【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，首先将实物基准装卡在多位姿测量机的转台上固定好；将实物基准和转台调到同心位置，利用多位姿测量机的传感器对实物基准进行分层扫描；在扫描的同时测量实物基准的标准圆柱面4和标准圆锥面5，然后计算出每个截面的末端坐标，从而得到多位姿测量机末端的坐标。本专利技术利用装卡在多位姿测量机的转台上的实物基准及转台的调心功能，与多位姿测量机的传感器对实物基准进行分层扫描相结合，通过测量软件计算出坐标值，即得到多位姿测量机末端的坐标值，实现了多位姿测量机的末端坐标定位；该方法同时具有结构简单，成本低，使用简单等特点。【专利说明】
本专利技术属于机械制造、检测
，具体涉及一种基于实物基准的多位姿测量 机末端的坐标识别方法。
技术介绍
对于现在的复杂轮廓的测量过程中，要测量的经常是被测件的全部轮廓，通过一 种姿态完成复杂曲面工件的整体测量是困难的。通常需对待测工件实现多位姿测量，以有 利的角度或者方向获取工件不同方位的表面信息。为保证测量数据的合理性及完备性，需 要把不同基准下的两片或多片数据点云变换到同一基准下，利用激光跟踪仪可以实现...
【技术保护点】
一种基于实物基准的多位姿测量机末端的坐标识别方法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1，首先将实物基准装卡在多位姿测量机的转台上，固定好；步骤2，将实物基准和转台调到同心位置；步骤3，利用多位姿测量机的传感器对实物基准进行分层扫描；步骤4，在扫描的同时测量实物基准的标准圆柱面4和标准圆锥面5，然后通过公式计算出每个截面的末端坐标，从而得到多位姿测量机末端的坐标(x,y,z)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：邵伟，刘冲，乐静，杨宇祥，吴莹，
申请(专利权)人：西安理工大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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