一种电流传感器，能小型化且稳定地获得检测值。由磁电变换元件(15a～15d)构成的第1磁电变换元件群(A15)、和由磁电变换元件(15e～15h)构成的第2磁电变换元件群(B15)夹着布线基板(16)的切口(17)而配设，第1以及第2磁电变换元件群相对于第1虚拟线(IL1)呈线对称地配设，第1以及第2磁电变换元件群内的磁电变换元件(15)相对于第2虚拟线(IL2)呈线对称地配设，第1虚拟线与第2虚拟线在配设了被测量电流路径(CB)的配设位置(PP)正交，以配设位置为中心而呈点对称的多组磁电变换元件的灵敏度轴的朝向分别平行或者反平行，第1以及第2磁电变换元件群内的相邻的磁电变换元件之间的间隔即元件间隔(DA1)窄于第1磁电变换元件群与第2磁电变换元件群之间的最窄间隔即群间隔(DG1)。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】一种电流传感器，能小型化且稳定地获得检测值。由磁电变换元件(15a～15d)构成的第1磁电变换元件群(A15)、和由磁电变换元件(15e～15h)构成的第2磁电变换元件群(B15)夹着布线基板(16)的切口(17)而配设，第1以及第2磁电变换元件群相对于第1虚拟线(IL1)呈线对称地配设，第1以及第2磁电变换元件群内的磁电变换元件(15)相对于第2虚拟线(IL2)呈线对称地配设，第1虚拟线与第2虚拟线在配设了被测量电流路径(CB)的配设位置(PP)正交，以配设位置为中心而呈点对称的多组磁电变换元件的灵敏度轴的朝向分别平行或者反平行，第1以及第2磁电变换元件群内的相邻的磁电变换元件之间的间隔即元件间隔(DA1)窄于第1磁电变换元件群与第2磁电变换元件群之间的最窄间隔即群间隔(DG1)。【专利说明】 电流传感器
本专利技术涉及检测在被测量电流路径中流动的电流的电流传感器，尤其涉及使用磁电变换元件来检测在被测量电流路径中流动的电流的电流传感器。
技术介绍
为了控制或监视各种电子设备，熟知安装于被测量电流路径并检测在被测量电流路径中流动的电流的电流传感器。作为这种电流传感器，公知使用了霍尔元件或磁阻元件等磁电变换元件的电流传感器，为了提高磁电变换元件的灵敏度或降低来自外部磁场的影响等，公知使用了多个元件的电流传感器。 以往，如图17所示，提出形成了用于夹入未图示的被测量电流路径的凹状的缺口的电流传感器900 (参照专利文献I)。图17是简要地示出了专利文献I所记载的电流传感器900的构造的立体图。图17所示的电流传感器900由形成了用于夹入被测量电流路径的凹状的缺口部911的壳体920、配置于壳体920内且具有缺口部921的基板910、和配置于缺口部911的附近且输出与由于导体中流动的电流而产生的磁场的强度相应的电信号的磁电变换元件(这里是指霍尔元件)930、931构成。由此，认为能提供小型且组装性卓越的电流传感器900。 此外，已知以保持电线的电线保持部为中心而使4个磁阻抗元件对置配置的电流传感器(参照专利文献2)。在该电流传感器中，在由凸部以及凹部构成的壳体部的卡合部分形成有成为电线保持部的圆弧状的开口部，在壳体部的凹部侧，于该开口部的周围4个磁阻抗元件被对置配置成在周向上成为均等间隔。 进而，相对于上述的专利文献I以及2所记载的现有技术，为了进一步提高测量精度，而考虑使用了更多磁电变换元件的电流传感器。图13是用于说明比较例所涉及的电流传感器的俯视图。图13A表示在环绕被测量电流路径CB的位置处配设了 8个磁电变换元件C15的比较例I所涉及的电流传感器，图13B表示在环绕被测量电流路径CB的位置处配设了 6个磁电变换元件C25的比较例2所涉及的电流传感器。另外，为了易于说明，除了被测量电流路径CB、邻近电流路径CN以及磁电变换元件C15、C25以外的部件，都进行了省略。 如图13所示，比较例所涉及的电流传感器中，多个磁电变换元件C15、C25在俯视的情况下配设在以被测量电流路径CB的中心为中心点的圆周上，并且相邻的磁电变换元件C15、C25彼此之间的角度分别以相等的角度配置。也就是说，在图13A所示的比较例I的电流传感器中，磁电变换元件C15分别配置在正八边形的顶点位置，在图13B所示的比较例2的电流传感器中，磁电变换元件C25分别配置在正六边形的顶点位置。由此，通过合计磁电变换元件C15、C25的检测值，从而即便被测量电流路径CB的位置多少发生偏离，也难以降低测量精度。 在先技术文献 专利文献 专利文献1:日本特开2001-066327号公报 专利文献2:日本特开2000-258464号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题 然而，在上述的比较例1、比较例2所涉及的电流传感器中，必须使被测量电流路径CB通过磁电变换元件C15、C25之间而配设于圆周的中心位置，所以要按照被测量电流路径CB的尺寸来决定磁电变换元件C15、C25之间的元件间隔DC1、DC2。即，各磁电变换元件的配设位置会以被测量电流路径CB的配设位置为中心而自然而然地决定为正八边形或正六边形等的顶点位置，因此作为磁电变换元件的元件间隔需要确保被测量电流路径可通过的尺寸，故存在着无法再进一步减小电流传感器这一课题。进而，还存在着下述课题，即，因为使元件间隔DC1、DC2扩宽至被测量电流路径CB可进入的间隔，所以当存在相邻的其他邻近电流路径CN的情况下，会受到邻近电流路径CN所带来的外来磁场的影响，从而无法稳定地获得来自磁电变换元件C15、C25的检测值。 本专利技术正是为了解决上述课题，其目的在于提供能小型化且能稳定地获得检测值的电流传感器。 用于解决课题的手段 为了解决该课题，本专利技术的电流传感器，其特征在于，构成为:具有多个用于检测当在被测量电流路径中流动电流时产生的磁的磁电变换元件，并具备配置了多个所述磁电变换元件的布线基板，多个所述磁电变换元件包括由半数的所述磁电变换元件构成的第I磁电变换元件群、和由剩余半数的所述磁电变换元件构成的第2磁电变换元件群，在所述布线基板设有插通且配设所述被测量电流路径的切口，所述第I磁电变换元件群和所述第2磁电变换元件群夹着所述切口而配设，所述第I磁电变换元件群和所述第2磁电变换元件群相对于第I虚拟线而线对称地配设，所述第I磁电变换元件群内的所述磁电变换元件相对于第2虚拟线呈线对称地配设，所述第2磁电变换元件群内的所述磁电变换元件相对于所述第2虚拟线呈线对称地配设，所述第I虚拟线与所述第2虚拟线在配设了所述被测量电流路径的配设位置处正交，以所述被测量电流路径的所述配设位置为中心而呈点对称的多组所述磁电变换元件的灵敏度轴的朝向分别平行或者反平行，所述第I磁电变换元件群内以及所述第2磁电变换元件群内的相邻的所述磁电变换元件之间的间隔即元件间隔窄于所述第I磁电变换元件群与所述第2磁电变换元件群之间的最窄间隔即群间隔。 根据该构成，因为在具有插通且配设被测量电流路径的切口的布线基板，第I磁电变换元件群和第2磁电变换元件群夹着切口而相对于第I虚拟线呈线对称地配设，所以较之于磁电变换元件在圆周上以等间隔配设的情况，虽是插通且配设被测量电流路径的磁电变换元件的配置，但却能减小磁电变换元件的配设空间。而且，因为第I磁电变换元件群内以及第2磁电变换元件群内的相邻的磁电变换元件之间的元件间隔窄于第I磁电变换元件群与第2磁电变换元件群之间的群间隔，所以较之于磁电变换元件在圆周上以等间隔配设的情况，相对于配设于相邻的位置处的其他电流路径，能够缩窄与相邻的磁电变换元件之间的元件间隔。因而，能够降低来自配设于相邻的位置处的其他电流路径的外来磁场的影响，能够降低外来磁场带给磁电变换元件的影响。因此，既能确保插通且配设被测量电流路径的空间，又能使电流传感器小型化，且能稳定地获得来自磁电变换元件的检测值。 本专利技术的电流传感器，其特征在于，具备:布线基板；和多个磁电变换元件，设置于所述布线基板，且用于检测由于流经被测量电流路径的电流而产生的磁，多个所述磁电变换元件构成第I磁电变换元件群以及第2磁电变换元件群，所述第I磁电变换元件群以及第2磁电变换元件群由相同个数本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电流传感器，其特征在于，构成为：具有多个用于检测当在被测量电流路径中流动电流时产生的磁的磁电变换元件，并具备配置了多个所述磁电变换元件的布线基板，多个所述磁电变换元件包括由半数的所述磁电变换元件构成的第1磁电变换元件群、和由剩余半数的所述磁电变换元件构成的第2磁电变换元件群，在所述布线基板设有插通且配设所述被测量电流路径的切口，所述第1磁电变换元件群和所述第2磁电变换元件群夹着所述切口而配设，所述第1磁电变换元件群和所述第2磁电变换元件群相对于第1虚拟线呈线对称地配设，所述第1磁电变换元件群内的所述磁电变换元件相对于第2虚拟线呈线对称地配设，所述第2磁电变换元件群内的所述磁电变换元件相对于所述第2虚拟线呈线对称地配设，所述第1虚拟线与所述第2虚拟线在配设了所述被测量电流路径的配设位置处正交，以所述被测量电流路径的所述配设位置为中心而呈点对称的多组所述磁电变换元件的灵敏度轴的朝向分别平行或者反平行，元件间隔窄于群间隔，所述元件间隔是指所述第1磁电变换元件群内以及所述第2磁电变换元件群内的相邻的所述磁电变换元件之间的间隔，所述群间隔是指所述第1磁电变换元件群与所述第2磁电变换元件群之间的最窄间隔。...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：福井洋文，
申请(专利权)人：阿尔卑斯绿色器件株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。