本发明专利技术属于振荡器测试设备技术领域，公开一种振荡器测试装置，该振荡器测试装置包括测试箱体、第一电路板以及加热板，所述测试箱体的内部开设有测试密封腔，所述测试密封腔用于容纳振荡器；第一电路板设置于所述测试密封腔内并与所述振荡器电连接，所述第一电路板用于接通外部仪器，以对所述振荡器进行通电测试；加热板与所述第一电路板电连接，且所述加热板与所述振荡器间隔设置，所述加热板用于调节所述测试密封腔内的温度。本发明专利技术的加热板能够快速提高测试密封腔内的温度，使振荡器的温度能够快速稳定到预设范围之内，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。
【技术实现步骤摘要】
一种振荡器测试装置
[0001]本专利技术涉及振荡器测试设备
，尤其涉及一种振荡器测试装置。
技术介绍
[0002]振荡器是一种能量转换装置，其用于将直流电能转换为具有一定频率的交流电能，其构成的电路叫做震荡电路。恒温晶体振荡器是振荡器中的一种，其具备EEPROM(带电可擦可编程只读存)的功能和VTemp温度(恒定温度)转换成电压值输出的功能。
[0003]现有的恒温晶体振荡器在生产过程中需要采用测试装置进行测试，但现有的测试装置只具备供电、连接、装夹和测试功能，无法提供一个恒定温度的测试环境，由于恒温晶体振荡器工作原理的原因，恒温晶体振荡器通电之后其内部的加热电路对产品进行加热，最终需要稳定在预设温度范围之内后才可以进行准确有效的测试，但是恒温晶体振荡器自身的加热功率有限，并且测试环境温度与产品稳定温度相差较大，测试装置的热量容易消散，当恒温晶体振荡器的温度升高到预设温度范围之内，与热量流失达成平衡时，产品的温度在极小范围内波动，产品的输出频率才算是基本稳定，但是恒温晶体振荡器的升温过程极其缓慢，导致测试效率降低。
[0004]因此，亟需一种能够快速提高环境温度的振荡器测试装置，以提高测试效率。
技术实现思路
[0005]本专利技术的一个目的在于：提供一种振荡器测试装置，通过提高振荡器的工作环境温度，以保证振荡器的温度能够快速稳定到预设范围之内，提高检测效率。
[0006]为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0007]一种振荡器测试装置，包括：
[0008]测试箱体，所述测试箱体的内部开设有测试密封腔，所述测试密封腔用于容纳振荡器；
[0009]第一电路板，设置于所述测试密封腔内并与所述振荡器电连接，所述第一电路板用于接通外部仪器，以对所述振荡器进行通电测试；
[0010]加热板，与所述第一电路板电连接，且所述加热板与所述振荡器间隔设置，所述加热板用于调节所述测试密封腔内的温度。
[0011]作为一种可选的技术方案，所述测试密封腔内还安装有限位板，所述限位板用于限定所述振荡器在所述测试密封腔内的位置。
[0012]作为一种可选的技术方案，所述限位板采用耐高温绝缘隔热材料制成。
[0013]作为一种可选的技术方案，所述限位板上开设有安装槽，所述加热板限定容纳于所述安装槽内。
[0014]作为一种可选的技术方案，所述振荡器与所述安装槽槽底之间的距离大于所述加热板的厚度。
[0015]作为一种可选的技术方案，所述测试箱体包括主箱和盖板，所述盖板活动安装于
所述主箱的端口处，所述盖板用于将所述主箱的端口覆盖，以围成所述测试密封腔。
[0016]作为一种可选的技术方案，所述盖板上安装有硅胶片，所述盖板覆盖于所述主箱的端口时，所述硅胶片抵压于所述振荡器上。
[0017]作为一种可选的技术方案，所述盖板设置为两个，两个所述盖板分别转动安装于所述主箱端口的两侧，两个所述盖板用于分别带动所述硅胶片抵压于所述振荡器的边角。
[0018]作为一种可选的技术方案，所述第一电路板上设置有测试探针，所述测试探针用于插接所述振荡器。
[0019]作为一种可选的技术方案，所述测试箱体的底部安装有第二电路板，所述第二电路板与所述第一电路板通过导电件连接，所述第二电路板用于连接外部仪器。
[0020]本专利技术的有益效果在于：
[0021]本专利技术提供一种振荡器测试装置，用于对振荡器进行测试。对振荡器进行测试时，将振荡器放置在测试密封腔内，通过测试密封腔的密封环境将振荡器与外界隔离，避免振荡器受到外界温度急剧变化的影响，且测试密封腔能够避免热量快速流失到外界，当振荡器自身的产热速度过于缓慢时，第一电路板控制加热板进行加热，使测试密封腔内的温度快速稳定到预设的范围之内，保证外部仪器能够测试到振荡器的准确数值，将加热板与振荡器间隔设置，能够避免加热板直接接触烫伤振荡器。
附图说明
[0022]下面根据附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明；
[0023]图1为实施例所述的振荡器测试装置的剖视图。
[0024]图中：
[0025]100、振荡器；
[0026]1、测试箱体；11、主箱；101、测试密封腔；12、盖板；2、第一电路板；3、加热板；4、限位板；5、硅胶片；6、测试探针；7、第二电路板；8、导电件。
具体实施方式
[0027]为使本专利技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0028]在本专利技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0029]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在
第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0030]于本文的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、等方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”，仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
[0031]在本说明书的描述中，参考术语“一实施例”、“示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。
[0032]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。
[0033]恒温晶体振荡器在进行测试时，需要在较高的温度范围内测试才能够保证测试的准确性，但恒温晶体振荡器自身的发热功率不高，需要较长的时间积累热量才能够达到预设的温度范围，但是不能够通过提高恒温晶体振荡器自身的发热功率来实现快速升温的目的，避免恒温晶体振荡器实现其他功能的功率受到影响。
[0034]如图1所示，本实施例提供一种振荡器测试装置，以解决上述问本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种振荡器测试装置，其特征在于，包括：测试箱体(1)，所述测试箱体(1)的内部开设有测试密封腔(101)，所述测试密封腔(101)用于容纳振荡器(100)；第一电路板(2)，设置于所述测试密封腔(101)内并与所述振荡器(100)电连接，所述第一电路板(2)用于接通外部仪器，以对所述振荡器(100)进行通电测试；加热板(3)，与所述第一电路板(2)电连接，且所述加热板(3)与所述振荡器(100)间隔设置，所述加热板(3)用于调节所述测试密封腔(101)内的温度。2.根据权利要求1所述的振荡器测试装置，其特征在于，所述测试密封腔(101)内还安装有限位板(4)，所述限位板(4)用于限定所述振荡器(100)在所述测试密封腔(101)内的位置。3.根据权利要求2所述的振荡器测试装置，其特征在于，所述限位板(4)采用耐高温绝缘隔热材料制成。4.根据权利要求2所述的振荡器测试装置，其特征在于，所述限位板(4)上开设有安装槽，所述加热板(3)限定容纳于所述安装槽内。5.根据权利要求4所述的振荡器测试装置，其特征在于，所述振荡器(100)与所述安装槽槽底之间的距离大于所述加热板(3)的厚度。6....
【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，刘朝胜，张辉，
申请(专利权)人：广东大普通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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