一种照明成像系统技术方案

本申请公开了一种照明成像系统，由于光调制器可以使超连续谱光源发射的激光在某个预设时间段内仅有某一个波长的激光通过，因此，在该预设时间段内其它波长的激光均不能照到待测物料上，从而使待测物料的反射光每次仅包含一种波长的激光，因此一个探测器即可满足使用需求。当增加新的波长的激光时，仅需光调制器允许新的波长出射即可，无需增加分光装置和相对应的探测器，从而大大降低了照明成像系统的复杂度。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本申请公开了一种照明成像系统，由于光调制器可以使超连续谱光源发射的激光在某个预设时间段内仅有某一个波长的激光通过，因此，在该预设时间段内其它波长的激光均不能照到待测物料上，从而使待测物料的反射光每次仅包含一种波长的激光，因此一个探测器即可满足使用需求。当增加新的波长的激光时，仅需光调制器允许新的波长出射即可，无需增加分光装置和相对应的探测器，从而大大降低了照明成像系统的复杂度。【专利说明】—种照明成像系统
本专利技术涉及物料分选
，更具体的说，涉及一种照明成像系统。
技术介绍
物料分选技术的原理为:将物料输送到振动器上，振动器的向前上方的往复运动将物料不断的向前上方抛出、落下，当物料运动到料槽中，通过斜坡下滑加速后，相同的物料在料槽面上呈单层分布，相邻两个物料之间通常存在一定的距离。当物料脱离料槽后，采用照明光源照明，照明光源可采用反射、透射或反射与透射结合，然后利用探测器成像，得到的图像由控制器的图像处理功能进行处理，从而判断出合格物料和不合格物料，而后控制器控制剔除系统将不合格物料剔除。 参见图1，现有技术公开的一种照明成像系统的结构示意图，超连续谱光源101发射的同时包含有多个不同波长的激光经过半反半透镜102透射到旋转棱镜103，旋转棱镜103旋转将点激光反射扫描成一条线01，该线即是物料运行平面上的一条垂直于运动方向的线，当物料运动通过该线时，激光扫描到物料上，物料的反射光经过旋转棱镜103、半反半透镜102反射，然后经分光装置104分光进入到与各波长激光相对应的探测器105进行成像。其中，物料的反射光包括物料表面直接反射的光和部分入射到物料内部散射后的反射光。 由于一个探测器一次只能接收一种波长的激光，因此，每增加一个新的波长的激光，就需要相应的增加一套分光装置和相对应的探测器，从而增加了照明成像系统的复杂度。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种照明成像系统，以解决由于增加新的波长的激光，就需要相应增加分光装置和相对应的探测器而导致的增加照明成像系统复杂度的问题。 一种照明成像系统，包括: 超连续谱光源； 使所述超连续谱光源发射的激光在某个预设时间段内仅有某一个波长的激光通过的光调制器； 第一半反半透镜； 将所述第一半反半透镜透射的点激光反射扫描成一条线，并将待测物料的反射光反射至所述第一半反半透镜的光学装置； 接收所述第一半反半透镜反射的反射光，并对与该反射光对应的物料进行成像的探测器； 分别与所述超连续谱光源、所述光调制器和所述探测器连接，用于控制所述超连续谱光源的工作状态、控制所述光调制器输出指定波长的激光、控制所述探测器的工作状态的控制器。 优选的，还包括: 位于所述第一半反半透镜和所述探测器之间的会聚透镜。 优选的，所述光调制器为旋转滤光片，所述旋转滤光片由支持多种不同波长的滤光片组成。 优选的，所述旋转滤光片为圆形旋转滤光片。 优选的，所述光调制器为光开关。 优选的，所述光学装置为与所述控制器连接，由所述控制器控制旋转的旋转棱镜。 优选的，所述光学装置为鲍威尔棱镜。 优选的，所述探测器为相机或光电二极管。 优选的，所述相机为线阵或面阵的相机。 优选的，当所述探测器为反射光探测器时，所述照明成像系统还包括:第二半反半透镜、散射光探测器、第一光阑和第二光阑； 所述第二半反半透镜位于所述第一半反半透镜和所述反射光探测器之间； 所述第一光阑位于所述第二半反半透镜和所述反射光探测器之间，用于将所述第二半反半透镜透射的反射光的直接反射部分透射至所述反射光探测器； 所述第二光阑位于所述第二半反半透镜和所述散射光探测器之间，用于将所述第二半反半透镜反射的反射光的散射部分透射至所述散射光探测器。 从上述的技术方案可以看出，本专利技术提供了一种照明成像系统，由于光调制器可以使超连续谱光源发射的激光在某个预设时间段内仅有某一个波长的激光通过，因此，在该预设时间段内其它波长的激光均不能照到待测物料上，从而使待测物料的反射光每次仅包含一种波长的激光，因此一个探测器即可满足使用需求。当增加新的波长的激光时，仅需光调制器允许新的波长出射即可，无需增加分光装置和相对应的探测器，从而大大降低了照明成像系统的复杂度。 【专利附图】【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。 图1为现有技术公开的一种照明成像系统的结构示意图； 图2为本专利技术实施例公开的一种照明成像系统的结构示意图； 图3为本专利技术实施例公开的一种采集时间与不同波长激光的对应关系图； 图4为本专利技术实施例公开的一种旋转滤光片的结构示意图； 图5为本专利技术实施例公开的一种光开关的结构示意图； 图6为本专利技术实施例公开的另一种照明成像系统的结构示意图； 图7为本专利技术实施例公开的另一种照明成像系统的结构示意图。 【具体实施方式】 下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。 本专利技术实施例公开了一种照明成像系统，以解决由于增加新的波长的激光，就需要相应增加分光装置和相对应的探测器而导致的增加照明成像系统复杂度的问题。 参见图2，本专利技术实施例公开的一种照明成像系统的结构示意图，包括:超连续谱光源201、光调制器202、第一半反半透镜203、光学装置204、探测器205和控制器(图2中未示出)； 其中: 光调制器202位于超连续谱光源201发射激光的一侧，能够使超连续谱光源201发射的激光在某个预设时间段内仅有某一个波长的激光通过。 其中，每个预设时间段对应一种波长的激光。 光学装置204可将第一半反半透镜203透射的点激光扫描成一条线02，并将待测物料的反射光反射至第一半反半透镜203。 探测器205用于接收第一半反半透镜203反射的反射光，并对该反射光对应的物料进行成像。 控制器分别与超连续谱光源201、光调制器202和探测器205连接，控制器用于控制超连续谱光源201的工作状态、控制光调制器202输出指定波长的激光、控制探测器205的工作状态。 照明成像系统的工作原理具体如下: 控制器控制超连续谱光源201发射激光，并控制光调制器202在某个预设时间段内仅允许一种波长的激光通过，通过光调制器202的激光经过第一半反半透镜203透射到光学装置204，光学装置204将第一半反半透镜203透射的点激光扫描成一条线02，当待测物料运动通过该线02时，激光扫描到待测物料上，待测物料的反射光经过光学装置204反射、半反半透镜102反射，而后控制器控制探测器205接收反射激光，并对与该反射激光对应的待测物料进行成像。 需要说明的是，由于光调制器202能够在时间上控制不同时间段对应不同波长的激光入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种照明成像系统，其特征在于，包括：超连续谱光源；使所述超连续谱光源发射的激光在某个预设时间段内仅有某一个波长的激光通过的光调制器；第一半反半透镜；将所述第一半反半透镜透射的点激光反射扫描成一条线，并将待测物料的反射光反射至所述第一半反半透镜的光学装置；接收所述第一半反半透镜反射的反射光，并对与该反射光对应的物料进行成像的探测器；分别与所述超连续谱光源、所述光调制器和所述探测器连接，用于控制所述超连续谱光源的工作状态、控制所述光调制器输出指定波长的激光、控制所述探测器的工作状态的控制器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：唐麟，汪洪波，许大红，
申请(专利权)人：合肥泰禾光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34