一种液晶模组的阻抗测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种液晶模组的阻抗测量装置，该装置包括，待测模组端口；与所述待测模组接口串联连接的标准电阻器端口；电流源，与所述待测模组接口和所述电阻器串联连接；电压计；通道切换电路，用于将所述电压计连接到所述待测模组接口或所述标准电阻器端口上；以及控制电路，与所述通道切换电路连接控制电压计的切换并根据所述待测模组的电压以及标准电阻器电压确定所述待测模组的电阻值。本发明专利技术所述技术方案可以实现对LCD模组的多通道自动测量；可同时测试LCD模组的COG和FOG之间的结点阻抗；精度较高(要求<0.1％)，且具有宽量程范围。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶模组的阻抗测量装置及方法
本专利技术涉及一种测量装置及方法，特别是涉及一种液晶模组的阻抗测量装置及方法。
技术介绍
玻璃上芯片封装技术(chip-on-glass，COG)和玻璃上可挠性电路板封装技术(FPC-on-glass，FOG)广泛应用于液晶模组中。在液晶模组检测过程中，需要对模组COG/FOG结合点的接触阻抗状况进行检测，并记录结合点接触阻抗的情况。然而，现有测量装置中，难以实现对多通道接触阻抗进行自动测量的方法。因此，需要提供一种液晶模组的阻抗测量装置及方法，既能保证较高的测量精度，有能对多通道阻抗进行自动测量。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种液晶模组的阻抗测量装置及方法，以解决现有继续中无法对模组多通道进行自动测量的问题。为解决上述技术问题，本专利技术采用下述技术方案；一种液晶模组的阻抗测量装置，包括：待测模组端口；与所述待测模组接口串联连接的标准电阻器端口；电流源，与所述待测模组接口和所述电阻器串联连接；电压计；通道切换电路，用于将所述电压计连接到所述待测模组接口或所述标准电阻器端口上；以及控制电路，与所述通道切换电路连接控制电压计的切换并根据所述待测模组的电压以及标准电阻器电压确定所述待测模组的电阻值。优选的，该装置进一步包括连接在所述通道切换电路和所述控制电路之间的模数转换电路。优选的，该装置进一步包括可编程的电流源选择电路，连接在所述控制电路和所述电流源连接之间。优选的，所述通道切换电路是可编程模拟开关。优选的，该装置进一步包括连接所所述通道切换电路和所述模数转换电路之间的信号放大电路。优选的，所述待测模组端口是FOG模组端口、COG模组端口或并联连接的FOG和COG模组端口。优选的，该装置进一步包括电流计，用于分别测量流过标准电阻器和待测模组的电流值，所述控制电路根据标准电阻器和待测模组的电流值对所确定的待测模组电阻值进行校正。优选的，所述标准电阻器和所述待测模组端口上的电阻测量以四线测量法接线。一种液晶模组的阻抗测量方法，利用上所述液晶模组阻抗测量装置，该方法包括：选择电流源量程并施加电流；测量标准电阻器上的电压值和电流值；测量待测模组上的电压值和电流值；根据所述标准电阻器上的电压值和待测模组的电压值以及标准电阻器的电阻值，计算待测模组的电阻值。优选的，进一步包括，比较标准电阻器的电流值和待测模组的电流值；如果不同，则根据该不同对所述计算得到的待测模组电阻值进行补偿。本专利技术的有益效果如下：本专利技术所述技术方案可以实现对LCD摸组的多通道自动测量；可同时测试LCD模组的COG和FOG之间的结点阻抗；精度较高(要求<0.1％)，且具有宽量程范围。附图说明下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的说明；图1示出本专利技术所述一种液晶模组的阻抗测量装置的示意图；图2示出本专利技术所述一种液晶模组的阻抗测量方法的示意图。具体实施方式下面结合一组实施例及附图对本专利技术做进一步描述。本专利技术公开了一种液晶模组的阻抗测量装置，包括：待测模组端口，所述待测模组端口是FOG模组端口、COG模组端口或并联连接的FOG和COG模组端口；与所述待测模组接口串联连接的标准电阻器端口；电流源，与所述待测模组接口和所述电阻器串联连接；电压计；通道切换电路，用于将所述电压计连接到所述待测模组接口或所述标准电阻器端口上，所述通道切换电路为可编程模拟开关；以及控制电路，与所述通道切换电路连接控制电压计的切换并根据所述待测模组的电压以及标准电阻器电压确定所述待测模组的电阻值。该装置进一步包括连接在所述通道切换电路和所述控制电路之间的模数转换电路；可编程的电流源选择电路，连接在所述控制电路和所述电流源连接之间；该装置进一步包括连接所所述通道切换电路和所述模数转换电路之间的信号放大电路；电流计，用于分别测量流过标准电阻器和待测模组的电流值，所述控制电路根据标准电阻器和待测模组的电流值对所确定的待测模组电阻值进行校正。本专利技术所述标准电阻器和所述待测模组端口上的电阻测量采用四线测量法接线。本专利技术可通过控制电路预测待测电阻的阻值，通过电流源选择电路选取合适的电流，同时，选取合适的量程对待测阻抗进行测量，该装置的误差小于0.1％。本专利技术进一步公开了一种利用上所述液晶模组阻抗测量装置的液晶模组的阻抗测量方法，该方法包括：选择电流源量程并施加电流S1；测量标准电阻器上的电压值和电流值S2；测量待测模组上的电压值和电流值S3；根据所述标准电阻器上的电压值和待测模组的电压值以及标准电阻器的电阻值，计算待测模组的电阻值S4。该方法进一步包括，比较标准电阻器的电流值和待测模组的电流值；如果不同，则根据该不同对所述计算得到的待测模组电阻值进行补偿。本专利技术工作过程：首先，根据待测模组及标准电阻器选取电流源的量程，并施加电流，然后，通过控制电路发出控制指令，将可编程模拟开关切换至标准电阻器上，并联通电流计和电压计，测量标准电阻器上的电压值和电流值，再将可编程模拟开关切换至待测模组上，并联通电流计和电压计，测量待测模组上的电压值和电流值，将测得的待测模组和标准电阻器上的电压值和电流值经过信号放大电路和模数转换电路后，送入控制电路，控制电路根据所述标准电阻器上的电压值和待测模组的电压值以及标准电阻器的电阻值，计算待测模组的电阻值。综上所述，本专利技术所述技术方案可以实现对LCD摸组的多通道自动测量；可同时测试LCD模组的COG和FOG之间的结点阻抗；精度较高(误差<0.1％)，且具有宽量程范围。显然，本专利技术的上述实施例仅仅是为清楚地说明本专利技术所作的举例，而并非是对本专利技术的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本专利技术的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本专利技术的保护范围之列。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶模组的阻抗测量装置，其特征在于，该装置包括：待测模组端口；与所述待测模组接口串联连接的标准电阻器端口；电流源，与所述待测模组接口和所述电阻器串联连接；电压计；通道切换电路，用于将所述电压计连接到所述待测模组接口或所述标准电阻器端口上；以及控制电路，与所述通道切换电路连接控制电压计的切换并根据所述待测模组的电压以及标准电阻器电压确定所述待测模组的电阻值。

【技术特征摘要】
1.一种液晶模组的阻抗测量装置，其特征在于，该装置包括：待测模组端口，所述待测模组端口是FOG模组端口、COG模组端口或并联连接的FOG和COG模组端口；与所述待测模组接口串联连接的标准电阻器端口；电流源，与所述待测模组接口和所述电阻器串联连接；电压计；电流计，用于分别测量流过标准电阻器和待测模组的电流值，所述控制电路根据标准电阻器和待测模组的电流值对所确定的待测模组电阻值进行校正；通道切换电路，用于将所述电压计连接到所述待测模组接口或所述标准电阻器端口上；以及控制电路，与所述通道切换电路连接控制电压计的切换并根据所述待测模组的电压以及标准电阻器电压确定所述待测模组的电阻值。2.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，该装置进一步包括连接在所述通道切换电路和所述控制电路之间的模数转换电路。3.如权利要求1所述的阻抗测量装置，其特征在于，该装置进一步包括可编程的电流源选择...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈文源，倪建强，
申请(专利权)人：苏州华兴源创电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32