一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，该方法包括：获取N片触摸屏的每一个像素点的电容值，其中每一片触摸屏具有M个像素点，M为大于0的整数，N为正整数；计算N片触摸屏上相同的第i个位置的像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中i＝1，2，…，M-1，M；判断N片触摸屏上的N*M个像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；当判定任意1片触摸屏上的任意1个像素点的电容值均在其对应位置的像素点电容值参考范围内，设置第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。本发明专利技术解决了现有技术中电容值检测存在的漏判、过判问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触摸屏检测技术，尤其涉及一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，以及根据触摸屏的像素点电容值检测范围对触摸屏进行检测的触摸屏检测方法。
技术介绍
随着数字时代来临，触摸屏已广泛应用于手持电子产品中，越来越多的手机、平板电脑等产品采用电容式触摸屏作为显示屏幕。电容式触摸屏是利用人体的电流感应进行工作，当手指接触电容式触摸屏时，通过触摸屏上电流的变化，得出触摸点位置。在电容式触摸屏的生产制造过程中，需要对所制造的电容式触摸屏进行检测，从而甄选出合格的触摸屏，其中，合格的触摸屏是指该触摸屏上每个像素(pixel)点的电容值均在正常范围内，因此检测触摸屏是否合格的过程即是对触摸屏每个像素点进行检测的过程。
技术实现思路
现有技术提供的互电容触摸屏的检测方法，首先通过查看电容值三维图随机收集至少30片合格触摸屏的电容值数据，其次针对每一个像素点计算出该像素点的30片触摸屏电容平均值，最后根据经验或芯片供应商建议，将整片触摸屏每个像素点的电容上下限值(limit)设定为某一相同值，通常设定该limit为像素点电容平均值的±20％，由此整片触摸屏每个像素点电容值检测范围设定完成。根据设定的limit值，对任意一片触摸屏进行检测，当整片触摸屏任意一个像素点的电容值均在其对应的像素点电容平均值的±20％波动范围之内，则判定该触摸屏为合格触摸屏，若整片触摸屏的至少一个像素点的电容值超出其像素点电容平均值的±20％波动范围，则判定该触摸屏为不合格触摸屏。可以看出，首先，触摸屏每个像素点实际的电容值波动范围并不完全相同，因此当对每个pixel以相同的limit进行检测时会产生过判或漏判现象。以MOTO4.3qHD在上海模组段的Limit为例，该limit被设定为±25％，某片T3R8处检测到的容值波动为-24.816％，该像素点视为合格点，然而如图1所示为该触摸屏的实际容值三维图，由图可知此点应视为坏点(NG)点，由此说明预先设定的Limit为25％会导致漏判；其次，通过查看电容值三维图确定某触摸屏为合格品或次品时，由于带有较大的主观性，因此并不能确保每个人的判定结果相同；最后，现有技术中准确的触摸屏容值Limit需要经过复杂的实验验证才能确定，耗费人力物力较大。有鉴于此，本专利技术提供一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置，以解决现有技术的问题。第一方面，本专利技术提供的一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，该方法包括：步骤一、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；步骤二、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；步骤三、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；步骤四、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。进一步地，计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，具体包括：根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第i个位置像素点的电容值均值和方差；根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i个位置的像素点电容值参考范围：LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_iLimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，limitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为制程能力参数。进一步地，所述制程能力参数cpk具体为：2≥cpk≥1.67。进一步地，当步骤三判定N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应位置的像素点电容值参考范围内时，该方法还包括：当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为整数且N≥L>0；返回步骤一，当N>L>0时该步骤一当前获取的电容值为剩余N-L片所述触摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时该步骤一重新获取X片触摸屏的每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外的其他X片所述触摸屏，并依次执行步骤一至步骤四。进一步地，所述获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素点的电容值。第二方面，本专利技术提供的一种触摸屏的检测方法，该方法包括：采用第一方面所述的获取方法获取所述触摸屏的像素点电容值检测范围；获取所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，所述触摸屏具有K个像素点，K为大于0的整数；判断所述触摸屏的第j个像素点的电容值是否在其对应位置像素点电容值检测范围内，其中，j＝1，2，…，K-1，K；当所述触摸屏的每一个像素点的电容值均在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为合格触摸屏，或者当所述触摸屏的至少一个像素点的电容值不在其对应位置像素点电容值检测范围内，判定所述触摸屏为不合格触摸屏。第三方面，本专利技术提供了一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取装置，该装置包括：电容值获取模块，用于获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；计算模块，用于计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M-1，M；判断模块，用于判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；设置模块，用于当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，其特征在于，包括：步骤一、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；步骤二、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，2，…，M‑1，M；步骤三、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其对应位置的像素点电容值参考范围内；步骤四、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法，其特征在于，包
括：
步骤一、获取N片所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，每一片所
述触摸屏具有M个所述像素点，M为大于0的整数，N为正整数；
步骤二、计算N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值
均值和方差，以获取第i个位置的像素点电容值参考范围，其中，i＝1，
2，…，M-1，M；
步骤三、判断N片所述触摸屏上的N*M个所述像素点的电容值是否在其
对应位置的像素点电容值参考范围内；
步骤四、当判定任意1片所述触摸屏上的任意1个所述像素点的电容值均
在其对应位置的所述像素点电容值参考范围内，设置所述第i个位置的像素点
电容值参考范围作为对应位置的像素点电容值检测范围。
2.根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，计算N片所述触摸屏
上相同的第i个位置的所述像素点的电容值均值和方差，以获取第i个位置的像
素点电容值参考范围，具体包括：
根据N片所述触摸屏上相同的第i个位置的所述像素点的电容值，计算第
i个位置像素点的电容值均值和方差；
根据所述第i个位置像素点的电容值均值和方差，按照如下公式计算第i
个位置的像素点电容值参考范围：
LimitD_i＝μ_i-cpk*3*δ_i
LimitU_i＝μ_i+cpk*3*δ_i
其中，limitD_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的下限，

\tlimitU_i为所述第i个位置的像素点电容值参考范围的上限，μ_i为所述第i个
位置像素点的电容值均值，δ_i为所述第i个位置像素点的电容值方差，cpk为
制程能力参数。
3.根据权利要求2所述的获取方法，其特征在于，所述制程能力参数cpk
具体为：2≥cpk≥1.67。
4.根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，当步骤三判定N片所
述触摸屏上的N*M个所述像素点中至少一个所述像素点的电容值不在其对应
位置的像素点电容值参考范围内时，该方法还包括：
当判定L片所述触摸屏中的任意1片所述触摸屏上的1个或多个所述像素
点的电容值超出其对应位置的像素点电容值参考范围，从获取的N片所述触摸
屏的像素点的电容值中去除该L片所述触摸屏的像素点的电容值，其中，L为
整数且N≥L>0；
返回步骤一，当N>L>0时该步骤一当前获取的电容值为剩余N-L片所述触
摸屏的每一个所述像素点的电容值，当N＝L时该步骤一重新获取X片触摸屏的
每一个像素点的电容值并且当前获取的X片所述触摸屏为N片所述触摸屏之外
的其他X片所述触摸屏，并依次执行步骤一至步骤四。
5.根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，所述获取N片所述触
摸屏的每一个像素点的电容值具体为至少获取30片所述触摸屏的每一个像素
点的电容值。
6.一种触摸屏的检测方法，其特征在于，包括：
采用权利要求1-5任一项所述的获取方法获取所述触摸屏的像素点电容值
检测范围；
获取所述触摸屏的每一个像素点的电容值，其中，所述触摸屏具有K个像
素点，K为大于0的整数；
判断所述触摸屏的第j个像素点的电容值是否在其对应位置像素点电容值<...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佳仁，杨圣洁，李晓宇，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31