一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统。读取预先设置的测试条件，并写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率，对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于二者的多项式函数，利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件，将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在校准频率对应的测试条件下的输出校准频率，对输出校准频率进行验证，若输出校准频率满足频率准确度范围，则校准结束；否则，调整多项式函数的系数后，继续执行。本发明专利技术能够自动完成恒温晶体振荡器频率校准，减少测量误差，实现自动、精确校准频率、提高生产效率的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统
本专利技术涉及晶体振荡器
，尤其涉及一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统。
技术介绍
目前，恒温晶体振荡器的频率准确度校准是采用人工操控测试设备进行，通过手工改变晶体振荡器的温度值改变其频率输出，然后人为确定是否达到在晶体的频率准确度范围内。这种通过人工调试改变晶体振荡器频率参数的方式不够科学、不够精确，很容易造成频率准确度不准或者人为选择误差，导致恒温晶体振荡器没有达到其要求的输出精度，甚至无法持续保证稳定输出；除此之外，生产效率低下，也是人工调试的极大弊端，远远不能满足恒温晶体振荡器的高性能指标。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提出一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统，能够自动完成恒温晶体振荡器频率校准，减少测量误差，实现自动、精确校准频率、提高生产效率的目的。为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：一种恒温晶体振荡器频率校准方法，包括：S1、读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；S2、读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；S3、对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数；S4、利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件；S5、将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准；其中，所述测试条件包括模拟的晶体振荡器工作的温度值。其中，所述步骤S1、读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；和步骤S2、读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；包括：读取预先配置的温度起始值，写入晶体振荡器，获得晶体振荡器的初次输出频率，具体为：读取预先配置的温度起始值，至烧钟稳定后，将温度起始值写入晶体振荡器；多次采集晶体振荡器在温度起始值条件下的输出频率；利用中位值平均滤波法对输出频率处理，获得晶体振荡器的初次输出频率；将温度起始值按照温度步长递加后，写入晶体振荡器，依次得到晶体振荡器在不同温度下的输出频率。其中，在所述步骤S3、对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数之前，还包括：对测试条件与输出频率的关系数组进行过滤筛选。其中，所述步骤S4、利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件，具体为：根据晶体振荡器的校准频率，利用多项式函数，计算出校准频率对应的温度；所述步骤S5、将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准，包括：将所述校准频率对应的温度写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在该温度下的输出校准频率；若所述输出校准频率满足频率准确度范围，则校准结束，并将所述校准频率对应的温度参数写入晶体振荡器；否则，调整步骤S3中的多项式函数的系数后，后续步骤依次执行,若连续循环5次调整步骤S3中的多项式函数的系数仍未使输出校准频率满足频率准确度范围，则返回步骤2，后续步骤依次执行；若返回步骤2连续循环3次仍未使输出校准频率满足频率准确度范围，则校准失败，结束校准。一种恒温晶体振荡器频率校准装置，包括：系统配置及写入单元，用于读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；数据采集单元，用于读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；数据处理单元，用于对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数；校准参数单元，用于利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件；校准及验证单元，用于将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准；其中，所述测试条件包括模拟的晶体振荡器工作的温度值。其中，所述系统配置及写入单元、和数据采集单元，具体用于：读取预先配置的温度起始值，写入晶体振荡器，获得晶体振荡器的初次输出频率，具体为：读取预先配置的温度起始值，至烧钟稳定后，将温度起始值写入晶体振荡器；多次采集晶体振荡器在温度起始值条件下的输出频率；利用中位值平均滤波法对输出频率处理，获得晶体振荡器的初次输出频率；将温度起始值按照温度步长递加后，写入晶体振荡器，依次得到晶体振荡器在不同温度下的输出频率。其中，还包括数据筛选单元，用于对测试条件与输出频率的关系数组进行过滤筛选。其中，所述校准参数单元，具体用于：根据晶体振荡器的校准频率，利用多项式函数，计算出校准频率对应的温度；所述校准及验证单元，具体用于：将所述校准频率对应的温度写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在该温度下的输出校准频率；若所述输出校准频率满足频率准确度范围，则校准结束，并将所述校准频率对应的温度参数写入晶体振荡器；否则，调整数据处理单元中的多项式函数的系数后，后续单元依次执行,若连续循环5次调整数据处理单元中的多项式函数的系数仍未使输出校准频率满足频率准确度范围，则返回数据采集单元，后续单元依次执行；若返回数据采集单元连续循环3次仍未使输出校准频率满足频率准确度范围，则校准失败，结束校准。一种恒温晶体振荡器频率校准系统，包括：测试硬件设备、及通过通信接口与测试硬件设备连接的PC机；所述PC机，用于读取预先设置的测试条件，控制测试硬件设备将测试条件写入晶体振荡器，读取测试硬件设备返回的晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率，对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数，利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件，将所述校准频率对应的测试条件通过控制测试硬件设备写入晶体振荡器，读取测试硬件设备返回的晶体振荡器在校准频率对应的测试条件下的输出校准频率，验证实现校准；所述测试硬件设备，用于接收PC机读取的预先配置的测试条件，并写入晶体振荡器，采集晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率反馈给PC机，以及用于接收PC机发送的校准频率对应的测试条件，并写入晶体振荡器，采集晶体振荡器在校准频率对应的测试条件下的输出校准频率反馈给PC机；其中，所述测试条件包括模拟的晶体振荡器工作的温度值。有益效果：本专利技术所述的一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统。其方法包括：首先读取预先设置的测试条件，并将测试条件写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率，对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数，利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件，将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在校准频率对应的测试条件下的输出校准频率，对输出校准频率进行验证，若输出校准频率满足频率准确度范围，则校准结束，并将所述校准频率对应的温度参数写入晶体振荡器；否则，调整多项式函数的系数后，继续执行。本专利技术能够自动完成恒温晶体振荡器频率校准，减少测量误差，实现自动、精确校准频率、提高生产效率的目的。附图说明图1是本专利技术实施例1提供的一种恒温晶体振荡器频率校准方法的流程图。图2是本专利技术实施例2提供的一种恒温晶体振荡器频率校准装置的结构示意图。图3是本专利技术实施例3提供的一种恒温晶体振荡器频率校准系统的结构示意图。图中：1-PC机；2-测试硬件设备。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。实施例1：图1是本专利技术实施例1提供的一种恒温晶体振荡器频率校准方法的流程图。如图1所示，本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种恒温晶体振荡器频率校准方法，其特征在于，包括：S1、读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；S2、读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；S3、对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数；S4、利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件；S5、将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准；其中，所述测试条件包括模拟的晶体振荡器工作的温度值。

【技术特征摘要】
1.一种恒温晶体振荡器频率校准方法，其特征在于，包括：S1、读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；S2、读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；对测试条件与输出频率的关系数组进行过滤筛选；S3、对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数；S4、利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件；S5、将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准；其中，所述测试条件包括模拟的晶体振荡器工作的温度值。2.根据权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器频率校准方法，其特征在于，所述步骤S1、读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器包括：读取预先配置的温度起始值，至烧钟稳定后，将温度起始值写入晶体振荡器；相应地，所述步骤S2、读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率包括：多次采集晶体振荡器在温度起始值条件下的输出频率；利用中位值平均滤波法对输出频率处理，获得晶体振荡器的初次输出频率；将温度起始值按照温度步长递加后，写入晶体振荡器依次得到晶体振荡器在不同温度下的输出频率。3.根据权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器频率校准方法，其特征在于，所述步骤S4、利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件，具体为：根据晶体振荡器的校准频率，利用多项式函数，计算出校准频率对应的温度；所述步骤S5、将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准，包括：将所述校准频率对应的温度写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在该温度下的输出校准频率；若所述输出校准频率满足频率准确度范围，则校准结束，并将所述校准频率对应的温度参数写入晶体振荡器；否则，调整步骤S3中的多项式函数的系数后，后续步骤依次执行,若连续循环5次调整步骤S3中的多项式函数的系数仍未使输出校准频率满足频率准确度范围，则返回步骤S2，后续步骤依次执行；若返回步骤S2连续循环3次仍未使输出校准频率满足频率准确度范围，则校准失败，结束校准。4.一种恒温晶体振荡器频率校准装置，其特征在于，包括：系统配置及写入单元，用于读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；数据采集单元，用于读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；数据筛选单元，用于对测试条件与输出频率的关系数组进行过滤筛选；数据处理单元，用于对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数；校准参数单元，用于利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对...

【专利技术属性】
技术研发人员：李坤然，
申请(专利权)人：广东大普通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44