SET2DIL测试探头的夹具和SET2DIL测试探头组件制造技术

本实用新型专利技术提供了一种SET2DIL测试探头的夹具和SET2DIL测试探头组件。SET2DIL测试探头的夹具包括：壳体，壳体的内部设置有安装腔室和过线通道，壳体的外壁上设置有测试口和出线口，测试口与安装腔室相连通，过线口通过过线通道与安装腔室相连通；其中：测试探头安装在安装腔室内，测试探头的测试端位于测试口处、并伸出测试口，测试探头的电缆线位于过线通道内、且其一端自出线口伸出。本实用新型专利技术提供的SET2DIL测试探头的夹具，结构新颖、外观时尚，更方便于操作者使用时的把持和控制，避免测试探头定位时产生偏位的问题，减少探针和接地片的磨损次数，更好地对测试探头进行了保护。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供了一种SET2DIL测试探头的夹具和SET2DIL测试探头组件。SET2DIL测试探头的夹具包括：壳体，壳体的内部设置有安装腔室和过线通道，壳体的外壁上设置有测试口和出线口，测试口与安装腔室相连通，过线口通过过线通道与安装腔室相连通；其中：测试探头安装在安装腔室内，测试探头的测试端位于测试口处、并伸出测试口，测试探头的电缆线位于过线通道内、且其一端自出线口伸出。本技术提供的SET2DIL测试探头的夹具，结构新颖、外观时尚，更方便于操作者使用时的把持和控制，避免测试探头定位时产生偏位的问题，减少探针和接地片的磨损次数，更好地对测试探头进行了保护。【专利说明】SET2DIL测试探头的夹具和SET2DIL测试探头组件
本技术涉及SET2DIL测试领域，更具体而言，涉及一种SET2DIL测试探头的夹具和一种包含该夹具的SET2DIL测试探头组件。
技术介绍
SET2DIL (Single-Ended TDRto Differential Insert1n Loss,单端 TDR 差分插入损耗法)测试是一种新兴的PCB产业中的插入损耗测试方法，该测试所用到的测试探头的探针(包括两个)直径约4mil(即:0.1mm)，材质为贵重低损耗金属，另外也包含有两个接地片和四个定位桩，四个定位桩均布设置在探针和接地片的外侧。由于探针和接地片的材质和制作工艺的原因，一支SET2DIL测试探头的造价及其昂贵，探针和接地片本身也非常脆弱，而常规的SET2DIL测试探头夹具为不透明材质，且完全遮盖住了探针，操作者无法直视检查定位准确度，造成操作者在测试时无法准确将测试探头定位在PCB上，于是在这个过程中就出现了大量的误操作，最终对探针和接地片形成额外的磨损，二者十分容易损坏，一般寿命仅仅为3000个测试点，在批量生产中，使得制造PCB的成本大幅度增加。 除此之外，市场上现有的测试探头夹具尺寸过小，不够灵活，操作者使用时也不方便把持和控制，即:经常产生偏位的情况，造成更大的探针和接地片磨损问题。同时，SET2DIL测试是一个持续进行的工作，过小的夹具造成操作者测试时手指麻木和疼痛，影响测试效率和准确度。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。 为此，本技术提供了一种外观时尚、大气，使用舒适性好的SET2DIL测试探头的夹具。 本技术第一方面的实施例提供了一种SET2DIL测试探头的夹具，包括:壳体，所述壳体的内部设置有安装腔室和过线通道，所述壳体的外壁上设置有测试口和出线口，所述测试口与所述安装腔室相连通，所述过线口通过所述过线通道与所述安装腔室相连通；其中:所述测试探头安装在所述安装腔室内，所述测试探头的测试端位于所述测试口处、并伸出所述测试口，所述测试探头的电缆线位于所述过线通道内、且其一端自所述出线口伸出。 本技术提供的SET2DIL测试探头的夹具，结构新颖、外观时尚，更方便于操作者使用时的把持和控制，避免测试探头定位时产生偏位的问题，减少探针和接地片的磨损次数，更好地对测试探头进行了保护。 而且，本申请的夹具选用有机玻璃材质制造，具有表面光滑、比重小、强度较大、耐腐蚀、耐湿、耐晒、绝缘性能好、隔声性好等优点，可对测试探头的移动状况一目了然，减少了不必要的定位时间，使操作者可以更快地将测试探头的定位桩插入PCB板上的定位孔内，操作时更省时。 根据技术的一个实施例，所述壳体的底面呈椭圆形状、所述壳体的上表面呈弧面状，且所述壳体上表面的边缘处与所述壳体底面的边缘处相连接。 根据技术的一个实施例，所述壳体的上表面呈椭圆球面状。 本实施例提供的夹具具有与操作者手掌更宽广的接触面积，夹具上方的弧形接触面设计，与鼠标的形状设计相似，可以与操作者手掌完美地接触，操作者操作时可更省力。 根据技术的一个实施例，所述壳体包括:壳本体，所述壳本体的底面上设置有安装槽和过线槽，所述过线槽位于所述安装槽的一侧，所述壳体的侧壁上设置有所述出线口，且所述出线口通过所述过线槽与所述安装槽相连通；和下盖板，安装在所述壳本体的底面上、并覆盖所述安装槽和所述过线槽的槽口，且所述下盖板上设置有所述测试口，所述测试口位于所述安装槽的槽口处；其中，所述安装槽的内壁和所述下盖板的上板面之间围成所述安装腔室、所述过线槽的内壁与所述下盖板的上板面之间围成所述过线通道。 根据技术的一个实施例，所述下盖板的上板面上还设置有固定栅栏，所述固定栅栏位于所述过线通道内，且所述固定栅栏上设置有过线口，所述电缆线位于所述过线口内。 根据技术的一个实施例，所述过线槽的底壁上设置有插口，所述固定栅栏的上端插装在所述插口内。 根据技术的一个实施例，所述下盖板和所述壳本体中的一个上设置有销轴、另一个上设置有销孔，所述销轴插装在所述销孔内。 根据技术的一个实施例，所述销轴位于所述下盖板的上板面上，所述销孔位于所述壳本体的底面上。 根据技术的一个实施例，所述固定栅栏包括沿所述过线通道的长度方向间隔设置的两个，所述销轴包括设置在所述下盖板前端处和后端处的两个；其中，两个所述销轴、两个所述固定栅栏和所述下盖板为一体式结构。 本技术第二方面的实施例提供了一种SET2DIL测试探头组件，包括:上述任一实施例所述的SET2DIL测试探头的夹具；和测试探头，安装在所述夹具内。 本申请提供的SET2DIL测试探头组件，外观时尚、大气，并具有与操作者手掌更宽广的接触面积，夹具上方的弧形接触面设计，与鼠标的形状设计相似，可以与操作者手掌完美地接触，操作者操作时可更省力。 综上所述，本申请提供的SET2DIL测试探头的夹具，结构新颖、外观时尚，更方便于操作者使用时的把持和控制，避免测试探头定位时产生偏位的问题，减少探针和接地片的磨损次数，更好地对测试探头进行了保护。 本技术的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本技术的实践了解到。 【专利附图】【附图说明】 本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中: 图1是本技术所述测试探头一个实施例的主视结构剖视示意图； 图2是本技术所述夹具中的壳本体一个实施例的主视结构剖视示意图； 图3是图2所示壳本体的仰视结构示意图； 图4是本技术所述夹具中的下盖板一个实施例的主视结构剖视示意图； 图5是图4所示下盖板的俯视结构示意图； 图6是本技术所述夹具中的固定栅栏一个实施例的结构示意图； 图7是测试探头与本技术所述的夹具相组装后一个实施例的主视结构剖视示意图。 其中，图1至图7中附图标记与部件名称之间的对应关系为: I安装腔室，2过线通道，3测试口，4出线口，5测试探头，51电缆线，52定位桩，61壳本体，62下盖板，7固定栅栏，71过线口，72插口，81销轴，82销孔。 【具体实施方式】 为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和【具体实施方式】对本技术进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SET2DIL测试探头的夹具，其特征在于，包括：壳体，所述壳体的内部设置有安装腔室和过线通道，所述壳体的外壁上设置有测试口和出线口，所述测试口与所述安装腔室相连通，所述过线口通过所述过线通道与所述安装腔室相连通；其中：所述测试探头安装在所述安装腔室内，所述测试探头的测试端位于所述测试口处、并伸出所述测试口，所述测试探头的电缆线位于所述过线通道内、且其一端自所述出线口伸出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘丰，
申请(专利权)人：北大方正集团有限公司，珠海方正科技高密电子有限公司，珠海方正印刷电路板发展有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11