一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路制造技术

本发明专利技术公开一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路，包括复位电路、自定时振荡环和计数模块，所述复位电路由两个触发器和一个二输入或门构成；所述自定时振荡环由m个二输入密勒单元和反相器以及一个二输入与门构成，其中m是大于等于3的正整数；所述计数模块由n个带复位端的触发器串联构成，其中n是大于等于3的正整数。本发明专利技术提供了一个可以用来检测制造完成的集成电路芯片所处的工艺角的电路，该电路通过自定时振荡环的振荡次数来反映芯片所处的工艺角。在芯片流片前先通过仿真得出自定时振荡环在不同工艺角下的振荡次数，在流片后就可以根据实测的振荡次数来判断芯片处于何工艺角。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路，包括复位电路、自定时振荡环和计数模块，所述复位电路由两个触发器和一个二输入或门构成；所述自定时振荡环由m个二输入密勒单元和反相器以及一个二输入与门构成，其中m是大于等于3的正整数；所述计数模块由n个带复位端的触发器串联构成，其中n是大于等于3的正整数。本专利技术提供了一个可以用来检测制造完成的集成电路芯片所处的工艺角的电路，该电路通过自定时振荡环的振荡次数来反映芯片所处的工艺角。在芯片流片前先通过仿真得出自定时振荡环在不同工艺角下的振荡次数，在流片后就可以根据实测的振荡次数来判断芯片处于何工艺角。【专利说明】-种基于自定时振荡环的工艺角检测电路
本专利技术涉及一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路，所有电路元件都可由M0S 晶体管构成，用于检测制造完成的集成电路芯片所处的工艺角，属于集成电路设计领域。
技术介绍
保证电路的"时序安全"电路中时序路径的时延变化不引起同步失效是确保电路 可靠工作的基本条件之一。然而，随着制造工艺持续向纳米尺度推进，工艺、电压、温度（Pr ocess-Voltage-本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于自定时振荡环的工艺角检测电路，包括复位电路（1）、自定时振荡环（2）和计数模块（3），其特征在于：所述复位电路（1）由两个触发器DR1、DR2、一个二输入或门OR1、一个二输入或非门NOR1和一个二输入与非门NAND1构成；触发器DR1的数据输入端连接系统时钟的八分频信号CLK8，时钟端连接系统时钟CLK，数据输出端输出信号为CLK8_1，连接触发器DR2的数据输入端，其反相数据输出端的输出信号为CLK8_1n；触发器DR2的时钟端连接系统时钟CLK，数据输出端输出信号为CLK8_2，连接二输入或门OR1的一个输入端；二输入或门OR1的另一个输入端连接系统时钟的八分频信号CLK8；二输...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：单伟伟，田朝轩，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32