一种用于光电耦合器的试验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于光电耦合器的试验装置，包含至少两个用于对光耦组老化过程进行测试的老化试验单元、数据获取模块和远程显示模块，老化试验单元包括恒流源、状态监测单元和老化箱；其中，老化箱中放置光耦组；数据获取模块用于控制老化箱的温度，定期采集相关数据以计算每个光电耦合器的集电极电流和电流传输比，并在确定所有光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，停止的测试并获取其试验过程持续时间；状态监测单元用于实时监测被测试的光耦组的光电耦合器的电流传输比，并在监测到光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，向数据获取模块发送反馈信号；远程显示模块用于显示从数据获取模块获取的数据。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
—种用于光电耦合器的试验装置
本技术属于光电器件测试
，尤其涉及一种光电耦合器的老化试验装置。
技术介绍
光电稱合器(简称光稱)是一种以光为媒介传输电信号的电子兀器件。光电稱合器因其良好的电绝缘能力和抗干扰能力等特点得到广泛应用。在使用过程中，由于自身运行条件以及外接环境的影响，光电耦合器不可避免地发生老化降级，其可靠性和使用寿命受到影响。 但由于光电耦合器常组装在电路板卡上，其工作在开关状态上，因此光电耦合器的老化不易发现。而一旦光电耦合器发生老化失效，整个电路的功能将会受到严重影响。因此有必要对光电耦合器的老化机理进行研究，甚至对光电耦合器的寿命进行预测。 现有技术中对光电耦合器测试的方法主要集中在型式测试和生产厂家的出厂试验,例如对外观、尺寸的检查，电磁兼容性检查，电流传输比CTR的测试，绝缘电阻测试，电容测试，开关时间测试等等。但在实际使用中，用户更关心如何判断光耦的当前状态和剩余寿命预测，而这方面的需求在现有的测试方法中无法得到满足。
技术实现思路
鉴于此，本技术实施例旨在提供一种用于光电耦合器的试验装置，为光电耦合器的当前状态本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光电耦合器的试验装置，其特征在于，所述装置包含至少两个老化试验单元、数据获取模块和远程显示模块，每个所述老化试验单元用于对对应的包含至少一个光电耦合器的光耦组的老化过程进行测试，所述老化试验单元包括恒流源、状态监测单元和老化箱；所述数据获取模块分别与所述远程显示模块和所述状态监测单元相连；其中，所述老化箱中放置被测试的光耦组；所述数据获取模块，用于分别定期采集光电耦合器回路的试验电流以及各个光电耦合器的输出电压，根据所述试验电流以及所述输出电压计算每个所述光电耦合器的集电极电流和电流传输比，并在根据状态监测单元发送的反馈信号确定一个光耦组内的所有光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，停...

【技术特征摘要】
1.一种用于光电耦合器的试验装置，其特征在于，所述装置包含至少两个老化试验单元、数据获取模块和远程显示模块，每个所述老化试验单元用于对对应的包含至少一个光电耦合器的光耦组的老化过程进行测试，所述老化试验单元包括恒流源、状态监测单元和老化箱；所述数据获取模块分别与所述远程显示模块和所述状态监测单元相连； 其中，所述老化箱中放置被测试的光耦组； 所述数据获取模块，用于分别定期采集光电耦合器回路的试验电流以及各个光电耦合器的输出电压，根据所述试验电流以及所述输出电压计算每个所述光电耦合器的集电极电流和电流传输比，并在根据状态监测单元发送的反馈信号确定一个光耦组内的所有光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，停止该光耦组的测试并获取该光耦组的加速老化试验过程持续时间； 所述恒流源用于为所述光耦组的光电耦合器提供恒定的试验电流； 所述状态监测单元用于实时监测被测试的光耦组的光电耦合器的电流传输比，并在监测到光电耦合器的电流传输比达到截止条件时，向所述数据获取模块发送指示光电耦合器的电流传输比达到截止条件的反馈信号； 所述远程显示模块用于显...

【专利技术属性】
技术研发人员：石颉，姚建林，王磊，吴成年，王钰，徐洁，赵霄鹏，朱斌，田朝晖，周其文，
申请(专利权)人：苏州热工研究院有限公司，中国广核集团有限公司，辽宁红沿河核电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32