本发明专利技术公开了一种方便调整的迈克尔逊干涉仪，包括分光板、补偿板、第一平面反光镜、第二平面反光镜、观察屏，还包括倒“L”形支架和支架底座，倒“L”形支架包括相互垂直的第一支架壁和第二支架壁，第一平面反光镜与第二平面反光镜分别吸附在第一支架壁与第二支架壁的表面。本发明专利技术可替代传统迈克尔逊干涉仪用于干涉现象的观察及测量，大大方便迈克尔逊干涉仪的调整，有效提高实验效率。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种方便调整的迈克尔逊干涉仪，包括分光板、补偿板、第一平面反光镜、第二平面反光镜、观察屏，还包括倒“L”形支架和支架底座，倒“L”形支架包括相互垂直的第一支架壁和第二支架壁，第一平面反光镜与第二平面反光镜分别吸附在第一支架壁与第二支架壁的表面。本专利技术可替代传统迈克尔逊干涉仪用于干涉现象的观察及测量，大大方便迈克尔逊干涉仪的调整，有效提高实验效率。【专利说明】一种方便调整的迈克尔逊干涉仪
本专利技术属于物理实验仪器领域，涉及一种光学实验仪器，具体为一种方便调整的迈克尔逊干涉仪。
技术介绍
迈克尔逊干涉仪是常用的光学实验仪器。迈克尔逊干涉仪包括两块分别独立设置的平面反射镜，两块平行放置的分光板与补偿板，以及用于承接干涉花样的观察屏。分光板、补偿板分别与两块平面反射镜成45度角。分光板将入射光分成两束分别射向两块平面反射镜并经平面反射镜反射后产生干涉，补偿板起补偿光路光程的作用，用于使两束相干光在玻璃介质中的光程相等。迈克尔逊干涉仪调整的难点，是要将两块相互独立设置的平面反射镜调整至完全垂直状态，此时方可观察到同心圆环状的等倾干涉花样。实验中，两平面反射镜若稍不垂直，就可能造成干涉条纹变形甚至完全看不到干涉条纹，从而无法进行后继的光波波长测量等实验。
技术实现思路
本专利技术的目的，是克服上述迈克尔逊干涉仪的不足，开发一种方便调整的迈克尔逊干涉仪。 为了解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案:包括分光板、补偿板、第一平面反光镜、第二平面反光镜、观察屏，还包括倒“L”形支架和支架底座，所述倒“L”形支架包括第一支架壁、第二支架壁，第一支架壁与第二支架壁均为铁质光滑平面，第一支架壁与第二支架壁相互垂直构成倒“L”形，倒“L”形支架固定在支架底座上可随支架底座一起沿垂直第一支架壁的方向前后移动；第一平面反光镜、第二平面反光镜的背面均带有磁性，第一平面反光镜吸附在第一支架壁表面，第二平面反光镜吸附在第二支架壁表面。 本专利技术的有益效果是:通过倒“L”形支架将第一平面反光镜和第二平面反光镜联系在一起，由于倒“L”形支架的第一支架壁与第二支架壁相互垂直，可确保分别吸附在第一支架壁与第二支架壁表面的第一平面反光镜与第二平面反光镜的相互垂直，彻底解决迈克尔逊干涉仪中平面反光镜调整的困难。本专利技术可替代传统迈克尔逊干涉仪用于干涉现象的观察及测量，大大方便迈克尔逊干涉仪的调整，有效提高实验效率。 【专利附图】【附图说明】 下面结合附图对本专利技术作进一步说明。 图1是本专利技术的构成示意图。 图2是本专利技术产生的干涉条纹图。 图中:1.光源,2.分光板,3.补偿板,4.第一平面反光镜,5.第二平面反光镜，6.观察屏，7.倒“L”形支架，71.第一支架壁，72.第二支架壁，73.支架底座，74.微调旋钮。 【具体实施方式】 如图1所示，本专利技术包括分光板2、补偿板3、第一平面反光镜4、第二平面反光镜5、观察屏6，还包括倒“L”形支架7和支架底座73，倒“L”形支架7包括第一支架壁71、第二支架壁72，第一支架壁71与第二支架壁72均为铁质光滑平面，第一支架壁71与第二支架壁72相互垂直构成倒“L”形，倒“L”形支架7固定在支架底座73上可随支架底座73 —起沿垂直第一支架壁71的方向前后移动以改变光路的光程差；第一平面反光镜4、第二平面反光镜5的背面均带有磁性，第一平面反光镜4吸附在第一支架壁71表面，第二平面反光镜5吸附在第二支架壁72表面。 实验光路如图1中虚线所示，光源I发出的光射到分光板2时分成两束，分别垂直射向第一平面反光镜4、第二平面反光镜5，并经第一平面反光镜4、第二平面反光镜5反射后在观察屏6上呈现干涉花样。如图2所示，干涉条纹为一组内疏、外密的同心圆环。为便于观察到更多类型的干涉花样，垂直第二支架壁72穿设微调旋钮74，用于微调第二平面反光镜5的倾斜度。【权利要求】1.一种方便调整的迈克尔逊干涉仪，包括分光板(2)、补偿板(3)、第一平面反光镜(4)、第二平面反光镜(5)、观察屏(6)，其特征在于:还包括倒“L”形支架(7)和支架底座(73)，倒“L”形支架(7)包括第一支架壁(71)、第二支架壁(72)，第一支架壁(71)与第二支架壁(72)均为铁质光滑平面，第一支架壁(71)与第二支架壁(72)相互垂直构成倒“L”形，倒“L”形支架(7)固定在支架底座(73)上可随支架底座(73) —起沿垂直第一支架壁(71)的方向前后移动；第一平面反光镜(4)、第二平面反光镜(5)的背面均带有磁性，第一平面反光镜(4)吸附在第一支架壁(71)表面，第二平面反光镜(5)吸附在第二支架壁(72)表面。【文档编号】G09B23/22GK104318839SQ201410655819【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年11月17日 优先权日:2014年11月17日 【专利技术者】陈健, 朱纯, 朱云 申请人:江南大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种方便调整的迈克尔逊干涉仪，包括分光板(2)、补偿板(3)、第一平面反光镜(4)、第二平面反光镜(5)、观察屏(6)，其特征在于：还包括倒“L”形支架(7)和支架底座(73)，倒“L”形支架(7)包括第一支架壁(71)、第二支架壁(72)，第一支架壁(71)与第二支架壁(72)均为铁质光滑平面，第一支架壁(71)与第二支架壁(72)相互垂直构成倒“L”形，倒“L”形支架(7)固定在支架底座(73)上可随支架底座(73)一起沿垂直第一支架壁(71)的方向前后移动；第一平面反光镜(4)、第二平面反光镜(5)的背面均带有磁性，第一平面反光镜(4)吸附在第一支架壁(71)表面，第二平面反光镜(5)吸附在第二支架壁(72)表面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈健，朱纯，朱云，
申请(专利权)人：江南大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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