设备到设备测量处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种设备到设备测量处理方法及装置，该方法包括：接收网络节点下发的基于用户终端UE的D2D测量配置信息；根据D2D测量配置信息执行基于UE的D2D测量；根据D2D测量配置信息上报测量后获得的D2D测量结果，通过本发明专利技术，解决了在相关技术中存在无法实现对D2D发现及D2D通信进行有效控制的问题，进而达到了能够对D2D发现及D2D通信进行有效控制，提高资源利用率以及改善用户服务质量的效果。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种设备到设备D2D测量处理方法，其特征在于，包括：接收网络节点下发的基于用户终端UE的D2D测量配置信息；根据所述D2D测量配置信息执行基于UE的D2D测量；根据所述D2D测量配置信息上报测量后获得的D2D测量结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈琳，黄莹，谢峰，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44