多芯线电缆端子压接质量精密检测装置与检测方法制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
多芯线电缆端子压接质量精密检测装置与检测方法
本专利技术涉及一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置与检测方法。
技术介绍
目前，国内已有的电缆端子压接质量主要依据压接头的压力大小进行控制，通过检测压力判断端子压接质量。对于大电流电力电缆端子压接质量检测，则采用光学成像技术分析压接后的端子与线接合部的断面图像进行人工分析判断。这些质量检测方法适合于1～4芯粗线径的电缆端子压接质量进行检测。而对于8～128芯的数字通信电缆端子压接质量的检测，采用压力检测、断面图像检测实行起来效率非常低，且由于数字通信电缆中线径很细(0.4mm或0.5mm)，压力检测和断面图像检测误差较大。为此，针对用量较多的32芯0.4mm线径的数字通信电缆端子压接质量问题，进行分析研究，设计开发了一种多芯线电缆端子压接质量精密检测仪器。根据国家汽车行业标准《QC/T29106-2004汽车低压电线束技术条件》规定端子压接部位电压降指标：电压降≦3mV(导线截面积0.5mm2，试验电流5A)、≦5mV(导线截面积0.75mm2，试验电流10A)和≦8mV(导线截面积1.0mm2，试验电流15A)等7种情况，可以估算出通信电缆端子压接部位电压降应≦2mV(导线截面积0.125mm2，线径0.4mm，试验电流0.2A)，相当于压接电阻≦1.5mΩ。国家军用标准《GJB1216-91电连接器接触件总规范》中规定，A型镀银铜导线的接触电压降≦54mV(28线规号线径0.376mm，试验电流1.5A)，相当于接触电阻≦36mΩ。线径0.4mm的铜导线的电阻理论计算值为139.33mΩ/m。由于铜材纯度...
【技术保护点】
一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置，其特征是，包括：检测速度控制电路，所述检测速度控制电路与检测时序控制电路连接，所述检测时序控制电路与开路错位检测电路连接，所述开路错位检测电路与故障判断告警电路连接；所述检测时序控制电路还与取样比较放大电路连接，所述取样比较放大电路与A/D模数转换电路连接，所述A/D模数转换电路分别与存储/计数控制电路和CPU处理单元连接，所述存储/计数控制电路分别与CPU处理单元和液晶显示模块连接，所述CPU处理单元和液晶显示模块连接。
【技术特征摘要】
1.一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置，其特征是，包括：检测速度控制电路，所述检测速度控制电路与检测时序控制电路连接，所述检测时序控制电路与开路错位检测电路连接，所述开路错位检测电路与故障判断告警电路连接；所述检测时序控制电路还与取样比较放大电路连接，所述取样比较放大电路与A/D模数转换电路连接，所述A/D模数转换电路分别与存储/计数控制电路和CPU处理单元连接，所述存储/计数控制电路分别与CPU处理单元和液晶显示模块连接，所述CPU处理单元和液晶显示模块连接；所述开路错位检测电路包括：恒流源Is，所述恒流源Is的一端与电源Vc连接，所述恒流源Is的另外一端通过滑动变阻器R1与32条芯线连接，所述32条芯线的每一条与滑动变阻器R1连接的芯线上均依次设有电阻Rci和发光二极管Dci，所述发光二极管Dci的正极与电阻Rci连接,所述发光二极管Dci的负极均通过依次连接的与门IC1i和发光二极管Doi与电阻R2的一端连接，所述电阻R2的另外一端与故障判断告警电路中三极管T2的基极T2b端连接在一起，以控制三极管T2导通或截止，所述发光二极管Doi的正极与与门IC1i的输出端连接，所述与门IC1i的两个输入端分别与D触发器IC30i的输出端Qi和发光二极管Dci的负极连接，其中，i＝1,2,……,32；检测时，被检测电缆一端的压接端子插入电缆插座Connecter-A中形成牢固连接。2.如权利要求1所述的一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置，其特征是，所述检测时序控制电路包括：检测时，被检测电缆另一端的压接端子插入电缆插座Connecter-B中形成牢固连接，电缆32条芯线中的每一个芯线通过三极管TBi和D触发器IC30i连接，D触发器IC301与的输入端1D与与非门IC21的输出端连接,所述与非门IC21的输入端T1e与故障判断告警电路中三极管T1的发射极T1e连接，所述三极管TBi的基极通过电阻Rbi与D触发器IC30i的输出端连接，所述三极管TBi的基极还通过电阻Rbi与二极管Dbi的正极连接，二极管Dbi的负极与故障判断告警电路中三极管T1的基极T1b连接，所述三极管TBi的集电极通过电缆插座Connecter-B与电缆的每一个芯线连接，所述三极管TBi的发射极通过电阻Rei与地连接；第32个三极管TB32的集电极还通过电阻R3与发光二极管D1的负极连接，发光二极管D1的正极连接电源Vcc；所述D触发器IC301的输出端和D触发器IC302输入端1D连接，32个D触发器的非输出端连在一起，32个D触发器的脉冲控制端CP连接在一起与检测速度控制电路中555电路IC7的输出端CP连接。3.如权利要求1所述的一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置，其特征是，所述故障判断告警电路包括：三极管T1、三极管T2、三极管T3，电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，电容C1、电容C2，蜂鸣器HA，与非门IC22、与非门IC23、与非门IC24；所述三极管T1的基极T1b与检测时序控制电路中二极管Dbi的负极T1b连接，所述三极管T1的发射极T1e与检测时序控制电路中与非门IC21的输入端T1e连接，所述三极管T1的集电极与电源Vcc连接，所述三极管T1的发射极T1e还通过电阻R7接地；三极管T2的基极T2b端通过电容C2接地，三极管T2的基极T2b端还与开路错位检测电路中电阻R2的T2b端连接；三极管T2的集电极连接电源Vcc；三极管T2的发射极通过电阻R6接地；电阻R5的第一端分别接三极管T2的发射极和与非门IC22的两个输入端；电阻R5的另外一端连接三极管T3的基极；蜂鸣器HA的一端连接电源Vcc；蜂鸣器HA的另外一端连接三极管T3的集电极，三极管T3的发射极接地；电阻R4的一端接电源Vcc，电阻R4的另一端通过电容C1接地；所述与非门IC22的两个输入端并联后与三极管T2的发射极连接，与非门IC22的输出端与与非门IC23的一个输入端连接，与非门IC23的另一个输入端和与非门IC24的输出端连接，与非门IC23的输出端和与非门IC24的一个输入端连接，与非门IC24的另一输入端分别和电阻R4、电容C1连接；与非门IC24的输出端RD与检测速度控制电路中555电路IC7的RD连接。4.如权利要求1所述的一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置，其特征是，所述取样比较放大电路包括：32个运算放大器IC200-IC231，每个运算放大器的同相输入端分别通过电阻RA0-RA31按顺序对应连接到开路错位检测电路中电缆插座Connecter-A的A1-A32端，每个运算放大器的反相输入端分别通过电阻RB0-RB31按顺序对应连接到检测时序控制电路中电缆插座Connecter-B的B1-B32端，每个运算放大器的输出端分别通过电容C10-C131接地，每个运算放大器的输出端还分别通过电阻Rf0-Rf31与自身的反向输入端连接，所述运算放大器的同相输入端还分别通过电阻R10-R131接地；运算放大器IC200-IC207的输出端V0-V7分别与A/D模数转换电路中模数转换芯片IC2的V0-V7端口连接，运算放大器IC208-IC215的输出端V8-V15分别与A/D模数转换电路中模数转换芯片IC2的V0-V7端口连接，运算放大器IC216-IC223的输出端V16-V23分别与A/D模数转换电路中模数转换芯片IC2的V0-V7端口连接，运算放大器IC224-IC231的输出端V24-V31分别与A/D模数转换电路中模数转换芯片IC2的V0-V7端口连接。5.如权利要求1所述的一种多芯线电缆端子压接质量精密检测装置，其特征是，所述A/D模数转换电路与所述CPU处理单元包括：模数转换芯片IC2、单片机芯片IC3、非门IC4、与非门IC5及与非门IC6；所述单片机芯片IC3的P1.0端分别和与非门IC5的一个输入端及与非门IC6的一个输入端连接，单片机芯片IC3的P1.0端还与检测速度控制电路中555电路IC7的输出端CP连接，与非门IC5的另一个输入端分别与模数转换芯片IC2的START端和ALE端连接，与非门IC5的输出端与单片机芯片IC3的端连接，与非门IC6的另一个输入端与单片机芯片IC3的端连接，与非门IC6输出端与模数转换芯片IC2的OUT端连接，模数转换芯片IC2的EOC端和非门IC4的输入端连接，非门IC4的输出端与单片机芯片IC3的端连接；所述单片机芯片IC3的XTAL1端分别与电容C5的一端和晶体振子X的一端连接，单片机芯片IC3的XTAL2端分别与电容C4的一端和晶体振子X的另一端连接，电容C4的另一端和电容C5的另一端相连并接地；单片机芯片IC3的P1.7端与电阻R8的一端连接，所述电阻R8的另外一端通过电容C3接电源VCC，所述电阻R8的另外一端还接地，单片机芯片IC3的端通过电阻R9接电源VCC，单片机芯片IC3的VCC端接电源VCC，单片机芯片IC3的GND端接地，单片机芯片IC3的端与存储/计数控制电路中锁存器IC9的ALE端连接；所述模数转换芯片IC2的VCC和VREF...
【专利技术属性】
技术研发人员：鲁凤莲，丛迎九，吴希杰，王亚盛，
申请(专利权)人：威海职业学院，王亚盛，
类型：发明
国别省市：山东;37
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