【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用存储器特定奇偶校验矩阵的数据编码器和解码器
本公开涉及在存储器系统中使用错误控制码,具体地,涉及不依赖于交织的数据的并行链接(concatenated)编码。
技术介绍
诸如闪存设备的非易失性存储器已经支持消费电子的增加的便携性,并且已经在适合于云计算和大量存储的相对低功率企业存储系统中使用。在这些区域中的一直存在的几乎持续提升的需求经常伴随着改进数据存储容量的需求。更大存储容量的需求又加剧了对更大存储密度的需求,使得可以维持以及优选地降低诸如功耗和外形尺寸的规格。这样,正存在着增加非易失性存储器的存储密度的压力以便进一步改进这些设备的有用的属性。但是,增加存储密度的缺点是,存储的数据愈加易出现存储和/或读取错误。已经使用错误控制编码来限制存储器系统中的错误的增加的可能性。一个错误控制编码选择称为链接编码。链接编码是特别有前途的,因为产生的码字可以被交织地解码,这又可以改进系统的错误校正能力。链接编码方案通常包括由交织器(interleaver)分离的两个数据编码器。交织器打乱(shuffle)数据使得两个编码器按彼此不同的顺序接收数据。相反,解码采用由去交织器分离的两个解码器,该去交织器颠倒编码侧交织器的打乱。打乱和颠倒打乱通过去集群(de-cluster)已集群的错误而帮助均一化(normalize)错误的分布。均一化的错误分布通常是所希望的,因为均一化的分布使能够使用较低复杂度的编码和/或解码处理。但是,源自于当前对于交织的依赖的各种挑战剥夺了对于链接码的利用。例如,实现交织器和去交织器所需的复杂的电路通常是功率强度大的并且在单片实现方式占据了实 ...
【技术保护点】
一种基于与存储介质的错误密度位置简档对应的错误控制码的错误控制系统,该系统包括:编码器,配置为使用与该存储介质的该错误密度位置简档对应的错误控制码产生器矩阵来产生一个或多个码字;以及解码器,配置为使用与该存储介质的错误密度位置简档对应的错误控制码奇偶校验矩阵从一个或多个码字产生解码的数据,其中该奇偶校验矩阵的列与该存储介质的相应的数据位相关联,该奇偶校验矩阵的行与校验位相关联,并且具有预定值的该奇偶校验矩阵的每个矩阵元素指示特定数据位和特定校验位之间的连接。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.11.18 US 61/561,804;2012.11.16 US 13/679,9701.一种基于与存储介质的错误密度位置简档对应的错误控制码的错误控制系统,该系统包括:编码器,配置为使用与该存储介质的该错误密度位置简档对应的错误控制码产生器矩阵来产生一个或多个码字;以及解码器,配置为使用与该存储介质的错误密度位置简档对应的错误控制码奇偶校验矩阵从一个或多个码字产生解码的数据,其中该奇偶校验矩阵的列与该存储介质的相应的数据位相关联,该奇偶校验矩阵的行与校验位相关联,并且该奇偶校验矩阵的每个矩阵元素具有指示特定数据位和特定校验位之间的连接的预定值;其中该存储介质的该错误密度位置简档代表在该存储介质内的相应存储位置处的位错误的概率;根据该存储介质的错误密度位置简档,该存储介质的存储位置包括高错误概率存储器位置,所述高错误概率存储器位置达到该存储介质的除了所述高错误概率存储器位置之外的存储器位置所不满足的预定错误概率标准;以及所述奇偶校验矩阵的校验位包括高连接校验位以及其他校验位,并且所述奇偶校验矩阵具有指示以下的元素值:高连接校验位比其他校验位平均地连接到存储介质的更多的存储器位置,以及其他校验位比高连接校验位平均地连接到更少的高错误概率存储器位置。2.如权利要求1所述的错误控制系统,其中该编码器和该解码器利用的错误控制码是低密度奇偶校验(LDPC)码。3.如权利要求1和2的任意一项所述的错误控制系统,其中该奇偶校验矩阵是不规则的。4.如权利要求1所述的错误控制系统,其中所述高连接校验位每个具有多于阈值数量的连接,并且其他校验位平均地具有少于该阈值数量的连接。5.如权利要求4所述的错误控制系统,其中在低缺陷环境下,连接的阈值数量与该解码器的收敛速度相关联。6.如权利要求1所述的错误控制系统,其中所述高连接校验位与该存储介质中的存储介质块的初始和结尾字线上的存储位置相关联。7.如权利要求1所述的错误控制系统,其中所述高连接校验位与位于距离该存储介质的感测放大器最远处的存储位置集相关联。8.一种基于与存储介质的错误密度位置简档对应的错误控制码的错误控制系统,该系统包括:编码器,配置为使用与该存储介质的该错误密度位置简档对应的错误控制码产生器矩阵来产生一个或多个码字;以及解码器,配置为使用与该存储介质的错误密度位置简档对应的错误控制码奇偶校验矩阵从一个或多个码字产生解码的数据,其中该奇偶校验矩阵的列与该存储介质的相应的数据位相关联,该奇偶校验矩阵的行与校验位相关联,并且该奇偶校验矩阵的每个矩阵元素具有指示特定数据位和特定校验位之间的连接的预定值;其中该存储介质的该错误密度位置简档代表在该存储介质内的相应存储位置处的位错误的概率;根据该存储介质的错误密度位置简档,该存储介质的存储位置包括高错误概率存储器位置,所述高错误概率存储器位置达到该存储介质的除了所述高错误概率存储器位置之外的存储器位置所不满足的预定错误概率标准;以及所述奇偶校验矩阵的校验位包括低连接校验位以及其他校验位,并且所述奇偶校验矩阵具有指示以下的元素值:低连接校验位比其他校验位平均地连接到存储介质的更少的存储器位置,并且比其他校验位平均地连接到更多的高错误概率存储器位置。9.如权利要求8所述的错误控制系统,其中所述低连接校验位每个具有少于阈值数量的连接,并且所述其他校验位平均具有多于所述阈值数量的连接。10.如权利要求9所述的错误控制系统,其中在高缺陷环境下,所述连接的阈值数量与该解码器的收敛速度值相关联。11.如权利要求8所述的错误控制系统,其中所述低连接校验位与该存储介质中的存储介质块的初始和结尾字线上的存储位置相关联。12.如权利要求8所述的错误控制系统,其中所述低连接校验位与位于距离该存储介质的感测放大器最远处的存储位置集相关联。13.一种错误控制系统,能够操作以将数据适应性地编码为码字并从码字解码数据,该系统包括:编码器,配置为使用可调整的产生器矩阵产生一个或多个码字;解码器,配置为使用可调整的奇偶校验矩阵从一个或多个码字产生解码的数据;码适配模块,配置为基于错误位置统计产生对于所述可调整的产生器矩阵和所述可调整...
【专利技术属性】
技术研发人员:JE弗拉耶,AK奥尔布里科,
申请(专利权)人:桑迪士克企业知识产权有限责任公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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