相位输出端，所述第二90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的-90°相位输出端，所述第二90°混合电桥的输入端连接于所述第一斯坦变换渐变微带线的第一端；第一电源，所述第一电源的第一端连接于所述第一90°混合电桥的隔离端，所述第一电源的第二端接地；第一电阻，所述第一电阻的第一端连接于所述第二90°混合电桥的隔离端，所述第一电阻的第二端接地；所述第一斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐变小；所述第二斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐增加；所述第二测试电路包括：第三90°混合电桥，所述第三90°混合电桥的输入端连接于所述第二斯坦变换渐变微带线的第二端；第四90°混合电桥，所述第四90°混合电桥的-90°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的0°相位输出端，所述第四90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的-90°相位输出端；第二电源，所述第二电源的第一端连接于所述第四90°混合电桥的隔离端，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：丛密芳，任建伟，李科，杜寰，
申请(专利权)人：上海联星电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31